「 不良」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

混合米中に混在する不良米の選別方法及び不良米選別機例文帳に追加

METHOD AND MACHINE FOR SEPARATING DEFECTIVE RICE MIXED IN MIXED RICE - 特許庁

不良品検出ロボット及びロボットによる不良品検出方法例文帳に追加

DEFECTIVE DETECTING ROBOT AND METHOD OF DETECTING DEFECTIVE BY ROBOT - 特許庁

不良陰極板の選別装置及び不良陰極板の選別方法例文帳に追加

DEVICE FOR AND METHOD OF SORTING DEFECTIVE CATHODE PLATE - 特許庁

電子機器の不良診断装置及び電子機器の不良診断方法例文帳に追加

FAULT DIAGNOSTIC DEVICE FOR ELECTRONIC EQUIPMENT, AND FAULT DIAGNOSTIC METHOD FOR ELECTRONIC EQUIPMENT - 特許庁

不良画素の補償装置、不良画素の補償方法及び記録媒体例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR COMPENSATING FOR DEFECTIVE PIXEL AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

容器の密封不良検査方法および容器の密封不良検査装置例文帳に追加

METHOD FOR INSPECTING POOR SEALING OF CONTAINER AND DEVICE FOR INSPECTING POOR SEALING OF CONTAINER - 特許庁

機器不良確認援助装置、および機器不良確認援助方法例文帳に追加

EQUIPMENT FAILURE CONFIRMATION SUPPORTING DEVICE AND METHOD - 特許庁

不良モードを高精度に分類できる不良解析方法を得る。例文帳に追加

To obtain a defect analyzing method by which defective modes can be classified highly accurately. - 特許庁

不良識別マークとその形成方法および不良識別マーク除去方法例文帳に追加

DEFECTIVE IDENTIFYING MARK, METHOD OF FORMING AND REMOVING THE SAME - 特許庁

メモリＬＳＩ不良解析装置およびメモリＬＳＩ不良解析方法例文帳に追加

ANALYZING DEVICE FOR DEFECT OF MEMORY LSI, AND ANALYZING METHOD FOR DEFECT OF MEMORY LSI - 特許庁

ステータの絶縁不良箇所特定方法及び絶縁不良箇所特定装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR LOCATING INSULATION FAILURE OF STATOR - 特許庁

電子部品実装体の不良抑制方法及び不良抑制装置例文帳に追加

FAILURE SUPPRESSING METHOD AND FAILURE SUPPRESSING EQUIPMENT OF ELECTRONIC COMPONENT MOUNTING BODY - 特許庁

実装基板の不良探索方法及び実装基板の不良探索装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR SEARCHING DEFECT OF MOUNTING SUBSTRATE - 特許庁

液晶表示パネルの分断不良および静電気による不良をなくす。例文帳に追加

To eliminate defects caused by defective segmentation and static electricity of a liquid crystal display panel. - 特許庁

不良検出装置、不良検出方法および電子デバイス例文帳に追加

FAULT DETECTION SYSTEM, FAULT DETECTION METHOD, AND ELECTRONIC DEVICE - 特許庁

不良区域処理装置、不良区域処理方法、および情報記録装置例文帳に追加

DEFECTIVE SECTOR PROCESSOR, DEFECTIVE SECTOR PROCESSING METHOD, AND INFORMATION RECORDER - 特許庁

不良チップマーキング方法及び不良チップマーキング装置例文帳に追加

METHOD OF MARKING DEFECTIVE CHIP AND DEFECTIVE-CHIP MARKING APPARATUS - 特許庁

実装基板不良探索方法及び実装基板不良探索装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR SEARCHING DEFECT OF MOUNTING BOARD - 特許庁

不良ブロック検出方法および不良ブロック検出装置例文帳に追加

DEFECTIVE BLOCK DETECTING METHOD AND DEFECTIVE BLOCK DETECTING DEVICE - 特許庁

配線不良検出用試験構造体及び配線不良検出方法例文帳に追加

TESTING STRUCTURE FOR INTERCONNECTION DEFECTS DETECTION AND INTERCONNECTION DEFECTS DETECTION METHOD - 特許庁

断裁不良検知装置とその断裁不良検知方法及び積層装置例文帳に追加

SHEET CUTTING DEFECTION DETECTING DEVICE, ITS SHEET CUTTING DEFECTION DETECTING METHOD, AND STACKING DEVICE - 特許庁

不良原因探索プログラム及び不良原因探索システム例文帳に追加

FAILURE CAUSE SEARCHING PROGRAM AND FAILURE CAUSE SEARCHING SYSTEM - 特許庁

通信不良区間検出システム及び通信不良区間検出方法例文帳に追加

POOR COMMUNICATION SECTION DETECTING SYSTEM, AND POOR COMMUNICATION SECTION DETECTING METHOD - 特許庁

不良品情報入力装置及び不良品情報入力方法例文帳に追加

DEFECTIVE PRODUCT INFORMATION INPUT DEVICE AND DEFECTIVE PRODUCT INFORMATION INPUT METHOD - 特許庁

フープ材の変形不良検査装置および変形不良検出方法例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR DEFORMATION DEFECT INSPECTION OF HOOP - 特許庁

半導体装置の不良解析装置及び不良解析方法例文帳に追加

DEFECT ANALYZING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT - 特許庁

製氷不良または除氷不良が発生した際の安全性を確保する。例文帳に追加

To secure safety when generating ice making inferiority or deicing inferiority. - 特許庁

不良陰極板の排除装置及び不良陰極板の排除方法例文帳に追加

APPARATUS FOR AND METHOD OF ELIMINATING DEFECTIVE CATHODE PLATE - 特許庁

積層セラミックコンデンサの不良検出方法及び不良検出装置例文帳に追加

FAILURE DETECTION METHOD AND FAILURE-DETECTING APPARATUS OF STACKED CERAMIC CAPACITOR - 特許庁

半田付け不良除去装置および半田付け不良除去方法例文帳に追加

DEVICE FOR REMOVING SOLDERING DEFECT AND METHOD FOR REMOVING SOLDERING DEFECT - 特許庁

不良解析システム、致命不良抽出方法及び記録媒体例文帳に追加

DEFECT ANALYZING SYSTEM, FATAL DEFECT EXTRACTING METHOD, AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

折不良紙検出排紙装置および折不良紙検出排紙方法例文帳に追加

DEFECTIVELY FOLDED PAPER DETECTING PAPER DISCHARGE DEVICE AND DEFECTIVELY FOLDED PAPER DETECTING PAPER DISCHARGE METHOD - 特許庁

不良解析システム及びそれを用いた不良解析方法例文帳に追加

FAILURE ANALYSIS SYSTEM AND FAILURE ANALYSIS METHOD USING THE SAME - 特許庁

実装品質の不良検出装置及び実装品質の不良検出方法例文帳に追加

FAILURE DETECTING DEVICE FOR PACKAGING QUALITY AND FAILURE DETECTING METHOD OF PACKAGING QUALITY - 特許庁

折り不良検出方法及び折り不良検出装置並びに折り機例文帳に追加

FOLDING DEFECT DETECTING METHOD, FOLDING DEFECT DETECTING DEVICE AND FOLDING MACHINE - 特許庁

耐電圧不良検出方法及び耐電圧不良検出装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING FAILURE IN WITHSTAND VOLTAGE - 特許庁

半導体装置のリード成形不良及び実装不良を抑制する。例文帳に追加

To suppress lead formation failures and mounting failures in a semiconductor device. - 特許庁

ドラムアースの接続不良による画像不良を防止する。例文帳に追加

To prevent a defective image due to a bad connection of a drum ground. - 特許庁

不良品情報入力装置及び不良品情報入力方法例文帳に追加

INPUT DEVICE AND INPUT METHOD FOR INFERIOR GOODS INFORMATION - 特許庁

ＬＳＩの不良個所特定装置およびＬＳＩの不良個所特定方法例文帳に追加

FAILURE PART SPECIFYING DEVICE OF LSI, AND FAILURE PART LOCATING METHOD OF LSI - 特許庁

この判定領域３２のデータが全て“１”の場合には不良チップ座標３１の不良種別をシステム不良とし、その他の場合には不良チップ座標３１の不良種別をランダム不良とする。例文帳に追加

When the test data of the judgement area 32 are all "1", the failure type of the defective chip coordinates 31 is determined as a system failure, and in the other cases, the failure type of the defective chip coordinates 31 is determined as a random failure. - 特許庁

前記ルールは、基点不良、前記基点不良の組合せ対象なる関連不良、前記基点不良と前記関連不良との関係を規定する組合せ条件、及び組合せ不良名称を含む。例文帳に追加

The rule includes: base point failures, relevant failures being the combination objects of the base point failures; combination conditions for specifying a relation between the base point failures and the relevant failures; and combination failure designations. - 特許庁

そして、上述した手順により、第２不良ブロック５から第３不良ブロック６へ、同様にして第４不良ブロック７、第５不良ブロック８、第６不良ブロック９、そしてこの半導体ウエハ１の最終の第７不良ブロック１０へと順次に移動し各不良ブロック内の不良チップに不良マークを印字する。例文帳に追加

Then, as for the procedure described above, the marker moves from the second defective block 5 to a third defective block 6, and similarly moves sequentially to a fourth defective block 7, a five defective block 8, a sixth defective block 9, and a final seventh defective block 10 of the semiconductor wafer 1, to print the defective marks on defective chips in each defective block. - 特許庁

不良情報格納装置とその装置を備える不良情報蓄積処理装置、不良情報蓄積方法、不良情報格納装置を備える半導体装置試験装置、および不良情報格納装置を備える半導体装置例文帳に追加

DEFECTIVE INFORMATION STORAGE, DEFECTIVE INFORMATION STORAGE PROCESSOR PROVIDED WITH THE SAME, DEFECTIVE INFORMATION STORAGE METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS PROVIDED WITH DEFECTIVE INFORMATION STORAGE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH DEFECTIVE INFORMATION STORAGE - 特許庁

不良観察画像を用いた半導体デバイスの不良の解析を確実かつ効率良く行うことが可能な半導体不良解析装置、不良解析方法、及び不良解析プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor failure analysis device, a failure analysis method, and a failure analysis program capable of analyzing failure in a semiconductor device using a failure observation image reliably and efficiently. - 特許庁