cross-sectional observationとは 意味・読み方・使い方

To provide a cross-sectional processing observation apparatus which can efficiently and continuously carry out execution of a cross-sectional processing and observation by a focused ion beam device that does not include SEM device.例文帳に追加

ＳＥＭ装置を有しない集束イオンビーム装置により断面加工観察を効率よく連続実施が可能な断面加工観察装置の提供。 - 特許庁

To provide a method for producing a sample piece for cross-sectional observation required in cross-sectional observation of a sample for the purpose of stably fixing the sample within a container in which a filler like an embedding resin is injected.例文帳に追加

試料の断面観察をする際に要する断面観察用試料片の作製方法において、包埋樹脂のような充填剤を注入する容器内に試料を安定に固定することのできる作製方法を提供すること。 - 特許庁

Since polishing and cross-sectional observation by the SEM can be conducted without removing the sample 11 from the observing block 2, cross-sectional observation can be conducted free of inclinations of the observing surfaces even for a plurality of observing surfaces.例文帳に追加

試料１１を観察用ブロック２から外すことなく研磨とＳＥＭによる断面観察が行えるので、観察面が複数ある場合においても観察面が傾くことなく断面観察が行うことが出来る。 - 特許庁

To provide a method for producing a sample piece for cross-sectional observation for observing the cross section of a sample by placing the focus on the desired region of the sample.例文帳に追加

試料の所望の領域に焦点をあてて断面観察することが可能となる断面観察用試料片の作製方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a favorable observation for a cross-sectional image of an echo data for an operator at a three-dimensional space in an ultrasonic diagnostic device.例文帳に追加

超音波診断装置において、三次元空間でのエコーデータの断面画像を操作者の観察に好適なものとする。 - 特許庁

To facilitate observation in the depth direction of a structure vertical to a lumen inner wall by developed images / cross-sectional images.例文帳に追加

展開画像／断面画像による管腔内壁に垂直な構造物の奥行き方向の観察を容易にする。 - 特許庁

To achieve a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer which is to become a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a trace sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without having to breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方角からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁