flying probeとは 意味・読み方・使い方

FLYING CHECKING CONTACT PROBE RETAINING STRUCTURE AND FLYING INSPECTION APPARATUS OF CIRCUIT BOARD例文帳に追加

フライング検査用コンタクトプローブ保持構造及び回路基板のフライング検査装置 - 特許庁

HIGH ALTITUDE COMPATIBLE WIDE SPEED RANGE FLYING SPEED VECTOR MEASUREMENT PROBE, AND MEASUREMENT SYSTEM例文帳に追加

高空域対応型の広速度域飛行速度ベクトル計測プローブと計測システム - 特許庁

To provide a contact probe holding structure for flying inspection for securing durability against contact to a plurality of inspection points and a highly reliable flying inspection device equipped with the contact probe holding structure for flying inspection.例文帳に追加

多数の検査ポイントへの接触に対する耐久性を確保することができるフライング検査用コンタクトプローブ保持構造、及び該フライング検査用コンタクトプローブ保持構造を備え信頼性が高いフライング検査装置を得る。 - 特許庁

To provide a sampling probe being hardly blocked up by tar and flying ash in sampling gas and preventing the tar and the flying ash in the sampling gas from transferring to a rear stage.例文帳に追加

サンプリングガス中のタールや飛灰等による閉塞が生じにくく、またサンプリングガス中のタールや飛灰等が後段に移行することがないサンプリングプローブを提供する。 - 特許庁

To provide a flying checking contact probe retaining structure, capable of ensuring durability against contact with a number of checking points and a high-reliability flying checking apparatus having the same.例文帳に追加

多数の検査ポイントへの接触に対する耐久性を確保することができるフライング検査用コンタクトプローブ保持構造、及び該フライング検査用コンタクトプローブ保持構造を備え信頼性が高いフライング検査装置を得る。 - 特許庁

The wiring testing machine 100 includes a producing machine 10 for test data, a package testing machine 20 forming with a test jig 21 using a spring probe and test jig 41 using a conductive rubber 42, a flying prober 30 using a probe 31 of the flying prober, and an object 50 to be tested composed of wiring substrates and others.例文帳に追加

本発明の布線検査機１００は、検査データ作製機１０と、スプリングプローブを使った検査治具２１と、導電ゴム４２を使った検査治具４１とで構成された一括検査機２０と、フライングプローバのプローブ３１を用いたフライングプローバ３０と、配線基板等からなる被検査体５０とで構成されている。 - 特許庁

When a false target generator 100 determines that the flying object M goes toward the tracking target, it changes the phase of the laser beam and makes the reticle type probe to be irradiated with the modulated laser beam.例文帳に追加

擬似目標発生装置１００は、飛しょう体Ｍが被追跡目標に向かって来るかを判定したとき、位相を変更して変調レーザー光をレティクル型探査機に照射する。 - 特許庁