| 意味 | 例文 (11件) |
electron beam test methodとは 意味・読み方・使い方
追加できません
(登録数上限)
単語を追加
「electron beam test method」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 11件
ELECTRON BEAM APPLICATION DEVICE AND TEST PIECE INSPECTION METHOD例文帳に追加
電子線応用装置および試料検査方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM TYPE PATTERN INSPECTION DEVICE, AND METHOD FOR SETTING INSPECTION CONDITION OF TEST PIECE例文帳に追加
電子線式パターン検査装置、及び、試料の検査条件の設定方法 - 特許庁
To provide an electron beam lithography apparatus or lithographing method capable of discriminating during lithographing whether or not an electron beam is emitted onto a test piece, the electron beam lithography apparatus emitting an electron beam to the test piece to lithograph thereon a pattern circuit or the like.例文帳に追加
試料に電子線を照射してパターン回路等を描画する電子線描画装置において、電子線が試料に照射されているかどうかを描画中に判定できる電子線描画装置または描画方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an apparatus and a method, which evaluate a test piece exactly and quantitatively with an electron beam microscope.例文帳に追加
電子顕微鏡により試料を正確に定量評価する装置および方法を提供する。 - 特許庁
-
履歴機能
過去に調べた
単語を確認! -
語彙力診断
診断回数が
増える! -
マイ単語帳
便利な
学習機能付き! -
マイ例文帳
文章で
単語を理解! -
「electron beam test method」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 11件
PATTERN TEST DEVICE USING ELECTRON BEAM, AS WELL AS MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
電子ビームを用いたパターン検査装置、並びに、それを用いた半導体デバイス製造方法 - 特許庁
The electron beam plotting method plots a desired pattern on a test piece with an electron beam, wherein the plotting is performed by moving the test piece so as to plot the desired pattern relative to the electron beam.例文帳に追加
電子ビームによって試料に所望のパターンを描画する電子ビーム描画方法であって、前記試料を前記電子ビームに対して前記所望のパターンを描くように動かすことにより、前記描画を行なうことを特徴とする。 - 特許庁
To provide: a generation method of pattern data for electron beam drawing, which can draw an excellent minute pattern without using a trial-and-error method by test drawing, in drawing a minute pattern using an electron beam drawing device; a proximity effect correction method used for it; and a pattern formation method using the data.例文帳に追加
電子線描画装置を用いて極小なパターンを描画する際、テスト描画による試行錯誤無しに、良好な極小パターンが描画できる電子線描画用パターンデータの作成方法及びそれに用いる近接効果補正方法、そのデータを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁
To provide an electron beam tester capable of testing an electric component with a simple structure and accurately positioning it in a short time in measuring a voltage waveform, and a test method for it.例文帳に追加
簡易な構成で電気部品の試験を行うことのできる、また、電圧波形測定における位置決めを正確且つ短時間で行うことのできる電子ビームテスタ及び試験方法を提供する。 - 特許庁
|
| 意味 | 例文 (11件) |
|
|
ピン留めアイコンをクリックすると単語とその意味を画面の右側に残しておくことができます。 |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
検索履歴を保存できる！
みんなの検索ランキング
閲覧履歴
 | 「electron beam test method」のお隣キーワード |
electron beam test method
weblioのその他のサービス
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
