mark scanningとは 意味・読み方・使い方

A shape to be filled in checking the mark column and the shape of deletion mark deleting the filled mark after the checking are defined as a mark which includes a segment having an inclination to a scanning direction and a mark formed, by adding a segment having an inclination in the scanning direction to the shape of the filled mark, respectively.例文帳に追加

マーク欄をチェックする際に書き込む記入マークの形状を、走査方向に対して傾きをもつ線分を含むマークと、チェック後に記入マークを取り消す取消マークの形状を、前記走査方向に対して傾きをもつ線分を前記記入マークの形状に付加したマークと定義する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a scanning tip and a mark of an SPM sensor.例文帳に追加

ＳＰＭセンサの走査尖端部及び目印の製造方法の提供。 - 特許庁

Since the scanning surface mark 50 which is provided on the probe head and the scanning surface mark which is provided on a probe connector have the same configuration, the corresponding relationship between the two parts can easily be recognized.例文帳に追加

プローブヘッドに設けられた走査面マーク５０とプローブコネクタに設けられた走査面マークとが同じ形態を有するため、両者の対応関係を容易に認識できる。 - 特許庁

Detected values of the mark sensor regarding the basic ground section and register mark of a packaging paper are entered for every fine designated-pitch scanning of the packaging paper when operating a packaging paper register mark detection system for adjusting its sensitivity.例文帳に追加

感度調整運転時に、包装紙の微小な所定ピッチ走行毎に包装紙の地部分とレジマークについてマークセンサーからの検出値が入力される。 - 特許庁

As a result, the alignment mark can be detected in an optical method and an electronic line scanning method.例文帳に追加

よって、光学式でも電子線走査方式でも、アライメントマークを検出することができる。 - 特許庁

Then, an inclination of a substrate with respect to a main scanning direction is obtained by obtaining a straight line passing through the obtained mark position of each alignment mark.例文帳に追加

そして、求められた各アライメントマークのマーク位置を通る直線を求めることによって、主走査方向に対する基板の傾きを求める。 - 特許庁

In this process, when a mark candidate line that is a main scanning line including a black pixel is detected, the number of continuous mark candidate lines is examined.例文帳に追加

この過程で、黒画素を含む主走査ラインである刻印候補ラインが検出されると、その刻印候補ラインの連続数Ｌが調べられる。 - 特許庁

Further, a probe mark indicating a probe may be made as one of marks and a shape of the probe mark may be deformed based on a scanning direction of the probe.例文帳に追加

なお、プローブを示すプローブマークをマークの一つとして作成し、プローブのスキャン方向に基づいてプローブマークの形状を変形するようにすることもできる。 - 特許庁