ray-trace methodとは 意味・読み方・使い方

METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING INCIDENCE DIRECTION OF γ RAY FROM TRACE IMAGE OF BOUNCING ELECTRON BY MSGC例文帳に追加

ＭＳＧＣによる反跳電子の軌跡映像からのγ線入射方向決定方法及びその装置 - 特許庁

In this structure analysis method of the trace element, the sample is irradiated with an X-ray, while changing X-ray energy, and a fluorescent X-ray emitted from the sample is detected, and information on an atomic structure of the trace element in the sample is analyzed from a relation between the X-ray energy and the fluorescent X-ray.例文帳に追加

Ｘ線エネルギーを変えながら試料にＸ線を照射し、試料から放出される蛍光Ｘ線を検出して、前記Ｘ線エネルギーと蛍光Ｘ線との関係から試料中の微量元素の原子構造に関する情報を解析する微量元素の構造解析方法である。 - 特許庁

A position of the radio station estimation means 5 of ray trace method estimates the position of the radio station by the ray trace method based on the arrival direction of the estimated radio wave, and the 3-D map data from altitude/map database 4 provided with the 3-D map data.例文帳に追加

レイトレース法無線局位置推定手段５は、推定された電波到来方向と、３次元地図データを有する標高・地図データベース４からの３次元地図データとに基づき、レイトレース法により無線局の位置を推定する。 - 特許庁

To provide a structure analysis method of a trace element capable of suppressing measurement inhibition of a fluorescent X-ray signal caused by generation of a strong diffraction X-ray at a specific angle from a sample, when performing structure analysis of the trace element included in a single crystal sample by utilizing a fluorescent XAFS method.例文帳に追加

蛍光ＸＡＦＳ法を利用して、単結晶の試料に含まれる微量元素の構造解析を行うのに際し、試料から特定角度に強い回折Ｘ線が生じることに伴い、蛍光Ｘ線信号の測定が阻害されることを抑制できる微量元素の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

By using this total reflection fluorescent X-ray analyzer and its method, a sample solution 70 is dripped onto and dried on the dried trace 41 on the drip substrate 15, to perform total reflection fluorescent X-ray analysis.例文帳に追加

この全反射蛍光Ｘ線分析用試料点滴基板１５の合成樹脂点滴乾燥痕４１に試料溶液７０を点滴乾燥させて全反射蛍光Ｘ線分析を行う全反射蛍光Ｘ線分析装置およびその方法。 - 特許庁

To provide a pretreatment method which enables measurement of light elements on a trace amount of powder samples of approximately a few tens of milligrams by X-ray fluorescence analyses, and easily recovering the samples after the analyses.例文帳に追加

数十ｍｇ程度の微量の粉体試料について蛍光Ｘ線分析で軽元素の測定ができ、かつ分析後に試料を容易に回収できる前処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for forming a thin film for a cathode-ray tube face panel capable of forming a uniform thin film without a defect failure of a phosphor screen and a trace of the flow of a remaining thin film formation solution.例文帳に追加

蛍光体スクリーンの欠点不良や薄膜形成液の流れ跡が残存することなく均一な特性の薄膜が形成できる陰極線管パネルの薄膜形成方法を提供する。 - 特許庁