standard reference conditionsとは 意味・読み方・使い方

Hereby, mass spectrometry of both the ions of the unknown sample and the ions of the reference standard sample can be executed under the same conditions.例文帳に追加

これにより、未知試料のイオンと参照標準試料のイオンは同一条件で質量分離される。 - 特許庁

An image dividing portion 101 divides the standard image and the reference image into plural areas, according to division conditions set by a condition setting portion 102.例文帳に追加

画像分割部１０１は、条件設定部１０２によって設定される分割条件に従い、基準画像及び参照画像それぞれを複数の領域に分割する。 - 特許庁

An exposure mask to be inspected is used for carrying out pattern exposure to a reference chip under standard exposure conditions, the pattern exposure is carried out to a plurality of inspection chips by changing exposure conditions, and development treatment is made, thus manufacturing a first inspection wafer where the pattern with the same layout is formed in each chip (S1 to S2).例文帳に追加

検査を行う露光マスクを用いてリファレンスチップに対して標準の露光条件でパターン露光を行い、複数の検査チップに対して露光条件を変化させたパターン露光を行った後、現像処理を行うことで各チップに同一レイアウトのパターンを形成してなる第１検査ウエハを作製する（Ｓ１〜Ｓ２）。 - 特許庁

In a preferred embodiment, the liquid sample is tested for the presence of soluble constituent(s) by contacting a sample with a sensor array under specific conditions, removing unbound sample constituent(s), determining the mass increase on the surface and comparing the mass increase data with a reference standard using pattern recognition software.例文帳に追加

好ましい態様において、特殊な条件下で試料とセンサーアレイとを接触し、非結合性の試料成分を除去し、表面上の質量増加を決定し、パターン認識ソフトウェアを用いて前記質量増加データと参照用基準とを比較し、可溶性成分の存在に関して液体試料を測定する。 - 特許庁

The program and the size measurement apparatus determine a value by selecting an appropriate value to at least one of the standard deviation or variance of the size of a structure, a correlation distance, or a variable characterizing a deformation from a reference spectrum so that a spectrum acquired based on results obtained by measuring the size of the structure multiple times along a predetermined direction coincides a spectrum determined by calculation under the same conditions.例文帳に追加

上記目的を達成するために、構造物の寸法を所定の方向に沿って複数回測定した結果を元に得られたスペクトルと同測定条件の下で計算により求めたスペクトルとが合致するように寸法の標準偏差もしくは分散もしくは相関距離もしくは基本となるスペクトルからの変形を特徴付ける変数の内の少なくとも一つに対して適切な値を選択することによりその値を決定するプログラム、及び寸法測定装置を提案する。 - 特許庁