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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 >  不良の意味・解説 >  不良に関連した英語例文

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 不良を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 25788



例文

不良分析支援装置、不良分析支援方法、不良分析支援用プログラム、および不良分析支援用プログラムを記録した記録媒体例文帳に追加

FAILURE ANALYSIS SUPPORT DEVICE, FAILURE ANALYSIS SUPPORT METHOD, FAILURE ANALYSIS SUPPORTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM RECORDING FAILURE ANALYSIS SUPPORTING PROGRAM - 特許庁

IC不良解析用表示装置例文帳に追加

DISPLAY DEVICE FOR IC DEFECT ANALYSIS - 特許庁

デバイス不良解析装置例文帳に追加

DEVICE FAILURE ANALYSIS APPARATUS - 特許庁

半導体装置の不良検査法例文帳に追加

DEFECT INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

例文

製造不良要因分析支援装置例文帳に追加

MANUFACTURING DEFECT FACTOR ANALYSIS SUPPORT DEVICE - 特許庁


例文

冷却不良検出回路例文帳に追加

DETECTION CIRCUIT FOR COOLING DEFECT - 特許庁

製品不良解析支援システム例文帳に追加

PRODUCT DEFECT ANALYSIS SUPPORT SYSTEM - 特許庁

初期不良を効率的に排除する。例文帳に追加

To efficiently exclude an initial defect. - 特許庁

実装基板不良解析支援装置例文帳に追加

PACKAGED BOARD FAILURE ANALYSIS SUPPORT DEVICE - 特許庁

例文

充電不良検出装置例文帳に追加

CHARGING-FAILURE DETECTION DEVICE - 特許庁

例文

アルミ箔不良検出装置例文帳に追加

DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF ALUMINUM FOIL - 特許庁

成形不良監視システム例文帳に追加

MOLDING FAILURE MONITORING SYSTEM - 特許庁

糊付着不良検査装置例文帳に追加

EXAMINING DEVICE FOR GLUE ADHESION FAILURE - 特許庁

不良要因分析システム例文帳に追加

MAIN CAUSE OF FAILURE ANALYZING SYSTEM - 特許庁

ブリッジ接続不良検出方法例文帳に追加

BRIDGE CONNECTING FAILURE DETECTION METHOD - 特許庁

IC不良箇所検出装置例文帳に追加

APPARATUS FOR DETECTING IC FAILURE POINT - 特許庁

画像認識による不良検査方法例文帳に追加

DEFECT INSPECTION METHOD BY IMAGE RECOGNITION - 特許庁

不良ネジ部品検出機例文帳に追加

DEFECTIVE SCREW PART DETECTING MACHINE - 特許庁

結紐機の結紐不良検査装置例文帳に追加

DEFECTIVE BINDING INSPECTION DEVICE OF BINDING MACHINE - 特許庁

車両の不良原因究明装置例文帳に追加

FAILURE CAUSE INVESTIGATION DEVICE FOR VEHICLE - 特許庁

不良シートの除去装置例文帳に追加

DEFECTIVE SHEET REMOVING DEVICE - 特許庁

フイルムの加工不良検出装置例文帳に追加

PROCESSING DEFECT DETECTOR FOR FILM - 特許庁

端子圧着不良検出装置例文帳に追加

POOR TERMINAL CRIMPING DETECTING DEVICE - 特許庁

印刷装置、不良ノズル検出装置、不良ノズル補正装置、不良ノズル検出方法、不良ノズル補正方法、プログラム及び記録媒体例文帳に追加

PRINTER, POOR NOZZLE DETECTOR, POOR NOZZLE CORRECTOR, POOR NOZZLE DETECTING METHOD, POOR NOZZLE CORRECTING METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

ロウ付け不良検査方法例文帳に追加

SOLDERING FAILURE INSPECTING METHOD - 特許庁

不良要因抽出装置、不良要因抽出方法、不良要因抽出用プログラム、および不良要因抽出用プログラムを格納した記録媒体例文帳に追加

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR EXTRACTING DEFECTIVE FACTOR, AND RECORDING MEDIUM STORING PROGRAM FOR EXTRACTING DEFECTIVE FACTOR - 特許庁

ネジ締め不良監視方法例文帳に追加

METHOD OF MONITORING POOR SCREW FASTENING - 特許庁

不良カプセルの除去機構例文帳に追加

DEFECTIVE CAPSULE REMOVING MECHANISM - 特許庁

メモリ不良解析システム例文帳に追加

MEMORY DEFECT ANALYZING SYSTEM - 特許庁

異物または不良品の検出装置、異物または不良品の排除装置、異物または不良品の検出方法および異物または不良品の排除方法例文帳に追加

DETECTING DEVICE, REMOVING DEVICE, DETECTION METHOD, AND REMOVAL METHOD OF FOREIGN MATTER OR DEFECTIVE PRODUCT - 特許庁

シュリンク包装不良検出装置例文帳に追加

DEFECTIVE SHRINK PACKAGE DETECTING DEVICE - 特許庁

接続不良の評価方法例文帳に追加

METHOD FOR EVALUATION OF CONNECTION FAILURE - 特許庁

不良検査方法および装置例文帳に追加

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE - 特許庁

スティックバー不良検査装置例文帳に追加

STICK BAR DEFECT INSPECTION DEVICE - 特許庁

テンター不良クリップ判定装置例文帳に追加

TENTER DEFECTIVE CLIP JUDGING DEVICE - 特許庁

半導体素子の不良解析方法例文帳に追加

FAULT ANALYZING METHOD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT - 特許庁

不良検出システムの改良例文帳に追加

IMPROVEMENT FOR DEFECT DETECTION SYSTEM - 特許庁

不良検査方法及び装置例文帳に追加

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS - 特許庁

製品製造不良解析システム例文帳に追加

ANALYSIS SYSTEM FOR PRODUCT MANUFACTURING FAILURE - 特許庁

塗装膜不良品捺印装置例文帳に追加

DEVICE FOR SEALING COATING FILM DEFECTIVE - 特許庁

不良現象対応案内装置例文帳に追加

DEFECTIVE PHENOMENON HANDLING SUPPORT APPARATUS - 特許庁

不良解析方法および装置例文帳に追加

FAILURE ANALYSIS METHOD AND APPARATUS - 特許庁

結束不良の検出装置例文帳に追加

INFERIOR BINDING DETECTING DEVICE - 特許庁

ろう付け不良検査装置例文帳に追加

INSPECTION APPARATUS FOR DEFECTIVE BRAZING - 特許庁

結束不良の検出装置例文帳に追加

DEFECTIVE BINDING DETECTOR - 特許庁

不良シートの除去装置例文帳に追加

BAD SHEET REMOVING DEVICE - 特許庁

不良対策選択装置、不良対策選択方法、不良対策選択用プログラム、および不良対策選択用プログラムを記録した記録媒体例文帳に追加

DEFECT COUNTERMEASURE SELECTING DEVICE, DEFECT COUNTERMEASURE SELECTING METHOD, PROGRAM FOR SELECTING DEFECT COUNTERMEASURE, AND RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED THEREON - 特許庁

折機の不良紙排出装置例文帳に追加

DEFECTIVE PAPER DISCHARGE DEVICE OF FOLDING MACHINE - 特許庁

不良を確実に、かつ迅速に知る。例文帳に追加

To surely and rapidly know a defect. - 特許庁

例文

選択した不良形状に該当する不良以外の不良ビットをパスビットに変換し、不良抽出FBMを作成する(S111)。例文帳に追加

A failure extracted FBM is produced by converting fail bits of other than failures corresponding to the selected failure shapes to pass bits (S111). - 特許庁

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