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probing needleとは 意味・読み方・使い方
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「probing needle」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 19件
A sensing region borders an edge of the probing region, and senses whether the probe needle contacts apart from the probing region.例文帳に追加
また、センシング領域は前記プローブ領域の端部位と接し、プローブ針が前記プローブ領域を離れて接触しているかをセンシングする。 - 特許庁
At the time of probing, the probe needle 9b is brought close to a pad 15 on a wafer 11 (a).例文帳に追加
プロービングを行う際には、プローブ針９ｂをウェハ１１上のパッド１５に接近させる（ａ）。 - 特許庁
When the probe needle 6 is deviated, the pinpoint of the probe needle 6 reaches the deviated-needle detection area 5 over the probing area 4, so that a voltage value measured by the deviated-needle measuring pad 3 is equal to a voltage value applied to the probing area 4.例文帳に追加
また、プローブ針６が針ずれを起こしているときには、プローブ針６の針先が、プロービングエリア４を越えて針ずれ検出エリア５へ達しているため、針ずれ測定用パッド３で測定される電圧値は、プロービングエリア４へ与えた電圧値と同値となる。 - 特許庁
The probe section 13 has a probing needle 13a extending from the free end, a foundation layer 14 made of Ta formed on a surface of the probing needle 13a and a cover layer 15 made of Ru applied on the foundation layer 14.例文帳に追加
探針部１３は、自由端から延びる探針１３ａと、探針１３ａの表面に形成されてＴａからなる下地層１４と、下地層１４に積層されてＲｕからなる被覆層１５とを有する。 - 特許庁
A bonding area as an area for wire bonding and a probing area as an area to which a probe needle is applied in probing are prepared for an external electrode pad, and an ESD protective element and its electric discharge route are arranged below the probing area.例文帳に追加
外部電極パッドに対して、ワイヤボンディング用のエリアであるボンディングエリアとプロービングにおいてプローブ針が当てられるエリアであるプロービングエリアとを設け、ＥＳＤ保護素子及びその放電経路をプロービングエリアの下方に配置する。 - 特許庁
When selecting electrical characteristics in a wafer, normality/defectiveness is decided by contacting a probing needle with the wafer probing test pads A1, A3, ..., An-1 and the bonding pads B2, B4, ..., Bn which are not paired with the probing test pads A1, A3, ..., An-1.例文帳に追加
ウェーハでの電気的特性選別時は、ウェーハプロービングテスト用パッドＡ１，Ａ３，……，Ａｎ−１と、プロービングテスト用パッドＡ１，Ａ３，……，Ａｎ−１の対とならないボンディングパッドＢ２，Ｂ４，……，Ｂｎとにプロービング針を接触させ良否判定を実施する。 - 特許庁
To improve probing property of a needle to a puncture starting point on the surface of a blood vessel when puncturing the blood vessel through a puncture route.例文帳に追加
穿刺ルートを通じて血管に穿刺する際の、血管表面の穿刺起点部に対する針の探り性を向上する。 - 特許庁
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「probing needle」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 19件
To reduce fluoroscopic noise, when a probing needle being used by a physician or a guide-type medical instrument for medical imaging is in action.例文帳に追加
医師が用いる探触針又はガイド形式の医療撮像用医療器具が運動している場合のフルオロスコピィ雑音を低減する。 - 特許庁
When the probe needle 6 is not deviated, the pinpoint of the probe needle 6 is kept staying in the probing area 4, so that a voltage value measured by the deviated-needle measuring pad 3 is equal to a voltage value applied from the voltage source 7.例文帳に追加
プローブ針６が針ずれを起こしていないときには、プローブ針６の針先がプロービングエリア４内に納まっているため、針ずれ測定用パッド３で測定される電圧値は電圧源７で印加している電圧値と同値となる。 - 特許庁
The semiconductor device is equipped with an inspection pad 2 and a deviated-needle measuring pad 3, and the inspection pad 2 is equipped with a probing area 4 where a voltage is applied from a voltage source 7 and a deviated-needle detection area 5 which detects the deviation of the probe needle.例文帳に追加
本発明の半導体装置は、検査用パッド２と針ずれ測定用パッド３を有し、検査用パッド２は電圧源７から電圧が印加されるプロービングエリア４とプローブ針のずれを検出する針ずれ検出エリア５を有する。 - 特許庁
To prevent damage to an interlayer dielectric and a final insulation film by lateral stress caused by a sideslip of the tip of a probing needle on a pad.例文帳に追加
パッド上でのプローブ針の先端の横滑りに起因する横方向の応力による層間絶縁膜や最終絶縁膜の損傷を防止する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and an inspection method of the semiconductor device which can prevent a needle deviation happening in the case of probing.例文帳に追加
本発明の目的は、プロービングの際に針ずれが起こるのを防ぐことのできる半導体装置および半導体装置の検査方法を提供することにある。 - 特許庁
To provide a probe card that facilitates the alignment of a probe needle to an inspected object and can be even in a probing device for a blade type or cantilever type probe card.例文帳に追加
被検査物に対するプローブ針の位置合わせが容易であり、ブレードタイプやカンチレバータイプのプローブカード用のプロービング装置でも使用できるプローブカードを提供する。 - 特許庁
Thus, the pad of each of chips to be examined of the specimen 1 can be exactly aligned and contacted to a probe needle 6 of a probe card 7 in probing.例文帳に追加
これにより、プロービング時に、被検体１の各被検査チップのパッドを、プローブカード７のプローブ針６に対して正確に位置合わせして接触させることができるようになる。 - 特許庁
An LSI chip 2 can be inspected via wiring on a dicing line 4 from an LSI test chip 3 to an LSI chip 2 by probing an LSI test chip 3 by using a probing needle 103 of an LSI tester 101 and by using the LSI tester 101.例文帳に追加
ＬＳＩテスタ１０１をＬＳＩテスト用チップ３にプロービング針１０３でプロービングすることにより、そのＬＳＩテスタ１０１により、ＬＳＩテスト用チップ３から、ＬＳＩチップ２との間に結線されたダイシングライン４上の配線を通じて、ＬＳＩチップ２を検査することを可能にする。 - 特許庁
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