model test dataとは 意味・読み方・使い方

To easily acquire highly-accurate various operation data in a tunnel excavator model test method and a device.例文帳に追加

トンネル掘削機模型試験方法及び装置において、容易に高精度な各種の運転データを求める。 - 特許庁

The prediction model organizer 10 organizes a test result prediction model to be constituted as neural network through the use of the inputted data.例文帳に追加

予測モデル構築部１０は、入力されたデータを用いることによって、ニューラルネットワークとして構成されるテスト結果予測モデルを構築する。 - 特許庁

The framework determines the output result from a DUT or the DUT model to the prescribed test item executed based on the test plan program based on the test result data stored in the test result database.例文帳に追加

フレームワークは、テストプランプログラムに基づいて実行される所定のテスト項目に対するDUT又はＤＵＴモデルからの出力結果を、試験結果データベースに格納された試験結果データに基づいて決定する。 - 特許庁

The test emulation apparatus 190 emulates the testing device on the basis of a test control program stored in a system controller, a test program and test data, and conducts a simulated test on a DUT while using a simulation model 200 of the DUT.例文帳に追加

試験エミュレート装置１９０は、システム制御装置に格納された試験制御プログラム、試験プログラム及び試験データに基いて試験装置をエミュレートし、ＤＵＴのシミュレーションモデル２００を用いてＤＵＴの試験を擬似的に行う。 - 特許庁

This device has an extraction means which extract parameter data to be used for an analog test model from the test program, and an analog simulation means which performs simulation using an analog DUT model for simulation of operations of the analog circuit of the test object and an analog test model connected to the analog DUT model for simulation of operations of an analog test part to be used for the analog test of the tester.例文帳に追加

本装置は、テストプログラムからアナログ試験モデルに用いるパラメータデータを抽出する抽出手段と、被試験対象のアナログ回路の動作をシミュレーションするアナログＤＵＴモデル、このアナログＤＵＴモデルに接続し、テスタのアナログ試験に用いるアナログ試験部の動作をシミュレーションするアナログ試験モデルを用いて、シミュレーションを行うアナログシミュレーション手段とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

The likelihood of accuracy of a model is on the basis of observed normal operation data, test data, guidance operation data showing operation performance based on a stimulus signal and the like.例文帳に追加

モデルの正確さの尤度は、観測通常動作データや、試験データや、刺激信号に基づいて動作性能を示す誘導動作データなどに基づく。 - 特許庁

A logic operation model A102 recognizes a test data storing 101 of a byte format, prepared on the basis of test items by a parameter 103 defining an input output file name, fetches the test data string 101 in a data transmission part 104, converts the fetched test data string into waveform data and gives the wave form to object logic 105 to be verified as a signal value.例文帳に追加

論理動作モデルＡ１０２は、試験項目に基づいて作成したバイト形式のテストデータ列１０１を、入出力ファイル名称を定義したパラメータ１０３により認識してデータ送信部１０４に取り込み、取り込んだテストデータ列を波形データに変換し、被検証対象論理１０５に信号値として与える。 - 特許庁

A test result predictor 11 predicts the test result of a second semiconductor wafer, by inputting the electric characteristic data of a second finished wafer to the organized test result prediction model.例文帳に追加

テスト結果予測部１１は、構築されたテスト結果予測モデルに、第２の完成ウエハの電気的特性データを入力することによって、第２の半導体ウエハのテスト結果を予測する。 - 特許庁