pulse response testとは 意味・読み方・使い方

When the test signal is detected by the test signal detection circuit 8, a one-shot pulse is sent from the one-shot pulse generation circuit 9 as a response signal.例文帳に追加

検査信号検出回路８により検査信号が検出されたときワンショットパルス発生回路９からワンショットパルスが応答信号として送出される。 - 特許庁

The printer 12 receives the test data stream of the response pulse width selected at present, and compares the received test data stream with the predetermined test data stream.例文帳に追加

プリンタ１２は、現在選択されている応答パルス幅でテストデータ列を受信し、受信したテストデータ列を予め定めたテストデータ列と比較する。 - 特許庁

The response pulse width is gradually reduced until the result of the comparison is no longer in agreement, and the new test data stream is repeatedly received from the host 11.例文帳に追加

プリンタ１２は比較結果が不一致となるまで、応答パルス幅を逐次縮小していき、ホスト１１から新たなテストデータ列の受信を繰り返す。 - 特許庁

To enhance a thin-film transistor array substrate in test efficiency by a method wherein test patterns are checked to screen out defective chips before a drive circuit and pixel transistors are tested through a pulse response method.例文帳に追加

パルス応答法を用いて駆動回路及び画素トランジスタの検査を行う前に、テストパターンの検査を行って不良品チップのスクリーニングを行い、検査効率を向上することを目的とする。 - 特許庁

Replica output buffers 120, 121 having the same input output characteristic as that of an output buffer 180 respond to a leading of a TEST signal generated by a test pulse generating circuit 110, raises an output signal at a slew rate in response to a voltage of an SL_SET signal and falls down the output signal at a slew rate in response to a voltage of a CNT signal.例文帳に追加

出力バッファ１８０と同一の入出力特性を有するレプリカ出力バッファ１２０、１２１は、テストパルス生成回路１１０が生成したＴＥＳＴ信号の立ち上がりに応答し、ＳＬ＿ＳＥＴ信号の電圧に応じたスルーレートで出力信号を立ち上げ、ＣＮＴ信号の電圧に応じたスルーレートで出力信号を立ち下げる。 - 特許庁

The serial connection of a pair of MOS transistors 8 and 9 mutually inversely connecting sources and drains is provided parallel with a pull-down resistor 7, second pulse signal having an inverted waveform is extracted in a high speed test and the charges of a parasitic capacitor are sharply discharged through a pair of MOS transistors 8 and 9 to be turned on in response to the second pulse signal.例文帳に追加

ソースとドレインを互いに逆接続した一対のＭＯＳトランジスタ８，９の直列接続をプルダウン抵抗７と並列に設け、高速テスト時には反転波形を持つ第２のパルス信号を取り出し、第２のパルス信号に応答してオン動作する一対のＭＯＳトランジスタ８，９を通して寄生容量の電荷を急峻に放電させる。 - 特許庁

A method of measuring a device under test (DUT) 110 comprises a step of applying a pulsed RF input signal 124 to the DUT, and a step of connecting an output of the DUT to a receiver 104, having an output bandwidth selected to measure the center tone in an RF pulse response spectrum from the output 113 of the DUT.例文帳に追加

被試験デバイス（ＤＵＴ）１１０を測定する方法は、パルスドＲＦ入力信号１２４をＤＵＴに印加するステップと、ＤＵＴの出力１１３からのＲＦパルス応答スペクトル内の中央トーンを測定するべく選択されている出力帯域幅を具備したレシーバ１０４に、このＤＵＴの出力を接続するステップと、を含む。 - 特許庁