computed azimuth angleとは 意味・読み方・使い方

Namely, an azimuth is found as to a straight line connecting the position coordinate of a reflecting point and the azimuth indication driving section, an attack angle and a rotation angle are computed regarding a radiating azimuth of a laser beam, and data is sent so as to drive an attack angle drive and a rotation angle drive by the computed attack angle and rotation angle (132, 134).例文帳に追加

すなわち、反射点の位置座標と、方位指示駆動部とを結ぶ直線の方位を求め、レーザ光の射出方位についての仰角と旋回角を求め、求めた仰角と旋回角だけ、仰角駆動装置と旋回角駆動装置が駆動するようにデータを送出する（１３２、１３４）。 - 特許庁

Then the azimuth angle and elevation angle of the orientation from the device position to the facility position (arrival direction of the selected television broadcast wave) is computed, and a radio wave arrival direction indication image including an arrow indicating the azimuth angle and a number indicating the elevation angle is generated and displayed on a display screen (S160 to S180).例文帳に追加

そして、装置位置から設備位置に向かう方向（選択されたテレビ放送波の到来方向）の方位角及び仰角を算出し、その方位角を示す矢印及び仰角を示す数字が示された電波到来方向指示画像を作成し、表示画面に表示する（Ｓ１６０〜Ｓ１８０）。 - 特許庁

This tomographic image forming apparatus, especially in an X-ray computed tomograph, is provided with two imaging systems mutually rotating around a rotation center D on a common rotation axis 9 at a fixed azimuth angle interval.例文帳に追加

断層画像形成装置、特にＸ線コンピュータ断層像撮影装置は、共通な回転軸線９上の回転中心Ｄの周りを一定の方位角間隔で互いに回転できる２つの撮像システムを有する。 - 特許庁

The height and the horizontal distance from the position C of the screen center are computed on the basis of the distance r from the origin O of the measuring position to the projectile (50); an angle of elevation ψ of relative height; and a relative azimuth θ.例文帳に追加

その画面中心位置Ｃからの高さと水平距離は、測定位置原点Ｏから飛翔体(50)までの距離ｒと、相対高さ仰角ψと、相対方位θから演算する。 - 特許庁

An estimated width value W of the target is computed on the basis of the expression, W=D-2RtanA (wherein, the actual width of the target is D, the distance to the target is R, and a step width of azimuth angle scanning is A).例文帳に追加

実際の物標の幅をＤ、物標との距離をＲ、方位角度の走査のステップ幅をＡとするとき、式Ｗ＝Ｄ−２ＲｔａｎＡにより物標の幅の推定値Ｗを算出する。 - 特許庁

The polarization (α)(an angle (α) from s-polarized light) of light irradiated to a sample of an object of defect detection is computed by substituting conditions of circuit patterns of the sample and an azimuth angle and an angle of incidence of irradiation light into a prescribed formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁