low bit testとは 意味・読み方・使い方

IC MEMORY DEVICE AND OPERATING METHOD THAT ARE CONFIGURED TO OUTPUT DATA BIT AT LOW TRANSFER RATE IN TEST MODE OF OPERATION例文帳に追加

テストモードにおいて低い転送速度でデータビットを出力するＩＣメモリ装置及びその動作方法 - 特許庁

To turn the value of the low-order bit of the compared result of a comparator to a reliable value at all times and to widen a test coverage.例文帳に追加

コンパレータの比較結果の下位ビットの値を常に信頼のある値として、テストカバレッジを広げることができる。 - 特許庁

Since the gradation of the test pattern displayed on the screen is changed by a transmission defect of each bit, the defect of the low-order bit and the defect of the high-order bit can be visually judged on the single screen.例文帳に追加

このとき、各ビットの送信不良によって、画面に表示されるテストパターンの階調は変化するため、一画面上で上位ビットの不良と、下位ビットの不良を視覚的に判断できる。 - 特許庁

To detect a defective bit of " non-writable defect" caused with very low probability in a short test time as much as possible.例文帳に追加

非常に低い確率で起こる“書けない不良”の不良ビットを、可及的に短い試験時間内で検出することを可能にする。 - 特許庁

This display panel driving device is constituted by providing a selector circuit between a holding circuit and a conversion circuit to substitute a value of low-order bit for a value of high-order bit in accordance with a test signal to be inputted into the selector circuit.例文帳に追加

保持回路と変換回路との間にセレクタ回路を設け、当該セレクタ回路に入力されるテスト信号に応じて、下位ビットのビット値を上位ビットのビット値に置換する表示パネル駆動装置。 - 特許庁

The inspecting device 17 displays respective patterns corresponding to gradations expressed by a high-order bit and the low-order bit of a video signal for a test pattern recorded in an inner memory 17a on the same screen.例文帳に追加

検査装置１７は、内部メモリ１７ａに記録されたテストーパターン用映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンと、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを同一画面上に表示する。 - 特許庁

To provide a testing method for an A/D converting circuit that conducts a test of a high-resolution (multi-bit) A/D converting circuit in a short time at a low cost, and the A/D converting circuit suitable to implementation of the testing method.例文帳に追加

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。 - 特許庁