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Wiktionary英語版での「a DUT or」の意味 |
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「a DUT or」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
This system for testing the plurality of integrated circuit(IC) devices (DUT) of testing objects is provided with an interface circuit coupled to a tester to receives a data value from a single channel or a plurality of channels so as to provide error information as to the DUT.例文帳に追加
テスト対象の複数の集積回路（IC）デバイス（DUT）をテストするためのシステムであって、このシステムは、単一チャンネルまたは複数チャンネルのテスターからデータ値を受け取って、DUTに関するエラー情報を提供するための、前記テスターに結合されたインターフェース回路を備える。 - 特許庁
The framework determines the output result from a DUT or the DUT model to the prescribed test item executed based on the test plan program based on the test result data stored in the test result database.例文帳に追加
フレームワークは、テストプランプログラムに基づいて実行される所定のテスト項目に対するDUT又はＤＵＴモデルからの出力結果を、試験結果データベースに格納された試験結果データに基づいて決定する。 - 特許庁
To calculate a proper connection plan between a DUT pin and an ATE pin by ascertaining accurately whether a connection target of the DUT pin is a high-speed ATE pin or a low-speed ATE pin.例文帳に追加
ＤＵＴピンの接続先を高速ＡＴＥピンにするのか低速ＡＴＥピンにするのかを正確に見極めて、ＤＵＴピンとＡＴＥピンとの適切な接続案を算出する。 - 特許庁
A comparison/decision circuit 106 compares the stationary power supply current of the DUT 102 thus operated with a preset decision reference level thus making a decision whether the DUT 102 is acceptable or not.例文帳に追加
その演算により求められたＤＵＴ１０２静止時電源電流値を比較／判定回路１０６にて、予め設定した判定基準値と比較し、良否を判定することができる。 - 特許庁
This DUT contactor 102 integrated with a DUT or a probe board 104 has a protruded metallization contact layer 406 on one side face of an layered printed circuit board 400.例文帳に追加
ＤＵＴ又はプローブボード１０４に一体化したＤＵＴコンタクタ１０２であって、このＤＵＴコンタクタ１０２は、積層プリント基板４００の片面上に、隆起したメタライゼーション接触層４０６を有する。 - 特許庁
In the failure analysis of the semiconductor device (DUT) 3, the inspection device counts the number of inputs of a pass signal or a fail signal of the semiconductor device (DUT) 3 in a user's specified period, and displays the pass rate or fail rate of the semiconductor device (DUT) 3 to the counting number of a test start signal Sts or test completion signal Ste.例文帳に追加
半導体デバイス（ＤＵＴ）３の故障解析では、ユーザの指定期間内で半導体デバイス（ＤＵＴ）３のパス信号或いはフェイル信号が何回入力されたかをカウントし、テスト開始信号Ｓｔｓ或いはテスト終了信号Ｓｔｅのカウント数に対する半導体デバイス（ＤＵＴ）３のパス率或いはフェイル率として表示する。 - 特許庁
The output power level of the DUT 10 is measured and input into a personal computer (PC) 14, the PC 14 provides a command value to the DUT 10 based on a measured value of the output power level to adjust the output power level, and the output power level of the DUT 10 is adjusted so as to become a target level or within a permissible range thereof.例文帳に追加
ＤＵＴ１０の出力パワーレベルを測定してパーソナルコンピュータ１４に入力し、パーソナルコンピュータ１４が出力パワーレベル測定値に基づいてＤＵＴ１０に指令値を与えて出力パワーレベルを調整し、ＤＵＴ１０の出力パワーレベルをターゲットレベル又はその許容範囲内に調整する。 - 特許庁
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「a DUT or」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
To provide a means for inspecting a module (DUT) to be tested, removed from a scan path for a chip test of ASIC, using a simple mechanism without using a special testing module or the like.例文帳に追加
ＡＳＩＣのチップ・テストのために、スキャン・パスから外れたＤＵＴを、特別なテスト・モヂュールなど無しに、簡単な機構で検査していく手段を実現すること。 - 特許庁
In this automatic testing device (ATE) 200 having a tester architecture classified by terminals provided with plural dispersed testing units 700 classified by the terminals, the each testing unit 700i issues a stimulation response signal to each DUT terminal di of a tested device (DUT) 600, and/or receives a stimulation signal from the each DUT terminal, to test the each DUT terminal.例文帳に追加
分散した複数の端子別試験ユニット（７００）を設けた端子別テスタアーキテクチャを持つ自動試験装置（ＡＴＥ）（２００）であって、各端子別試験ユニット（７００ｉ）が、被験デバイス（ＤＵＴ）（６００）のそれぞれのＤＵＴ端子（ｄｉ）へと刺激応答信号を発し、および／又は前記それぞれのＤＵＴ端子から刺激応答信号を受信することにより、前記それぞれのＤＵＴ端子を試験する。 - 特許庁
The sample table 121 comprising a first reference plane 122 allows the DUT 10 to be attached to or detached from the tool 120 such that neither friction arises nor the DUT 10 is moved after it is held by the clamp 130.例文帳に追加
試験サンプル台１２１は第一基準面１２２を有することにより、ＤＵＴ１０はクランプ１３０に挟まれた後に、摩擦が起きなく移動もしないように治具１２０から着脱することができる。 - 特許庁
To provide a measuring apparatus of DUT comprising a measuring unit in which sensitivity to mechanical noise, e.g. sound or vibration, is reduced.例文帳に追加
音や振動といった機械的なノイズに対する感受性を低減させた測定ユニットを含むＤＵＴの測定装置を提供すること。 - 特許庁
A shield unit (30, 40) receives the optical circuit (20) and provides at least a partial shield for the optical circuit (20) and/or the DUT (120) against mechanical noise.例文帳に追加
シールドユニット(30,40)は、光学回路(20)を受容し、機械的ノイズに対する光学回路(20)及び／又はＤＵＴ(120)の少なくとも部分的なシールドを提供する。 - 特許庁
A power supply compensation circuit 20 includes a switch element which is controlled according to a control signal S_CNT, injects a compensation pulse current I_CMP into the power supply terminals P1 of the plurality of DUT 1, and/or pulls the compensation pulse current I_CMP into a different path from the plurality of DUT 1.例文帳に追加
電源補償回路２０は、制御信号Ｓ_ＣＮＴに応じて制御されるスイッチ素子を含み、補償パルス電流Ｉ_ＣＭＰを複数のＤＵＴ１の電源端子Ｐ１に注入し、および／または補償パルス電流Ｉ_ＣＭＰを複数のＤＵＴ１とは別経路に引きこむ。 - 特許庁
To accurately perform testing at a high speed even when phase shift occurs in DUT due to temperature variation, power supply variation or the like.例文帳に追加
温度変動や電源変動等によりＤＵＴに位相ずれが生じたとしても、高速且つ正確に試験を行うことを目的とする。 - 特許庁
A test apparatus to be an object of calibration includes a socket board 32 with a plurality of connector pins Ps to which a DUT is fixed directly or indirectly during a period of testing.例文帳に追加
キャリブレーションの対称となる試験装置は、試験時においてＤＵＴが直接的または間接的に装着される複数のコネクタピンＰｓを有するソケットボード３２を備える。 - 特許庁
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