「"Pattern Defect"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥修正装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検出装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

パタ—ン欠陥修正装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT ANALYSIS EQUIPMENT, PATTERN DEFECT ANALYSIS METHOD, AND PATTERN DEFECT ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加

パターン欠陥解析装置、パターン欠陥解析方法およびパターン欠陥解析プログラム - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検出方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTING METHOD AND PATTERN DEFECT DETECTOR例文帳に追加

パターン欠陥検出方法およびパターン欠陥検出装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTION METHOD AND PATTERN DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥修正方法およびパターン欠陥修正装置 - 特許庁

WIRING PATTERN DEFECT CONFIRMING APPARATUS例文帳に追加

配線パターン欠陥確認装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT ANALYSIS SUPPORT APPARATUS AND PATTERN DEFECT ANALYSIS SUPPORT PROGRAM例文帳に追加

パターン欠陥解析支援装置およびパターン欠陥解析支援プログラム - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検出方法と装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置および方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF PATTERN DEFECT AND INSPECTION DEVICE THEREOF例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND INSPECTING DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及び検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

パターンの欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

INSPECTING METHOD OF PATTERN DEFECT AND INSPECTING DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND METHOD OF PATTERN DEFECT例文帳に追加

パターン欠陥の検査装置及び検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING PATTERN DEFECT例文帳に追加

パターン欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING PATTERN DEFECT, AND APPARATUS OF THE SAME例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

LASER-ASSISTED CVD SYSTEM, LASER-ASSISTED CVD METHOD, PATTERN DEFECT CORRECTING SYSTEM, AND PATTERN DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

レーザＣＶＤ装置、レーザＣＶＤ法、パターン欠陥修正装置及びパターン欠陥修正方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTING DEVICE AND CORRECTING DEVICE例文帳に追加

パタ—ン欠陥検出装置および修正装置 - 特許庁

REFERENCE DATA GENERATION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND REFERENCE DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加

参照データ生成方法、パターン欠陥検査装置、パターン欠陥検査方法、及び参照データ生成プログラム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR PATTERN DEFECT INSPECTION例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁

WIRING PATTERN DEFECT REMEDYING METHOD, AND SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

配線パターンの欠陥修正方法及びその装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTING TEST PATTERN BOARD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PHOTO MASK MANUFACTURING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING DISPLAY DEVICE SUBSTRATE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法、パターン欠陥検査用テストパターン基板、及びパターン欠陥検査装置、並びにフォトマスクの製造方法、及び表示デバイス用基板の製造方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND IMAGE SENSOR CALIBRATION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及びイメージセンサの校正方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

パターン欠陥検査方法およびパターン欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥修正方法およびパターン欠陥修正装置 - 特許庁

To prevent wrong detection for a pattern defect on a board.例文帳に追加

基板上のパターンの欠陥の誤検出を防止する。 - 特許庁

CORRECTION DEVICE, AND ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

修正装置及び電子回路のパターン欠陥修正方法 - 特許庁

REPEAT PATTERN ERASING METHOD AND PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

繰り返しパターン消去方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a pattern defect detector and a pattern defect detecting method capable of detecting a pattern defect without generating detection missing, and allowing the detection without lowering a detection speed, and without separating a defective area.例文帳に追加

パターンの欠陥を漏れなく検出し、検出速度を低下させず、欠陥領域を分離させずに検出可能なパターン欠陥検出装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

BLACK INK FOR CORRECTING MINUTE COLORED PATTERN DEFECT, AND COLOR FILTER例文帳に追加

微小着色パターン欠陥修正用黒インキ、及び、カラーフィルター - 特許庁