「 不良」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

記録不良を目立たないようにする。例文帳に追加

To make recording faults inconspicuous. - 特許庁

不良位置検出方法及び装置例文帳に追加

DEFECT POSITION DETECTION METHOD AND DEVICE - 特許庁

半導体素子不良解析方法例文帳に追加

METHOD FOR ANALYZING INFERIORITY OF SEMICONDUCTOR ELEMENT - 特許庁

端子圧着不良検出装置例文帳に追加

TERMINAL CRIMPING FAILURE DETECTION DEVICE - 特許庁

製品の不良解析システム例文帳に追加

PRODUCT DEFECT ANALYSIS SYSTEM - 特許庁

ワーク不良検出システム例文帳に追加

WORK DEFECT DETECTION SYSTEM - 特許庁

ネジ締め不良検出装置例文帳に追加

IMPERFECT SCREW FASTENING DETECTION DEVICE - 特許庁

線状部材の不良検出装置例文帳に追加

FAILURE DETECTOR FOR LINEAR MEMBER - 特許庁

部品不良判別装置、部品不良判別方法、部品不良判別用プログラム、および部品不良判別用プログラムを記録した記録媒体例文帳に追加

APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM OF JUDGING PART FAILURE AND RECORDING MEDIUM STORING THE PROGRAM - 特許庁

メモリの不良エリア管理回路例文帳に追加

DEFECTIVE AREA MANAGEMENT CIRCUIT FOR MEMORY - 特許庁

不良検査方法および装置例文帳に追加

FAILURE INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREOF - 特許庁

織機の不良緯糸除去方法例文帳に追加

METHOD FOR REMOVING DEFECTIVE WEFT YARN IN LOOM - 特許庁

缶の巻締め不良検査方法例文帳に追加

SEAMING DEFECT INSPECTION METHOD OF CAN - 特許庁

変復調回路不良選別装置例文帳に追加

APPARATUS FOR SELECTING DEFECTIVE MODULATION DEMODULATION CIRCUIT - 特許庁

液吐出不良検出装置例文帳に追加

POOR LIQUID DELIVERY DETECTING APPARATUS - 特許庁

電子部品の不良検出方法例文帳に追加

FAILURE DETECTION METHOD OF ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

コネクタ接触不良検出装置例文帳に追加

POOR CONTACT DETECTOR FOR CONNECTOR - 特許庁

不良検出システムの改良例文帳に追加

IMPROVED DEFECT DETECTION SYSTEM - 特許庁

空港灯火不良検出システム例文帳に追加

AIRPORT LIGHT FAILURE DETECTING SYSTEM - 特許庁

不良債権オークションシステム例文帳に追加

BAD CREDIT AUCTION SYSTEM - 特許庁

不良缶検出方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR DEFECTIVE CAN DETECTION - 特許庁

不良検査方法及びその装置例文帳に追加

DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE - 特許庁

不良債権拡大の懸念等例文帳に追加

Concerns about expanding nonperforming loans - 経済産業省

半導体不良解析方法及び半導体不良原因絞込み方法例文帳に追加

METHOD OF SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYSIS AND METHOD FOR SPECIFYING CAUSES OF SEMICONDUCTOR DEFECTS - 特許庁

不良解析方法、不良解析システムおよびメモリマクロシステム例文帳に追加

FAILURE ANALYSIS METHOD, FAILURE ANALYSIS SYSTEM, AND MEMORY MACRO SYSTEM - 特許庁

多層配線構造の不良解析方法および不良解析装置例文帳に追加

METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF MULTILAYER WIRING STRUCTURE AND DEFECT ANALYZING DEVICE - 特許庁

ねじ締め不良防止システム及びねじ締め不良防止プログラム例文帳に追加

SCREW FASTENING FAILURE PREVENTION SYSTEM AND SCREW FASTENING FAILURE PREVENTION PROGRAM - 特許庁

半導体装置の組立不良解析装置およびその不良解析方法例文帳に追加

ASSEMBLY FAILURE ANALYTICAL DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS FAILURE ANALYTICAL METHOD - 特許庁

半導体メモリの不良解析方法および不良解析システム例文帳に追加

FAILURE ANALYZING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY AND FAILURE ANALYSIS SYSTEM - 特許庁

端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ設定方法例文帳に追加

CRIMPING FAILURE DETERMINATION DATA SETTING METHOD OF TERMINAL CRIMPING FAILURE DETECTION DEVICE - 特許庁

半導体装置の製造方法、不良解析方法および不良解析システム例文帳に追加

METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD AND SYSTEM FOR FAILURE ANALYSIS - 特許庁

半導体装置の不良解析方法および不良解析装置例文帳に追加

FAILURE ANALYSIS METHOD AND ITS DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体集積回路の不良解析装置および不良解析方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR ANALYSING FAILURE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

ロジックＬＳＩの不良解析システム及び不良解析方法例文帳に追加

FAILURE ANALYSIS SYSTEM FOR LOGIC LSI AND FAILURE ANALYSIS METHOD - 特許庁

不良品追跡支援システム、及び不良品追跡支援プログラム例文帳に追加

DEFECTIVE TRACKING SUPPORT SYSTEM AND DEFECTIVE TRACKING SUPPORT PROGRAM - 特許庁

自己放電不良検出装置および自己放電不良検出方法例文帳に追加

SELF DISCHARGE DEFECT DETECTION DEVICE AND SELF DISCHARGE DEFECT DETECTION METHOD - 特許庁

照射不良の検査方法、及び、照射不良の検査装置例文帳に追加

IRRADIATION FAILURE INSPECTION METHOD AND IRRADIATION FAILURE INSPECTION APPARATUS - 特許庁

半導体装置の不良解析システムおよび半導体装置の不良解析方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE FAILURE ANALYSIS SYSTEM AND METHOD - 特許庁

半導体集積回路の不良検出方法及び不良検出装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体不良解析装置及びそれを用いた不良モード分類方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING DEVICE AND DEFECT MODE CLASSIFYING METHOD USING THE SAME - 特許庁

プリズム不良検出方法及びプリズム不良検出装置例文帳に追加

PRISM DEFECT DETECTING METHOD AND PRISM DEFECT DETECTING DEVICE - 特許庁

半導体装置の不良解析システム及び半導体装置の不良解析方法例文帳に追加

DEFECT ANALYZING SYSTEM AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

絶縁不良検出用電極構造および絶縁不良検出方法例文帳に追加

INSULATION FAULT DETECTING ELECTRODE STRUCTURE AND INSULATION FAULT DETECTING METHOD - 特許庁

被試験デバイスの不良ナビゲーションを行う不良解析装置例文帳に追加

DEFECT ANALYSIS APPARATUS FOR PERFORMING DEFECT NAVIGATION OVER DEVICE UNDER TEST - 特許庁

不良電極板の選別装置及び不良電極板の選別方法例文帳に追加

APPARATUS FOR SELECTING DEFECTIVE ELECTRODE PLATE AND METHOD OF SELECTING DEFECTIVE ELECTRODE PLATE - 特許庁