「 不良」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

不良ビットマップデータの圧縮方法、不良ビットマップ表示方法、及び、不良ビットマップ表示装置例文帳に追加

METHOD FOR COMPRESSING DEFECTIVE BITMAP DATA, AND METHOD AND DEVICE FOR DISPLAYING DEFECTIVE BITMAP - 特許庁

半導体装置の不良解析方法、チップ状半導体装置の不良解析方法及び半導体装置の動的不良解析装置例文帳に追加

FAILURE ANALYSIS METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, FAILURE ANALYSIS METHOD OF CHIP-LIKE SEMICONDUCTOR DEVICE AND DYNAMIC FAILURE ANALYSIS DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体不良解析装置、半導体不良解析方法、及び半導体不良解析プログラムを格納した記録媒体例文帳に追加

SEMICONDUCTOR FAILURE ANALYSIS SYSTEM AND METHOD, AND RECORDING MEDIUM STORING SEMICONDUCTOR FAILURE ANALYSIS PROGRAM - 特許庁

ソフトウエアモジュールの不良影響解析装置、不良影響解析方法、および不良影響解プログラム例文帳に追加

FAULT INFLUENCE ANALYSIS DEVICE, FAULT INFLUENCE ANALYSIS METHOD AND FAULT INFLUENCE ANALYSIS PROGRAM FOR SOFTWARE MODULE - 特許庁

端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法および圧着不良判定データ検査方法例文帳に追加

CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA FORMING METHOD FOR TERMINAL CRIMPING DEFECT DETECTION DEVICE, AND CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA INSPECTION METHOD - 特許庁

不良解析に要する時間を短縮でき、また不良検知率を向上させることができる不良解析用の半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a failure analysis semiconductor device, in which the time required for analyzing a failure can be shortened and a failure detection rate can be also improved. - 特許庁

不良の程度が小さい不良画素であっても良好に補正することができる不良画素補正装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for correcting defective pixels, capable of satisfactorily correcting even the defective pixels in a low defect degree. - 特許庁

集積回路の不良品検出において、単一の測定項目に基づく不良品検出と比較して、不良品の検出精度を向上させること。例文帳に追加

To improve defective product detection precision in defective integrated circuit detection in comparison with defective product detection based on a single measurement item. - 特許庁

不良発生パターン記憶メモリ５は、バーンインボード２上で発生し得るブロック不良の不良発生パターンをあらかじめ格納する。例文帳に追加

Memory 5 for storing failure occurrence patterns stores failure occurrence patterns of block failures which can occur in a burn-in board 2 in advance. - 特許庁

不良セクタの検出が開始され、不良セクタを検出すると不良セクタの論理ブロックアドレスをＣＰＵに通知する（Ｓ５０４）。例文帳に追加

Detection of defective sectors is started, and a CPU is notified of a logical block address of a defective sector when the defective sector is detected (S504). - 特許庁

基板処理ライン構成に対応した箇所で不良基板を排出する不良基板排出装置および不良基板排出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a failure substrate discharge apparatus and a failure substrate discharge method wherein a failure substrate is discharged at a location corresponding to a substrate processing line arrangement. - 特許庁

不良要因推定対策出力装置、不良要因推定対策出力方法、および不良要因推定対策出力プログラム例文帳に追加

OUTPUT APPARATUS, OUPUT METHOD, AND OUTPUT PROGRAM FOR FAIL FACTOR ESTIMATING MEANS - 特許庁

不良が発生した際には特徴量を記憶し不良ページの除去を行い、再度同様の不良が発生した際には印刷処理を停止する。例文帳に追加

An inspection system stores feature quantity and removes bad pages when the defects occur, and stops the print processing when similar defects occur again. - 特許庁

不良緯糸を経糸開口内から引き抜き、その不良緯糸を確実に排出する不良緯糸除去方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for defective weft removal by which a defective weft is pulled out from a warp opening and the defective weft is surely removed. - 特許庁

これにより、被包装物１２のはさみ込み不良、接着部分１１のバランス不良、切り口不良等を検出することができる。例文帳に追加

By this constitution, the insertion inferiority, balance inferiority of a bonded part, opening inferiority or the like of an article 12 to be packed can be detected. - 特許庁

良／不良判定部９は、不良解析メモリ８に書き込まれたフェイル／パス信号を読み出して被試験試料１２の良／不良を判定する。例文帳に追加

A nondefective/defective discrimination section 9 reads the fail/pass signal written in the defect analysis memory 8 to discriminate the propriety of the tested sample 2. - 特許庁

そして、残りの縮退ＦＢＭについての不良率を不良形状判定ルールと照合して不良形状を特定する。例文帳に追加

Then a defect rate of residual degenerartion FBM is collated with a defective shape discrimination rule, and a defective shape is specified. - 特許庁

短絡不良の発生が同定されたならば、不良信号送信手段が、不良同定信号を地上側に送信する。例文帳に追加

When the generation of the short-circuit is identified, a failure signal sending means sends a failure identifying signal to a ground side. - 特許庁

不良原因解析システム、不良原因解析方法、不良原因解析プログラム、工業製品の製造方法例文帳に追加

SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR ANALYZING CAUSE OF FAULT, METHOD FOR MANUFACTURING INDUSTRIAL PRODUCT - 特許庁

ウエハ測定で連続的な不良分布が発生した時、不良チップ周辺に自動的に不良マークができるようにすること。例文帳に追加

To automatically put defect marks on chips that are located around a defective chip, when a continuous defect distribution is generated in measurement of a wafer. - 特許庁

基板面の不良検出装置、不良検出方法、及び不良検出のためのプログラムを記録した記録媒体例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF SUBSTRATE SURFACE, AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PROGRAM FOR DEFECT DETECTION - 特許庁

不良除去ミスを発生せずに、安定して不良チューブを除去できる不良製品除去装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device for removing defective products, which is capable of stably removing defective tubes without the occurrence of errors in defect removal. - 特許庁

トナー像転写後の転写材の感光ドラムからの分離不良を防止して、画像不良や搬送不良をなくす。例文帳に追加

To prevent the occurrence of a defective image and defective carrying by preventing the defective separation of a transfer material from a photoreceptor after transferring a toner image. - 特許庁

部分的に発生した不良の規則性を効率良く検出することができるメモリＬＳＩの不良解析装置及び不良解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect analyzer for a memory LSI which can efficiently detect regularity of defect caused partially, and a defect analysis method. - 特許庁

不良解析の初期段階で不良要因を推定し、不良解析の確度の向上、および解析時間を短縮化させる。例文帳に追加

To estimate the cause of a failure at an early stage of a failure analysis, improve the accuracy of the failure analysis and shorten the analysis time. - 特許庁

電気回路用不良箇所特定シール及びこの電気回路用不良箇所特定シールを用いた電気回路の不良箇所特定方法例文帳に追加

DEFECTIVE POSITION SPECIFYING SEAL FOR ELECTRIC CIRCUIT AND METHOD FOR SPECIFYING DEFECTIVE POSITION OF ELECTRIC CIRCUIT USING SAME - 特許庁

リターンスプリングの組付け不良及び作動不良（摺動不良）を防止できるスタータ用電磁スイッチを提供すること。例文帳に追加

To provide an electromagnetic switch for a starter capable of preventing installation failure and operational failure (sliding failure) of a return spring. - 特許庁

ウエハテスト（Ｓ１）の結果に基づいて、隣接する不良チップは同じグループに属するように不良チップを不良グループに分別する（Ｓ２）。例文帳に追加

On the basis of the result of the wafer test (S1), defective chips are classified into defective groups such that adjacent defective chips belong to the same group (S2). - 特許庁

試験用ＣＰＵ１の制御下でＤＵＴ１０の不良情報を第１不良解析メモリ７に書き込んでいる間に、第２不良解析メモリ８から前回試験したＤＵＴ１０の不良情報を不良解析用ＣＰＵ２に読み込んで、前回試験したＤＵＴ１０の不良解析をする。例文帳に追加

While the defect information of the DUT 10 is written into the memory 7 under the control of the CPU 1. the defect information of the DUT 10, that is tested previously and stored in the memory 8, is read by the CPU 2 and a defect analysis of the DUT 10, which was tested previously, is conducted. - 特許庁

スペア行回路に対応する行不良ビット記憶メモリ（３）およびスペア列回路に対応する列不良ビット記憶メモリ（５）を別々に設け、これらの不良ビット記憶メモリの不良ビットを行不良ビットカウンタ（４）および列不良ビットカウンタ（６）でそれぞれカウントする。例文帳に追加

In this semiconductor testing apparatus, a row defective-bit storage memory 3 which corresponds to a spare row circuit and a column defective-bit storage memory 5 which corresponds to a space column circuit are installed separately, and defective bits of the defective-bit storage memories are counted respectively by a row defective-bit counter 4 and a column defective-bit counter 6. - 特許庁

回路の若干の欠陥に起因している器材故障（接続不良、絶縁不良または短など）例文帳に追加

equipment failure attributable to some defect in a circuit (loose connection or insulation failure or short circuit etc.)  - 日本語WordNet

合致しない場合は、再度不良波形データベースから別の不良波形を取り出し比較を行う。例文帳に追加

At disagreement, another defective waveform is taken out of the defective waveform database again for comparison. - 特許庁

半導体の不良解析用ＣＡＤツール及び半導体の不良解析方法例文帳に追加

CAD TOOL FOR FAILURE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR AND FAILURE ANALYSIS METHOD OF SEMICONDUCTOR - 特許庁

未回収のトナーがＮＣローラに再び戻るのを防ぎ、帯電不良、画像不良を防止する。例文帳に追加

The unrecovered toner is prevented from returning again to the NC roller and electrifying failure and image failure are prevented. - 特許庁

半導体装置の不良解析方法及び半導体装置の不良解析システム例文帳に追加

DEFECT ANALYSIS METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND DEFECT ANALYSIS METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体の不良解析方法及びそのシステム並びに半導体の不良解析プログラム例文帳に追加

METHOD AND SYSTEM FOR ANALYZING FAILURE OF SEMICONDUCTOR AND PROGRAM FOR FAILURE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR - 特許庁

不良再発防止装置、不良再発防止方法、プログラムおよび記録媒体例文帳に追加

DEFECTIVE REOCCURRENCE PREVENTION DEVICE, DEFECTIVE REOCCURRENCE PREVENTION METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

効率的に不良の原因を分析できる不良分析支援装置を提供する。例文帳に追加

To provide a failure analysis support device capable of efficient analysis of causes for a failure. - 特許庁

半導体集積回路の不良箇所特定用試料の作成方法及び不良箇所特定方法例文帳に追加

METHOD FOR CREATING SAMPLE FOR SPECIFYING FAULT PART IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND FAULT PART SPECIFYING METHOD - 特許庁

不良が発生していた場合、データベース２内に不良情報として存在するか判断する（Ｓ６）。例文帳に追加

When the failure has been occurred, whether or not it exists in the database 2 as failure information is decided (S6). - 特許庁

記録紙の搬送ベルトからの分離不良を防止すると共に、トナー像の転写不良を防止する。例文帳に追加

To prevent the faulty separation of recording paper from a transport belt and to prevent the faulty transfer of a toner image. - 特許庁

端子圧着不良検出装置およびその圧着不良判定データ調整方法例文帳に追加

TERMINAL CRIMPING FAILURE DETECTION DEVICE AND ITS CRIMPING FAILURE DETERMINATION DATA ADJUSTMENT METHOD - 特許庁

合致した場合は、不良部位出力部にて、合致した波形に対応する不良部位を出力する。例文帳に追加

At agreement, a defect corresponding to the agreed waveform is outputted at a defect outputting part. - 特許庁

不良要因推定方法、不良要因推定装置、プログラム、および、記録媒体例文帳に追加

DEFECTIVE FACTOR ESTIMATING METHOD, DEFECTIVE FACTOR ESTIMATING APPARATUS, PROGRAM, AND RECORD MEDIUM - 特許庁

インクリボンカセットの装着不良を確実に検出し、裏印字不良の発生を防止する。例文帳に追加

To prevent rear face printing fault from occurring by certainly detecting attachment fault of an ink ribbon cassette. - 特許庁