shadow markとは 意味・読み方・使い方

The directions of astronomical objects at the moment are calculated and a shadow mark 50a calculated based on a position of the sun is shown as a direction indication mark in the daytime so as to show a direction of the orientation.例文帳に追加

現在時刻における天体物の方位を算出して、その方位の方向を指すように日中は太陽の位置から算出された日影マーク５０ａを方位指示マークとして表示する。 - 特許庁

At this time, the shadow components generated in the step portions of the marks included in the mark pictures of ±θ° are utilized to correct the measurement errors caused by the fact that the right and left of the sectional structure of the mark are asymmetric.例文帳に追加

この時、前記±θ度のマーク画像に含まれる、前記マーク段差部に生じる影の成分を利用して、前記マークの断面構造が左右非対称である事に起因する測定誤差を補正する。 - 特許庁

An abnormal shadow part is detected from radiographic image data acquired from a mammography apparatus 12, and the brightness of the mark image is set according to the radiographic image data by using a mark image data table so as to have a prescribed difference in brightness between the mark image added to the abnormal shadow part and nearby radiographic images.例文帳に追加

マンモグラフィ装置１２から取得した放射線画像データより異常陰影部位を検出し、前記異常陰影部位に付加するマーク画像の明るさが近傍の放射線画像と所定差となるよう、マーク画像データテーブルを用いて、マーク画像の明るさを前記放射線画像データに従って設定する。 - 特許庁

To perform alignment of a shadow mask and a transparent substrate by irradiating light of an appropriate wavelength corresponding to the thickness of the transparent electrode without providing a dedicated process to form an alignment mark on the transparent substrate.例文帳に追加

透明基板にアライメントマークを形成する専用工程を設けず、透明電極の厚さに対応した適切な波長の光を照射してシャドーマスクと透明基板とのアライメントを行う。 - 特許庁

In a process to make a patterning of a transparent electrode 12 on a transparent substrate 11, an alignment mark 13 used for positioning of a shadow mask 14 and the transparent substrate 11 on the transparent substrate 11 is formed of an identical material as the transparent electrode 12.例文帳に追加

透明基板11上に透明電極12をパターニングする工程において、透明基板11にシャドーマスク14と透明基板11との位置決めに使用するアライメントマーク13を透明電極12と同一の材料で形成する。 - 特許庁

By selecting the optical filter 17 of transmission wavelength corresponding to the thickness of the transparent electrode 12, light from the white light source is irradiated toward the alignment mark 13 through the optical filter 17, the alignment work of the shadow mask 14 and the transparent substrate 11 is carried out.例文帳に追加

透明電極12の厚さに対応する透過波長の光学フィルタ17を選択して、その光学フィルタ17を介してアライメントマーク13に向けて白色光源からの光を照射してシャドーマスク14と透明基板11とのアライメント作業を行う。 - 特許庁

As both the search marks and the direction indication marks are shown, a user can roughly figure out four points of the compass on the present position by overlapping the user's own shadow over the direction indication mark so that the user can find out the directions and distances to the destinations.例文帳に追加

探索マークと方位指示マークが表示されているので、この方位指示マークの方向に自分の影などを合わせることで、現在位置での東西南北の大凡の方位を把握できるから、どの方向にどれだけ進めば目的地に到達できるかを知ることができる。 - 特許庁