start-up inspectionとは 意味・読み方・使い方

To perform an offline appearance inspection via the image processing and to shorten the system start-up time.例文帳に追加

画像処理による外観検査をオフラインでシミュレーションし、システムの立上げ時間を短縮する。 - 特許庁

To speedily obtain stable start up of a plant which is easy of maintenance and inspection.例文帳に追加

保守・点検が容易であり、安定したプラント起動を速やかに実現すること。 - 特許庁

To prevent mix-up of inspection data, to prevent required inspection data from being subscribed and to prevent the start of an inspection from being forgotten by surely initializing a receiver at the time of starting the inspection.例文帳に追加

検査を開始する際に、受信装置の初期化を確実に行うことで、検査データの取り違え防止、必要な検査データの上書き防止および検査の開始忘れの防止を図ること。 - 特許庁

Thereby, when an operator performs start-up inspection work on the front rolling rollers 6, it is possible to surely prevent being pinched a tiptoe, etc., in the space (a) or the space (b) even if a foot is slid on the front rolling rollers 6, so that the start-up inspection work can be safely performed.例文帳に追加

これにより、オペレータが、前側転圧ローラ６上で始業点検作業を行う場合に、前側転圧ローラ６上で足を滑らせたとしても、上述の隙間ａまたは隙間ｂに爪先等を挟まれるのを確実に防止でき、始業点検作業を安全に行うことができる。 - 特許庁

When an inspection mode transition signal is input from an external inspection tool, an inspecting program 45 is executed, and a request is made to change the start-up system.例文帳に追加

一方、外部検査ツールから検査モード移行信号が入力されると、検査用プログラム４５が実行され、起動方式の変更要求がなされる。 - 特許庁

To provide electronic equipment, capable of simplifying the process for inspection and that will not have an inspection program start up carelessly, and an inspection method therefor, as to the electronic equipment having a first substrate, and the second substrate connected to the first substrate and operated in cooperative manner with the first substrate, and to provide the inspection method therefor.例文帳に追加

第１の基板と、第１の基板に接続され、第１の基板と協働して動作する第２の基板とを有する電子機器及びその検査方法に関し、検査のための工程を簡略化でき、かつ、不用意に検査プログラムが起動することがない電子機器及びその検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, inspecting device and method, whereby whether an inspection target circuit has been functioning normally or not, regardless of the start-up period of a power source voltage.例文帳に追加

検査対象回路が正常に機能しているか否かを電源電圧の立ち上がり期間に拘らず高精度に検査することができる半導体集積回路、検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁