「"Program Test"」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To realize a comprehensive and efficient program test by automatically creating a test case, and realizing automatic execution of tests in test work of a GUI program.例文帳に追加

GUIプログラムのテスト作業において、自動的にテストケースを生成し、テストの自動実行を実現することで網羅的かつ効率的なプログラムテストを実現する。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, TEST PATTERN ANALYZING SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN ANALYTICAL METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST PATTERN ANALYTICAL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成システム、テストパターン解析システム、テストパターン生成方法、テストパターン解析方法、テストパターン生成プログラム、テストパターン解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁

First, a combination test confirmation extraction process 102 retrieves and extracts a process matching an input combination test confirmation process from program test patterns in a file 106.例文帳に追加

まず、組み合わせテスト確認抽出処理102は、入力された組み合わせテスト確認処理と一致する処理を、ファイル106内のプログラムテストパターンから検索・抽出する。 - 特許庁

This program test supporting device is provided with a means for selecting a reproduction speed in reproducing an operation history, and a means for reproducing the operation history in accordance with the selected reproduction speed.例文帳に追加

記操作履歴を再生する際の再生速度を選択する手段と、選択された再生速度に応じて、操作履歴を再生する手段を備えることを特徴とする。 - 特許庁

To provider an automatic program test preparing device capable of automatically converting even a program flow diagram expressing a complicated control structure as it is into a source program in one-to-one.例文帳に追加

複雑な制御構造を表したプログラム流れ図であっても、そのままソースプログラムに１対１に自動的に変換できるプログラムテキスト自動作成装置を提供すること。 - 特許庁

Also, reference voltage and verification voltage can be set, after a semiconductor memory is manufactured, also by a program test circuit for calculating reference voltage and verification voltage.例文帳に追加

また、参照電圧および検証電圧を算出するプログラム試験回路によっても、半導体メモリの製造後に参照電圧および検証電圧を設定できる。 - 特許庁

To provide a test scenario creation program, test scenario creation apparatus, and test scenario creation method for creating a test scenario which not only covers paths of a screen transition diagram but also has a variety of perspectives.例文帳に追加

画面遷移図のパスを網羅するだけでなく、様々な観点を持つテストシナリオを作成するテストシナリオ作成プログラム、テストシナリオ作成装置、テストシナリオ作成方法を提供する。 - 特許庁

A test pattern generation process 103 extracts and arranges an execution condition for the process extracted in the process 102 or a data operation retrieval process 104 from a program test patterns list, generates one test pattern and adds an ID thereto.例文帳に追加

テストパターン作成処理103は、処理102又はデータ操作検索処理104で抽出された処理の実行条件を、プログラムテストパターンの一覧から抽出・整理し、1つのテストパターンを作成し、IDを付与する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEST FUNCTION, STORAGE MEDIUM FOR STORING ELECTRONIC DESIGN DATA COMPRISING TEST CODE GENERATION PROGRAM, TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CODE GENERATION AUTOMATIZING METHOD AND ITS PROGRAM例文帳に追加

組込みテスト機能付き半導体集積回路、テストコード生成プログラムから成る電子設計データを保存する記憶媒体、該半導体集積回路のテスト方法、テストコード生成自動化方法及びそのプログラム - 特許庁

To provide a test route verifying device which extracts an affected place based upon modification for a program test after program modification and verifies whether or not the affected place is tested.例文帳に追加

本発明の課題は、プログラム変更後のプログラムテストにおいて、変更に基づく影響箇所を抽出すると共に、影響箇所のテストが行なわれたかを検証するテストルート検証装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

By the light, data are latched by an IC that is operating under the influence of a test program, test pattern output is obtained from the IC, and it is judged whether the IC is in an appropriate operation state or not according to the test pattern output.例文帳に追加

この光により、試験プログラムの影響下で作動中のＩＣにデータがラッチされ、そのＩＣからテストパターン出力が得られ、そのテストパターン出力によってＩＣが正しい動作状態にあるか否かを判定する。 - 特許庁

A program test device 20a tests the content of the program provided to a mobil phone 50 via the network in advance and generates test result data 202 which records information indicating a function included in the program and resources to be accessed when the program is executed.例文帳に追加

プログラム検査装置２０ａは、ネットワークを介して携帯電話機５０に提供されるプログラムの内容を事前に検査し、プログラムに含まれている関数や、プログラムを実行した場合にアクセスされるリソースを示す情報を記録した検査結果データ２０２を生成する。 - 特許庁

Pattern information generated by a printed circuit board diagnostic program, test program information and test jig production information are converted into data having the mutual relation to be correlated by the program, because they are single data respectively, to be displayed on a display 3 using a trouble analyzer.例文帳に追加

プリント回路基板診断プログラムが生成するパターン情報、テストプログラム情報、テスト治具製造情報は各々単体のデータであるため、これに相互関係を持つデータに変換しプログラムのより関連付けを行い、故障解析装置を用いてディスプレイ３へ表示する。 - 特許庁

To provide a sequence program test equipment that boosts test work efficiency by making possible automatic recall for test action instructions when a real PLC with a communication function or a PLC emulator activated through a communication message is used for the testing instructions.例文帳に追加

通信機能を有するＰＬＣ実機若しくはＰＬＣエミュレータを使用しかつ通信メッセージを介してテスト動作の指示を与えるシーケンスプログラムのテスト装置において、テスト動作指示の自動再現を可能として、この種のシーケンスプログラムテストの作業効率を向上させること。 - 特許庁