「そうさとうかがたでんしけんびきょう」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

走査型電子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡における色収差および開口収差を除去する。例文帳に追加

To provide a correction device in which a chromatic aberration and an aperture aberration in a scanning electron microscope or a scanning transmission type electron microscope are removed. - 特許庁

元素マッピング装置，走査透過型電子顕微鏡および元素マッピング方法例文帳に追加

ELEMENT MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ELEMENT MAPPING METHOD - 特許庁

元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法例文帳に追加

ELEMENT ANALYZING APPARATUS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD - 特許庁

元素マッピング装置、走査透過型電子顕微鏡及び元素マッピング方法例文帳に追加

ELEMENT-MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELEMENT-MAPPING METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。例文帳に追加

To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡装置で分析対象物（５）を透過した電子線は元素マッピング装置に入射する。例文帳に追加

An electron beam transmitting through an object 5 to be analyzed in this scanning transmission electron microscope enters the element mapping device. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡を用いて簡易に歪の分布解析を行う結晶材料の格子歪評価方法、評価システムを提供する。例文帳に追加

To provide a lattice strain evaluation method of a crystal material for easily performing strain distribution analysis by using a scanning transmission electron microscope, and an evaluation system. - 特許庁

高い倍率で安定して再現性の良い鮮明な走査透過型電子顕微鏡像の観察を可能にする。例文帳に追加

To provide a scanning transmission type electron microscope capable of stably observing a clear image which is reproducible at high magnification. - 特許庁

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法に関し、薄層状試料における異なった深さにおける原子配列を一画像で観察可能にする。例文帳に追加

To provide a confocal scanning transmission type electron microscope device and a three-dimensional tomographic observation method such that atom arrays of a thin-layer sample at different depths are observed through one image. - 特許庁

電界放射型電子銃と、電界放射型電子銃から放射された電子線を試料に収束する収束手段と、試料を照射する収束電子線を走査する偏向手段と、試料像を投影する投影手段と、試料厚さ測定手段とを備える走査透過型電子顕微鏡観察装置を用いて観察を行う。例文帳に追加

The observation is performed by a scanning transmission electron microscope observation equipment equipped with a field emission electron gun, a convergence means to converge an electron ray emitted from the field emission electron gun onto a sample, a deflecting means to scan a convergence electron ray irradiating the sample, a projecting means to project a sample image, and a measuring means for a sample thickness. - 特許庁

これにより、電子顕微鏡の対物レンズ内で試料ホルダ２１を支持することができ、該開口２０ｂを通過した電子線が試料ホルダ２１内の試料９に到達し、これにより試料９から発生する走査透過電子の信号を検出できる。例文帳に追加

Thereby, the sample holder 21 can be supported in an objective lens of the electron microscope, the electron beam having passed through the opening 20b can reach the sample 9 in the sample holder 21, and thereby signals of scanning transmission electrons generated from the sample 9 can be detected. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置に関し、ＳＴＥＭに於ける焦点ずれ量の最適化や虚像の消去を可能にする計算手段を実現し、そして、計算像を得る為の時間を大幅に短縮して電子顕微鏡像を観察直後に計算像と比較して条件をフィードバックできるようにする。例文帳に追加

To realize a computing means which can optimize an amount of focal gap in STEM and which can erase a virtual image and receive a feedback of a condition by substantially shortening the period of time to obtain a computed image and by comparing an image of an electron microscope to the computed image right after observation in an observation method and an observation equipment by a scanning transmission electron microscope. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡１２を用い、収束した電子線を試料に入射させ、試料についての収束電子回折像を取得するステップと、取得された収束電子回折像に基づいて、試料における格子歪み量を算出するステップと、算出された格子歪み量を、試料の電子顕微鏡像に対応させて表示するステップとを有している。例文帳に追加

This method has a step for allowing focused electron beams to enter a sample and acquiring a convergent electron diffraction image on the sample by using a scanning transmission electron microscope 12, a step for calculating the lattice strain quantity in the sample based on the acquired convergent electron diffraction image, and a step for displaying the calculated lattice strain quantity corresponding to an electron microscope image of the sample. - 特許庁

試料を傾斜させて得られた透過像から３次元像を構築する透過型および走査透過型電子顕微鏡において、試料の厚さの変化情報を維持したまま、取得した画像の明るさ補正を行い、画像の明るさに含まれる情報の劣化の少ないトモグラフィ像を取得する。例文帳に追加

To enable achievement of a tomographic image having little deteriorated image contained in brightness of an achieved image by correcting the brightness of the image with keeping variation information of the thickness of a sample in a transmission type and scan transmission type electron microscope for constructing a three-dimensional image from a transmission image achieved by inclining the sample. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡像をデジタル化しコンピュータに取り込み、デジタル２次元フーリエ変換をすることによって回折パターンを形成し、回折パターン中の一又は複数の回折スポット位置を求め、理想的な結晶構造の場合の回折点の位置と比較することで、結晶格子の歪みを検出する。例文帳に追加

Scanning transmission type electronography is digitalized to be taken in a computer and subjected to digital two-dimensional Fourier transform to form a diffraction pattern and one or a plurality of diffraction spot positions in the diffraction pattern are calculated to be compared with the position of a diffraction point in the case of an ideal crystal structure to detect the strain of a crystal lattice. - 特許庁