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charged particle emissionとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 荷電粒子放出
「charged particle emission」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 35件
CHARGED PARTICLE BEAM EMISSION APPARATUS AND CHARGED PARTICLE BEAM EMISSION METHOD例文帳に追加
荷電粒子ビーム出射装置及び荷電粒子ビーム出射方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION SYSTEM AND CHARGED PARTICLE BEAM EMISSION METHOD例文帳に追加
荷電粒子ビーム照射システムおよび荷電粒子ビーム出射方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION SYSTEM AND CHARGED PARTICLE BEAM EMISSION METHOD例文帳に追加
荷電粒子ビーム照射システム及び荷電粒子ビーム出射方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE EMISSION DEVICE AND ION ENGINE例文帳に追加
荷電粒子放出装置およびイオンエンジン - 特許庁
MATERIAL EVALUATION METHOD AND DEVICE BY CHARGED PARTICLE EMISSION DETECTION例文帳に追加
荷電粒子放出検出による材料評価方法および装置 - 特許庁
To provide a charged particle beam irradiation system and a charged particle beam emission method capable of preventing erroneous irradiation of charged particle beams in an advancing direction of the charged particle beams.例文帳に追加
荷電粒子ビームの進行方向において荷電粒子ビームの誤照射を防止できる荷電粒子ビーム照射システム及び荷電粒子ビーム出射方法を提供することにある。 - 特許庁
BEAM EMISSION CONTROL METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM ACCELERATOR, AND PARTICLE BEAM IRRADIATION SYSTEM USING CHARGED BEAM ACCELERATOR例文帳に追加
荷電粒子ビーム加速器のビーム出射制御方法及び荷電粒子ビーム加速器を用いた粒子ビーム照射システム - 特許庁
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「charged particle emission」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 35件
To provide an electrically-charged particle apparatus and its method using the electrically-charged particle emitter with a discontinuous emission pattern.例文帳に追加
不連続的放出パターンを有する荷電粒子エミッタによる荷電粒子装置及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide a charged particle source capable of stably providing electron or ion emission.例文帳に追加
電子あるいはイオン放射が安定して得られる荷電粒子源を提供する。 - 特許庁
To provide a compact charged particle beam device capable of maintaining high vacuum even during emission of electron beams.例文帳に追加
電子ビームを放出中であっても高真空を維持可能な小型荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁
Preferably, a position of an electron emission mechanism is delimited using a charged particle track.例文帳に追加
好ましくは、荷電粒子トラックを用いて電子放出機構の位置を画定する。 - 特許庁
MANUFACTURE OF CHARGED PARTICLE EMITTING DEVICE AND MANUFACTURE OF FIELD EMISSION DISPLAY DEVICE例文帳に追加
荷電粒子放出装置の製造方法、及び電界放出型ディスプレイ装置の製造方法 - 特許庁
To provide a charged particle beam irradiation system capable of securing high safety and highly accurately performing irradiation with charged particle beams, and a charged particle beam emission method.例文帳に追加
本発明の目的は、高い安全性を確保して、高精度で荷電粒子ビームを照射できる荷電粒子ビーム照射システム及び荷電粒子ビーム出射方法を提供することにある。 - 特許庁
By charged particle beams which are emitted from respective charged particle emission points (a) to (j) of an emitter array 1, images of the respective charged particle emission points are formed on a wafer 14 by a magnetic tablet lens which is constituted of a first projection lens 3 and a second projection lens 5.例文帳に追加
エミッターアレイ1の各荷電粒子放出点a〜jより放出された荷電粒子線は、第1投影レンズ3、第2投影レンズ5で構成される磁気ダブレットレンズにより、各荷電粒子放出点の像をウェハー14上に結像する。 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF FIELD EMISSION ELECTRON GUN, FIELD EMISSION ELECTRON GUN BY THE SAME, REGENERATION METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND FIELD EMISSION ELECTRON GUN, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND FIELD EMISSION ELECTRON GUN BY THE SAME, AND MULTIPLY-DIVIDED EMITTER ELECTRODE例文帳に追加
電界放出型電子銃の製造方法、その製造方法による電界放出型電子銃、荷電粒子ビーム装置、電界放出型電子銃の再生方法、その再生方法による電界放出型電子銃、荷電粒子ビーム装置、および複数分割エミッタ電極 - 特許庁
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