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system profilerとは 意味・読み方・使い方
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「system profiler」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 11件
SYSTEM AND METHOD OF IMPLEMENTING CONCURRENCY PROFILER例文帳に追加
並行処理プロファイラを実装するシステム及び方法 - 特許庁
# lm-profilerProfiling session started.Time remaining: 600 seconds[4296896.602000] amarokappTime remaining: 599 seconds[4296897.714000] sort[4296897.970000] mvTime remaining: 598 secondsTime remaining: 597 seconds[4296900.482000] reiserfs/0 After profiling your system for ten minutes, lm-profiler will present a list of services which might have caused disk accesses during that time.例文帳に追加
システムを10分間観察した後、lm-profilerは時間内にディスクアクセスを行ったサービスの一覧を表示します。 - Gentoo Linux
Be careful not to disable services that are needed for your system to run properly - lm-profiler is likely to generate some false positives.例文帳に追加
システムの正常動作に必要なサービスを無効にしないよう注意してください。 - Gentoo Linux
MATERIAL DATA ACQUIRING METHOD AND MATERIAL DATA PROFILER USING EVANESCENT LIGHT, AND METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINATION OF BASE SEQUENCE例文帳に追加
エバネッセント光を利用する物質情報取得方法と物質情報測定装置、並びに塩基配列決定方法と装置 - 特許庁
In a computer system capable of realizing multi-task processings, a process profiler (315) for analyzing the characteristics of the parallel operations by acquiring the dynamic trace information of the software system of the parallel operations is provided and process monitoring is performed.例文帳に追加
マルチタスク処理を実現できる計算機システムにおいて、並列動作のソフトウェアシステムの動的なトレース情報を取得することにより並列動作の特性分析を行うプロセス・プロファイラ（３１５）を備え、プロセス監視を行う。 - 特許庁
To be specific, there is no file compatibility guaranteed with future versions of this profiler, and there is no compatibility with files produced by otherprofilers (such as the old system profiler).If several files are provided, all the statistics for identicalfunctions will be coalesced, so that an overall view of several processes can be considered in a single report.例文帳に追加
将来のバージョンのプロファイラとの互換性は保証されておらず、(旧バージョンのものなど)他のプロファイラとの互換性もないことに注意してください。 複数のファイルを指定した場合、同一の関数の統計情報はすべて合算され、複数のプロセスで構成される全体をひとつのレポートで検証することが可能になります。 - Python
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「system profiler」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 11件
To obtain a system which acquires only the trace information of OS management information of a small number of items but can acquire information enough to perform debug and tuning to minimize overhead when a profiler is executed and reduces time when debug/tuning is performed by analyzing and showing the information.例文帳に追加
デバッグにプロファイラを用いたアプリケーション開発において、プロファイラの実行オーバヘッドを取り除いてデバッグに十分な情報を取得し、アプリケーションによるＯＳ管理情報の破壊／矛盾などを発見／通知する。 - 特許庁
The system level hint information 41 is information formed by gleaning information that is a hint of optimization in the compiler system 34, and comprises an analysis result in a profiler 33, an instruction of a programmer, the task information 42a related to the source program 44, and task information 42b related to another source program different from the source program 44.例文帳に追加
システムレベルヒント情報４１は、コンパイラシステム３４における最適化のヒントとなる情報を集めたものであり、プロファイラ３３での解析結果と、プログラマによる指示と、ソースプログラム４４に関するタスク情報４２ａおよびソースプログラム４４とは異なる別のソースプログラムに関するタスク情報４２ｂとからなる。 - 特許庁
The program conversion system is provided with a compiler 10 for generating an object program from a source program according to optimization instruction information, a linker 20 for combining the object program to generate a performable load module, a simulator (or emulator) 30 for performing the load module to generate profile information, and additionally a profiler 40 for providing a programmer with the profile information in a changeable state.例文帳に追加
最適化指示情報に従って原始プログラムから目的プログラム生成するコンパイラ１０と、目的プログラムを結合して実行可能なロードモジュールを生成するリンカ２０と、このロードモジュールを実行してプロファイル情報を生成するシミュレータ（または、エミュレータ）３０に加えて、このプロファイル情報を変更可能な状態でプログラマに提供するプロファイラ４０を備える。 - 特許庁
A laser irradiation method using a laser irradiation apparatus includes: a laser oscillator; a linear optical system for changing a laser beam oscillated from the laser oscillator to a linear beam; and a stage on which a substrate to be irradiated with the linear beam is placed wherein the stage deforms the surface profile of the substrate to follow up the focal position of the linear beam checked by a profiler, and has a supporting means.例文帳に追加
レーザ発振器と、前記レーザ発振器から発振したレーザビームを線状ビームに変える線状光学系と、前記線状ビームが照射される基板を設置するステージと、前記ステージは、ビームプロファイラで調べられた前記線状ビームの焦点位置に沿うように前記基板の表面形状を変形させ、かつ、支持手段を有することを特徴とするレーザ照射装置を用いたレーザ照射方法に関する。 - 特許庁
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