foreign matters testとは 意味・読み方・使い方

Thus, an insulating film or the like between the foreign matter and the signal wiring is surely destroyed, and the detection accuracy of the foreign matters in the test process is improved.例文帳に追加

これにより、異物と信号配線との間の絶縁膜等をより確実に破壊でき、テスト工程における異物の検出精度を向上させることができる。 - 特許庁

To provide means for detecting foreign matters on a whole test lens by performing imaging once even when the test lens has a shape with a small curvature radius.例文帳に追加

被検レンズが曲率半径の小さい形状であっても、１回の撮像によって被検レンズの全体について異物の検出を可能とする手段を提供する。 - 特許庁

Alternatively, defects such as short circuits, continuity defects, short circuits caused by foreign matters, etc., are detected by forming test patterns having different circuit patterns.例文帳に追加

また、または異なる回路パターンを持ったテストパターンを形成してショート、導通不良、異物によるショートなどの欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an X-ray foreign matter inspection apparatus which is high in detection of foreign matters contained in a test object sealed in a container without being influenced by the container and is rapid.例文帳に追加

容器に密封された検査対象物に含まれた異物の検出を容器の影響を受けずに高い検出能力で、かつ高速で可能なＸ線異物検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor substrate having a semiconductor formed thereon or a semiconductor substrate is arranged on which a metallic film whose grain size is large, wherein a TEG (Test Element Group) for foreign matter detection, a foreign matter detection device, and a foreign matter detection method, for much more surely detecting any foreign matters are provided.例文帳に追加

半導体装置が形成されている半導体基板あるいはグレインサイズが大きい金属膜を有する半導体基板においてより確実に異物の検出を行うことができる異物検出用ＴＥＧ、異物検出装置及び異物検出方法を提供する。 - 特許庁

When not only a probe-mark is formed on an electrode pad for electrical conduction in performing the electrical characteristics test but also foreign matters are mixed, the probe-mark and foreign matters are separated by a series of treatments such as a binarization of the electrode pad image, a labeling treatment, a hole filling treatment and a histogram calculation.例文帳に追加

電気的特性検査をおこなった時の通電のために電極パッド上に形成される針痕だけでなくその他異物が混在している場合において、電極パッドの画像を２値化、ラベリング処理、穴埋め処理、ヒストグラム算出という一連の処理により針痕と異物とに分類する。 - 特許庁

To provide a cleaning sheet for substrate-treating devices apt to be easily damaged by foreign matters, such as production devices or test devices for semiconductors, flat panel displays, printed circuits, or the like, and to provide a method cleaning the devices.例文帳に追加

本発明は、例えば、半導体、フラットパネルディスプレイ、プリント基板などの製造装置や検査装置など、異物を嫌う基板処理装置のクリーニングシート及びクリーニング方法を提供する。 - 特許庁