「"AC characteristic"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a current cell matrix type digital/analog conversion circuit for preventing a deterioration in an AC characteristic in a current route in executing digital/analog conversion.例文帳に追加

ディジタル・アナログ変換実行時の電流経路における交流特性の劣化を防ぐ電流セルマトリックス型のディジタル・アナログ変換回路を提供。 - 特許庁

The test-power-supply transmission means are provided with a plurality of fuses 152, 153, 252, 253, and they selectively supply the third power supply to the first power-supply line during the test operation of the AC characteristic according to whether the fuses are blown or not.例文帳に追加

テスト電源伝達手段は複数個のヒューズ１５２，１５３，２５２，２５３を有し、ＡＣ特性テスト動作の間に、ヒューズのカッティング有無によって第３電源を第１電源ラインに選択的に供給する。 - 特許庁

In the field effect transistor model for performing simulation of AC characteristic and noise characteristic of the field effect transistor, a resistance circuit in which a first resistance generating thermal noise is serially connected to a second resistance generating no thermal noise is connected as a gate resistor of the field effect transistor.例文帳に追加

電界効果トランジスタのＡＣ特性及び雑音特性のシミュレーションを行うための電界効果トランジスタモデルにおいて、熱雑音を発生する第一抵抗と熱雑音を発生しない第二抵抗とを直列に接続した抵抗回路を電界効果トランジスタのゲート抵抗として接続する。 - 特許庁

To evaluate not only a DC failure or a degeneration fault but also an AC characteristic failure having increasing tendency such as an SI fault (a crosstalk fault, an IR-DROP fault) or a delay fault following miniaturization recently, as an index for performance evaluation of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の出来栄え評価の指標として、近年微細化に伴いＤＣ不良や縮退故障だけでなく、ＳＩ故障（クロストーク故障、ＩＲ-ＤＲＯＰ故障）や遅延故障などの増加傾向にあるＡＣ特性不良を評価する。 - 特許庁

Through the adoption of this configuration, and by turning on the switching circuit 102 and allowing a test signal generated by the LSI tester 300 to be input to the terminal 203, when an AC characteristic of an input signal is inspected, the test signal can be input to each terminal 205 via the signal line 101, and the terminals 205 of the plurality of inspection objects can be simultaneously inspected.例文帳に追加

この構成により、入力信号のＡＣ特性の検査を行う場合には、スイッチ回路１０２をオン状態にして、ＬＳＩテスタ３００が生成するテスト信号を端子２０３へ入力することで、そのテスト信号を信号線１０１を経由して各端子２０５へ入力することができ、複数の検査対象の端子２０５を同時に検査することができる。 - 特許庁