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意味・対訳 電子ビームプローブ

JST科学技術用語日英対訳辞書での「electron beam probe」の意味

electron beam probe


「electron beam probe」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 53



例文

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び電子線プローブマイクロアナライザー - 特許庁

ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYTICAL METHOD, AND ANALYZER THEREFOR例文帳に追加

電子線プローブマイクロX線分析方法、及びその装置 - 特許庁

OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYSIS METHOD, PROGRAM USED THEREIN, AND OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYZER例文帳に追加

斜出射電子線プローブマイクロX線分析方法およびそれに用いられるプログラム、並びに、斜出射電子線プローブマイクロX線分析装置 - 特許庁

The electron-beam graphics drawing apparatus comprises a probe wherein an electromotive force is induced by a magnetic field generated by the electron beam, an arithmetic unit for obtaining the position of the electron beam from the electromotive force induced in the probe, and a control unit for controlling the deflection of the electron beam based on the obtained position of the electron beam.例文帳に追加

本発明は、電子ビームが発生する磁場により起電力を誘起する測定子と、前記測定子が誘起した起電力より前記電子ビームの位置を求める演算装置と、求めた前記電子ビームの位置に基づいて前記電子ビームの偏向を制御する制御装置とを備えたものである。 - 特許庁

PROCESSING METHOD USING FOCUSED ION BEAM, NANOTUBE PROBE, MICROSCOPE DEVICE, AND ELECTRON GUN例文帳に追加

集束イオンビームを用いた加工方法、ナノチューブプローブ、顕微鏡装置、及び電子銃 - 特許庁

SHARPENED DIAMOND NEEDLE, CANTILEVER USING THE SAME FOR SCANNING-PROBE MICROSCOPE, PHOTOMASK-CORRECTING PROBE, AND ELECTRON BEAM SOURCE例文帳に追加

先鋭化針状ダイヤモンド、およびそれを用いた走査プローブ顕微鏡用カンチレバー、フォトマスク修正用プローブ、電子線源 - 特許庁

例文

To provide a scanning probe microscope provided with a mean measuring a dose of particle beam such as electron beam and ion beam.例文帳に追加

電子ビームやイオンビーム等の粒子線の粒子線量を測定する手段を備えた走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

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「electron beam probe」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 53



例文

Moreover, the apparatus is equipped with functions such as an electron probe controlling function, an electron beam alignment function, the CT function and the element analysis function.例文帳に追加

更に、電子プローブ制御機能、電子線軸合わせ機能、CT機能、元素分析機能などの機能を搭載する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING FOREIGN MATTER BY OBLIQUE EMISSION ELECTRON BEAM PROBE MICRO-X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

斜出射電子線プローブマイクロX線分析による異物の分析方法およびその装置 - 特許庁

A probe and a voltage source to be applied to a semiconductor element are used additionally in a microscope using an electron beam.例文帳に追加

電子線を用いた顕微鏡にプローブと半導体素子に印加する電圧源を追加する。 - 特許庁

To provide an electron beam device, capable of suppressing contamination of a differential exhaust throttle regardless of the magnitude of probe current.例文帳に追加

プローブ電流の大小に拘わらず、差動排気絞りの汚染を抑止できる電子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam device capable of suppressing contamination of a differential exhaust throttle regardless of the magnitude of a probe current.例文帳に追加

プローブ電流の大小に拘わらず、差動排気絞りの汚染を抑止できる電子線装置を提供する。 - 特許庁

The specimen hybridized on the probe on a chip is traced by an electron beam of a scanning electromicroscope to be detected.例文帳に追加

チップ上のプローブにハイブリダイズした試料を走査型電子顕微鏡の電子線でトレースして検出する。 - 特許庁

This surface analyzer is provided with a cantilever having a conductive probe opposed to a sample, an electron beam source for emitting an electron beam to a probe portion of the cantilever, and a spectrometer for collecting a charged particle generated from the sample by the X-ray generated from the probe, and for dispersing it spectrally, and the electron beam is emitted toward a probe opposite face of the cantilever.例文帳に追加

試料に対向する導電性探針を有するカンチレバーと、前記カンチレバーの前記探針部分に電子線を照射する電子線源と、前記探針から発生したX線により前記試料から発生した荷電粒子を捕集して分光する分光器を備えた表面分析装置であって、前記電子線が前記カンチレバーの探針反対面に照射する表面分析装置。 - 特許庁

例文

To provide a probe for an electron source capable of emitting an electron beam even if a voltage to be applied is a low voltage, and capable of emitting an electron beam having uniform energy, high directivity, and high focusing ability.例文帳に追加

印加する電圧が低電圧であっても電子ビームを放出することができ、エネルギーが揃った、指向性と集束性の高い電子ビームを放出することが可能な電子源用探針を提供する。 - 特許庁

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