strain distribution analysisとは 意味・読み方・使い方

To provide a lattice strain evaluation method of a crystal material for easily performing strain distribution analysis by using a scanning transmission electron microscope, and an evaluation system.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡を用いて簡易に歪の分布解析を行う結晶材料の格子歪評価方法、評価システムを提供する。 - 特許庁

To provide a stress strain analyzing system for displaying the results of model formation for analyzing stress strains, of analysis by a finite element method, of a remaining life, and of a stress-strain distribution by a simple operation in a short time.例文帳に追加

応力ひずみ解析のためのモデル化、有限要素法解析、余寿命や応力−ひずみ分布等の結果表示を簡単な操作でしかも短時間で行うための応力ひずみ解析システムを提供する。 - 特許庁

By using input data formed by replacing the value of an inherent strain at a position corresponding to a node with imaginary temperature difference data and imaginary thermal physical data, a numerical analysis can be carried out through the universal analysis code, and the residual stress distribution counterpoising with a thermal strain distribution given by the imaginary temperature difference data and the imaginary thermal physical data can be obtained.例文帳に追加

節点に対応する位置の固有ひずみの値を仮想温度差データおよび仮想熱物性データで置き換えた入力データを用いることにより、汎用解析コードを介して数値解析を行うことができ、仮想温度差データおよび仮想熱物性データで与えられる熱ひずみ分布と平衡する残留応力分布を求めることができる。 - 特許庁

The heat shrinkage strain to a time change ΔT is calculated on the basis of the coefficient αn of linear expansion (S37) and the analysis of viscoelasticity including contact is performed to calculate stress distribution (S38).例文帳に追加

この線膨張係数α_nにより、温度変化ΔＴに対する熱収縮歪みを求め（Ｓ３７）、接触を含む粘弾性解析を実施して応力分布を求める（Ｓ３８）。 - 特許庁

The polishing device has the polishing pressure measuring method having a process of measuring and detecting polishing pressure and its distribution during polishing by comparing measured data with known data, its measuring means, and an image processing device for image-processing a two-dimensional reflection intensity image and obtaining the measured data based on strain analysis.例文帳に追加

計測データを既知データと比較することで研磨加工中の研磨加工圧及びその分布を測定検出する工程とを有する研磨加工圧測定方法とその測定手段を具備し、又、２次元反射強度像を画像処理してひずみ解析による計測データを得るための画像処理装置とを備えるよう構成する。 - 特許庁