interference spectroscopeとは 意味・読み方・使い方

The interference light detection means 40 has a spectroscopic means 42 as a spectroscope for spectrally separating the interference light L4.例文帳に追加

干渉光検出手段４０は干渉光Ｌ４を分光する分光器としての分光手段４２を有する。 - 特許庁

To reduce interference between adjacent shutter devices in a spectroscope with an optical shutter array.例文帳に追加

光シャッタアレイを用いた分光装置において、隣接する光シャッタ素子間の干渉を低減する。 - 特許庁

The interference light signal is received by a spectroscope 14, and a spectroscopic data is taken in a data processor 17.例文帳に追加

干渉光信号を分光器１４で受光し、その分光データをデータ処理装置１７に取り込む。 - 特許庁

To eliminate relative movement of an object to be measured by a mechanical drive mechanism, observation of interference fringes, and wavelength analysis by a spectroscope.例文帳に追加

機械的な駆動機構による被測定物の相対移動を必要とせず、しかも干渉縞の観察や分光器による波長分析も不要とする。 - 特許庁

To achieve a high resolution by high-precision interference, while miniaturizing an interferometer and a spectroscope compact, by adopting a structure enabling connection of rigid bodies 33 and 34 and leaf springs 31 and 32 without using an adhesive.例文帳に追加

接着剤を用いずに剛体３３・３４と板ばね３１・３２とを連結できる構成とすることにより、干渉計や分光器を小型化しながら高精度な干渉による高分解能を実現する。 - 特許庁

To perform the calibration of the wavelength scanning type light source of an optical tomographic imaging device such as a wavelength scanning type OCT or a Fourier domain OCT or the like, a monochrometor, a spectroscope, etc. without using a special machine material such as an oscilloscope, an interference filter or the like.例文帳に追加

波長走査型ＯＣＴやフーリエドメインＯＣＴ等の光断層画像化装置の波長走査型光源、モノクロメーター、分光器等の較正を、オシロスコープや干渉フィルター等の特殊機材を使用するすることなく行えるようにする。 - 特許庁

Since the position Xe of the moving mirror 15 corresponding to the interference strength measurement point is calculated by the extrapolation method, therefore, the position Xe of the moving mirror 15 corresponding to the interference strength measurement point is found without use of the coherent reference light source (e.g. a large He-Ne laser) even if the displacement of the moving mirror 15 is increased to achieve the high-resolution spectroscope 1.例文帳に追加

外挿法によって干渉強度測定点に対応する移動鏡１５の位置Ｘｅを算出するので、移動鏡１５の変位量を大きくして、高分解能の分光器１を実現する場合でも、干渉性の高い基準光源（例えば大型のＨｅ−Ｎｅレーザ）を用いることなく、干渉強度測定点に対応する移動鏡１５の位置Ｘｅを求めることができる。 - 特許庁