sample irradiationとは 意味・読み方・使い方

METHOD OF SAMPLE MANUFACTURE AND TRANSMISSIVE IRRADIATION AS WELL AS PARTICLE OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

サンプルの製造及び透過性照射方法並びに粒子光学システム - 特許庁

This raster scan method for raster-scanning a sample storage part of the chip with a laser includes at least a matrix in the sample storage part, and determines an irradiation frequency in each laser irradiation position of the sample storage part of the chip, based on the signal intensity in each irradiation position in the sample storage part obtained by the laser irradiation onto the sample storage part.例文帳に追加

レーザーでチップの試料収容部をラスタースキャンするラスタースキャン方法であって、試料収容部には少なくともマトリクスが入っており、試料収容部へのレーザー照射によって得られた試料収容部における照射位置ごとの信号強度に基づいて、チップの試料収容部のレーザー照射位置ごとの照射回数を決定する。 - 特許庁

A sample arrangement part 15 in which the atmosphere of the sample surface 16a is held airtightly, constituted so that the sample 16 can be installed inside, and receiving laser light irradiation, is arranged on the laser light irradiation side of the laser light irradiation part.例文帳に追加

レーザ光照射部のレーザ光照射側には、内部に試料１６を設置可能に構成されてレーザ光照射を受ける試料表面１６ａの雰囲気が気密に保持された試料配置部１５が配置される。 - 特許庁

To accurately plot a pattern on a sample by correcting the irradiation position of electron beams which are irradiated on the sample.例文帳に追加

試料に照射される電子線の照射位置を補正することにより、精度よく試料にパターンを描画する。 - 特許庁

The evaluation sample containing the photosynthesis sample is irradiated with the first excitation light in the first irradiation condition, when the evaluation sample is evaluated.例文帳に追加

評価試料を評価する場合、まず、光合成サンプルを含む評価試料に第１の励起光を第１の照射条件で照射する。 - 特許庁

To prevent sample contamination in electron irradiation in an analytical electron microscope.例文帳に追加

分析電子顕微鏡において、電子線照射時の試料汚染を防止する。 - 特許庁

A sample mounting device comprises: a sample stage 40 which is arranged in a sample chamber 17, and on which a sample to be an irradiation target of electron beams is placed; and a sample transfer device 80 which is attached to the sample chamber 17, and which transfers the sample from outside through a port 21 formed on a wall surface of the sample chamber toward the sample stage 40.例文帳に追加

試料設置装置は、試料室１７内に配置され、電子ビームの照射対象となる試料が載置される試料ステージ４０と、試料室１７に取り付けられ試料室の壁面に形成されたポート２１から試料ステージ４０に向け外部から試料を移送する試料移送装置８０と、を備えている。 - 特許庁

An electron beam irradiation system with a different axial direction from an ion beam irradiation system are set up in the same sample room, and an observation is carried out with the electron beam irradiation system in the sample room under low-vacuum atmosphere.例文帳に追加

イオンビーム照射系と軸方向を異にした電子ビーム照射系を同一試料室内に設け、該試料室を低真空雰囲気にして該電子ビーム照射系で観察するようにした。 - 特許庁