「cross-sectional observation」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To perform cross-sectional processing observation which enables observing a cross-section of an observation object structure, including a sample having a periodic structure.例文帳に追加

周期構造を有する試料でも観察対象の構造の断面を観察可能な断面加工観察を図ること。 - 特許庁

A control part 60 obtains the cross sectional shape of the observation light on the basis of the detected result of the observation light by the imaging device 56a, and moves the optical system in the horizontal direction by controlling the drive unit 5 so as to turn the cross sectional shape to a prescribed reference cross sectional shape.例文帳に追加

制御部６０は、撮像素子５６ａによる観察光の検出結果に基づいて観察光の断面形状を求め、この断面形状が所定の基準断面形状になるように、駆動装置５を制御して光学系を水平方向に移動させる。 - 特許庁

To provide a cross-sectional processing observation apparatus which can efficiently and continuously carry out execution of a cross-sectional processing and observation by a focused ion beam device that does not include SEM device.例文帳に追加

ＳＥＭ装置を有しない集束イオンビーム装置により断面加工観察を効率よく連続実施が可能な断面加工観察装置の提供。 - 特許庁

To provide a method for producing a sample piece for cross-sectional observation required in cross-sectional observation of a sample for the purpose of stably fixing the sample within a container in which a filler like an embedding resin is injected.例文帳に追加

試料の断面観察をする際に要する断面観察用試料片の作製方法において、包埋樹脂のような充填剤を注入する容器内に試料を安定に固定することのできる作製方法を提供すること。 - 特許庁

Since polishing and cross-sectional observation by the SEM can be conducted without removing the sample 11 from the observing block 2, cross-sectional observation can be conducted free of inclinations of the observing surfaces even for a plurality of observing surfaces.例文帳に追加

試料１１を観察用ブロック２から外すことなく研磨とＳＥＭによる断面観察が行えるので、観察面が複数ある場合においても観察面が傾くことなく断面観察が行うことが出来る。 - 特許庁

To provide a method for producing a sample piece for cross-sectional observation for observing the cross section of a sample by placing the focus on the desired region of the sample.例文帳に追加

試料の所望の領域に焦点をあてて断面観察することが可能となる断面観察用試料片の作製方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a favorable observation for a cross-sectional image of an echo data for an operator at a three-dimensional space in an ultrasonic diagnostic device.例文帳に追加

超音波診断装置において、三次元空間でのエコーデータの断面画像を操作者の観察に好適なものとする。 - 特許庁

To facilitate observation in the depth direction of a structure vertical to a lumen inner wall by developed images / cross-sectional images.例文帳に追加

展開画像／断面画像による管腔内壁に垂直な構造物の奥行き方向の観察を容易にする。 - 特許庁

To achieve a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer which is to become a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a trace sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without having to breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方角からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer to be a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a micro testpiece processing and an observation device wherein cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a micro testpiece processing and observation device in which cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a minute sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

At the time of cross-sectional polishing for the through hole 1, the dummy through holes 2 and 3 are used in the positioning for specifying an optimal cross-sectional position, and an observation cross-section 14 can be formed to include the central axis position of the through hole 1.例文帳に追加

スルーホール１に対する断面研磨では、ダミースルーホール２，３が最適断面個所を特定するための位置決めに使用されることによって、スルーホール１の中心軸線位置を含むように観察断面１４が形成できる。 - 特許庁

To provide a method for preparing a cross-sectional observation sample of a film of a cosmetic, which facilitates preparation of the cross-sectional observation sample of the film of the cosmetic containing a liquid and a solid with different hardness, a method for evaluating the cross-section, and a method for formulating and preparing the cosmetic from the evaluation results.例文帳に追加

液体と固体を含有し、硬さが異なる材料からなる化粧料の膜の断面観察用試料を簡単に調製することが可能な、化粧料の膜の断面観察用試料の調製方法、該断面の評価方法及び該評価結果から化粧料を処方設計し作成する方法を提供すること。 - 特許庁

A processing method includes a step of pressing a processing member 3 onto the workpiece along a longitudinal direction thereof, while rotating the rod-like processing member 3 about a longitudinal axis thereof in one direction to cut-off or process the workpiece, thereby forming the cross sectional surface for cross sectional surface observation in the workpiece.例文帳に追加

加工方法は、棒状の加工部材３をその長手軸周りに一方向に回転させながら、加工部材３をその長手方向に沿って加工対象物に押し付けることによって、加工対象物を切断又は加工することで、加工対象物に断面観察用の断面を形成する工程を有する。 - 特許庁

A plurality of cross-sectional images are generated with intervals smaller than a convergence angle in making a binocular stereoscopic view in order to make an observation with a binocular stereoscopic view by using three-dimensional voxel data A expressing the internal structure of an object, and two or more pairs of the cross-sectional images with the intervals corresponding to the convergence angle are prepared from the generated plurality of cross-sectional images.例文帳に追加

被写体の内部構造を表す３次元ボクセルデータＡを用いて両眼立体視で観察するために、両眼立体視する際の輻輳角より小さい間隔で複数の断面画像を生成し、生成した複数の断面画像より輻輳角に応じた間隔の断面画像の対を複数作成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device evaluation method capable of easily manufacturing a cross-sectional observation substrate by specifying faulty parts, and to provide a semiconductor device evaluation device.例文帳に追加

不良箇所を正確に特定し、容易に断面観察用基板を作製することのできる半導体デバイス評価方法及び半導体デバイス評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for making cross-sectional observation samples by mirror polishing the samples with ion beam, the method shortening the time needed to obtain polished areas sufficient for analysis in the case of a plurality of samples.例文帳に追加

イオンビームを用いて試料を鏡面研磨する断面観察試料の作製方法であって、複数の試料について、分析に充分な研磨面積を得るために要する時間が短縮された方法を提供する。 - 特許庁

To easily extract viewpoints along an observation object and to easily display a cross-sectional image cut on a curved surface passed through a route connecting the respective viewpoints.例文帳に追加

簡便に観察対象に沿った視点を抽出することができ、各視点を結ぶ経路を通る曲面で切断した断面像を容易に表示することができるようにする。 - 特許庁

After division, viewpoint candidates in the observation object are defined, a curved surface, on which the group of viewpoints selected out of the viewpoint candidates is passed, is set as a cutting surface and the cross-sectional image cutting a 3 dimensional source image 9 on that cutting surface is constituted.例文帳に追加

分割後、観察対象内部の視点候補を定義し、視点候補から選択された視点群が通る曲面を切断面として設定し、その切断面によって三次元原画像９を切断した断面像を構成する。 - 特許庁

To provide a polishing jig for physical analysis preventing a sample having a plurality of cross-sectional observing surfaces from producing inclinations on the observing surfaces even after repeated polishing and observation.例文帳に追加

複数箇所の断面観察面を有する試料を、研磨と観察を繰り返しても観察面に傾きを生じない物理解析用研磨冶具を提供する。 - 特許庁

To provide a printed wiring board having through holes for interconnecting respective wiring layers on a substrate in which accurate cross- sectional polishing is ensured even if positional shift takes place in a through hole made as an observation sample.例文帳に追加

基板の各配線層間で導通をとるために形成されたスルーホールを備え、観察用サンプルとして加工されるスルーホールに位置ずれが生じた場合でも正確な断面研磨を可能にするプリント配線板を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive apparatus for observation of anterior ocular segment to measure the curvature radius of the front and rear surfaces of a cornea and a crystalline lens in an eye to be examined by analyzing an optical cross-sectional image.例文帳に追加

光学切断面画像を解析して被検眼の角膜及び水晶体の前後面の曲率半径を計測する安価な前眼部観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for processing and observing a microscopic sample and a method for processing and observing the same, whereby the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross-section can be performed with high resolution, high precision and high throughput from various directions from horizontality to verticality without breaking a wafer used as a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for observing the processing of a minute sample where the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction can be performed with a high resolution, high precision and high throughput, without breaking a wafer being the sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

This method of preparing a cross-sectional specimen for microscopic observation is characterized in that a specimen is not embedded in resin, etc. but directly fixed to a specimen arm when cutting off the specimen by using ultramicrotome, the specimen is cut off with a knife boat not filled with liquid such as water, and a cross section formed on the specimen block side by the cutting is used for microscopic observation.例文帳に追加

ウルトラミクロトームを用いて試料を切断する際、試料を樹脂等に包埋せず直接試料アームに固定し、ナイフボートには水等の液体を満たさない状態で前記試料を切断し、この切断によって形成された試料ブロック側の断面を顕微鏡観察に用いることを特徴とする顕微鏡観察用断面試料の作成方法。 - 特許庁

A fundus oculi observation system 1 can obtain the 2-dimensional image (the fundus oculi image Ef') of the surface of a fundus oculi Ef and a tomographic image Gi having a cross-sectional position in a measurement region of the fundus oculi Ef corresponding to a partial region of the fundus oculi image Ef'.例文帳に追加

眼底観察装置１は、眼底Ｅｆの表面の２次元画像（眼底画像Ｅｆ′）と、この眼底画像Ｅｆ′の部分領域に相当する眼底Ｅｆの計測領域に断面位置を有する断層画像Ｇｉとを取得可能な装置である。 - 特許庁

To provide a three cross sectional image display apparatus for enabling efficient observation of a three-dimensional distribution of the images between a plurality of positions of interest when there are the plurality of positions of interest (abnormal shadow candidates) in three-dimensional medical image data.例文帳に追加

３次元医用画像データに複数の注目位置（異常陰影候補）が存在する場合に、それら複数の注目位置間の画像の３次元的な分布を効率的に観察することができる３断面画像表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method for producing the sample piece for cross-sectional observation includes the step (A) for housing the sample in the container, the step (B) for fixing the sample to the container by a fixing member, the step (C) for injecting the filler in the container, and the step (D) for cutting the obtained sample and the filler.例文帳に追加

本発明の断面観察用試料片の作製方法は、試料を容器に収容する工程（Ａ）、該試料を固定部材によって該容器に固定する工程（Ｂ）、該容器に充填剤を注入する工程（Ｃ）、および得られた試料と充填剤とを切削する工程（Ｄ）を含むことを特徴とする。 - 特許庁

A mask of a several micron-several hundred micron unit is applied to the edge part of the mask for prescribing an ion irradiation region and an ion non-irradiation region and the positional relation of the mask, and the sample is confirmed, on the basis of the mark to facilitate the observation due to an optical microscope to manufacture a cross-sectional sample high in positional precision of about several microns.例文帳に追加

イオン照射領域とイオン非照射領域を規定するマスクのエッジ部に数ミクロンから数百ミクロン単位のマークを付けることにより、このマークに注目してマスクと試料の位置関係を確認して光学顕微鏡での観察を容易にし、数ミクロン程度の位置精度の高い断面試料を作製することを特徴としている。 - 特許庁

Also, in the observation of the cross-sectional structure, the dimensions of (Fe, Cr)-based carbides formed in the Fe-based phase are ≤5 μm.例文帳に追加

すなわち、該Ｆｅ系刃物用合金は、主成分としてのＦｅと、４〜１３質量％のＣｒと、０．４〜０．６５質量％のＣとを含有し、Ｆｅ系主相の９０体積％以上がマルテンサイト相であり、かつ、断面組織を観察したときに、該Ｆｅ系相中に形成されている（Ｆｅ，Ｃｒ）系炭化物の寸法が５μｍ以下となっている。 - 特許庁

The method for making cross-sectional observation samples includes covering a top of a work piece with a shield plate, and etching an unshielded part with ion beam irradiation to form a mirror polished part, in which the work piece includes two samples, and ion beam-irradiated portions of the two samples are placed in contact with or close to each other and arranged perpendicularly to or in parallel with the irradiation direction of the ion beam.例文帳に追加

被加工物の上部を遮蔽板で覆い、非遮蔽部をイオンビーム照射によりエッチングして鏡面研磨部を形成する断面観察試料の作製方法であって、前記被加工物が、２個の試料よりなり、前記２個の試料のイオンビーム照射される部分が、互いに密着又は近接して配置されており、かつ、イオンビームの照射方向に直交する方向、又は、イオンビームの照射方向に平行な方向に並べられていることを特徴とする断面観察試料の作製方法。 - 特許庁