「グロー放電発光分光法」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

グロー放電発光分光分析装置および方法例文帳に追加

GLOW DISCHARGE EMISSION SPECTROPHOTOMETER AND METHOD - 特許庁

グロー放電発光分光分析方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR GLOW DISCHARGE EMISSION SPECTRAL ANALYSIS - 特許庁

グロー放電発光分光分析方法および装置例文帳に追加

GLOW DISCHARGE LIGHT EMISSION SPECTRAL ANALYSIS METHOD AND APPARATUS - 特許庁

高周波グロー放電発光分光分析における深さ分布の補正方法例文帳に追加

CORRECTION METHOD FOR DEPTH DISTRIBUTION IN HIGH- FREQUENCY GLOW-DISCHARGE EMISSION SPECTROANALYSIS - 特許庁

グロー放電発光分光分析装置およびそれを用いる分析方法例文帳に追加

GLOW DISCHARGE EMISSION SPECTROSCOPIC ANALYSIS DEVICE, AND ANALYSIS METHOD USING THE SAME - 特許庁

グロー放電発光分光分析におけるバックグラウンド除去方法例文帳に追加

BACKGROUND ELIMINATION METHOD IN GLOW DISCHARGE EMISSION SPECTROCHEMICAL ANALYSIS - 特許庁

高周波グロー放電発光分光分析における深さ分解能の評価方法例文帳に追加

EVALUATION METHOD FOR RESOLUTION OF DEPTH IN HIGH- FREQUENCY GLOW-DISCHARGE EMISSION SPECTROANALYSIS - 特許庁

グロー放電発光分光分析における多層膜自動判定による定量分析方法例文帳に追加

QUANTITATIVE ANALYSIS BY AUTOMATIC JUDGMENT OF MULTILAYERED FILM IN GLOW DISCHARGE EMISSION SPECTRUM ANALYSIS - 特許庁

グロー放電発光分光分析用試料位置決め治具ならびに前記治具を備えたグロー放電発光分光分析装置および前記治具を用いる試料位置決め方法例文帳に追加

SAMPLE POSITIONING FIXTURE FOR GLOW DISCHARGE EMISSION SPECTRAL ANALYSIS, GLOW DISCHARGE EMISSION SPECTRAL ANALYSIS DEVICE HAVING FIXTURE, AND SAMPLE POSITIONING METHOD USING FIXTURE - 特許庁

グロー放電発光分光分析におけるスパッタ面の平坦性の評価方法及び深さ分解能の評価方法例文帳に追加

SPUTTERING SURFACE FLATNESS EVALUATION METHOD AND RESOLUTION EVALUATION METHOD IN GLOW DISCHARGE EMISSION SPECTRAL ANALYSIS - 特許庁

迅速、かつ効率的に多数の元素について正確な分析結果の得られるグロー放電発光分光分析法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for glow discharge emission spectral analysis capable of speedily and efficiently acquiring accurate analysis results on a large number of elements. - 特許庁

円筒形試料の内面の分析を簡単かつ正確に行えるグロー放電発光分光分析装置および分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a glow discharge emission spectroscopic analysis device and an analysis method which can easily and accurately analyze the inner surface of a cylindrical sample. - 特許庁

放電電極に汚れが有っても安定した放電を行い、バックグラウンドを低減させることのできるグロー放電発光分光分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a glow discharge emission spectral analysis method stably discharging even in the case of having stains on a discharge electrode and reduce the background. - 特許庁

分析方法としてはグロー放電発光分光法が好ましく、溶融金属に含有される成分を微量域まで高精度で全元素同時にオンライン分析することができる。例文帳に追加

A grow discharge atomic emission spectrometry method is preferable for this analyzing method, and the components contained in the molten metal can be analyzed with high accuracy up to the limit of a very small amount and all elements are simultaneously analyzed on line. - 特許庁

高周波グロー放電発光分光分析法により分析したときの前記銅又は銅合金管の表面から２０ｎｍまでの表層部におけるＳｉ濃度の最大値が０．３乃至３０原子％である。例文帳に追加

According to an analysis by high-frequency glow discharge atomic emission spectrometry, the maximum value of Si concentration in a surface layer extended 20 nm from the surface of the copper or copper alloy tube is 0.3-30 atom%. - 特許庁

高周波グロー放電発光分光分析法により分析したときの管の表面から２０ｎｍまでの表層部におけるＳｉ濃度の最大値が０．３乃至３０原子％である。例文帳に追加

In an analysis by high-frequency glow discharge emission spectrometric analysis, the maximum value of Si concentration on a surface layer part up to 20 nm from the surface of the tube is 0.3-30 atom%. - 特許庁

グロー放電発光分光分析における定量分析方法において、多層膜の各層の境界位置、及び濃度計算を行う領域をデータ処理によって自動判定し、個人差によらない定量分析を行う。例文帳に追加

To perform quantitative analysis not relying on an individual difference, in a method of quantitative analysis in glow discharge emission spectrum analysis, by automatically judging the boundary positions of the respective layers of a multilayered film and a region performing the calculation of concn. by data processing. - 特許庁

基板の上に薄膜を有し、かつ基板や薄膜の表面が鏡面状の試料について、薄膜の厚さが極めて薄い場合であっても、正確に分析ができるグロー放電発光分光分析装置および方法を提供する。例文帳に追加

To provide a glow discharge emission spectrophotometer and a method capable of accurate analysis, even when the thickness of a thin film is extremely thin relative to the sample having the thin film on a substrate, where the surface of the substrate or the thin film has a mirror-surface shape. - 特許庁

少なくとも１対の相接する層を有する積層体であって、グロー放電発光分光分析法による深さ方向の元素定量分析において、前記相接する層の界面領域が存在する深さに、半値全幅０．０１〜０．７μｍの検出ピークが認められる積層体。例文帳に追加

In this laminate including at least a pair of mutually contacting layers, a detection peak of 0.01 to 0.7 μm in terms of a full width at a half maximum, with regard to a depth in which an interface region of the mutually contacting layers is recognized when an element quantitative analysis in the depth direction by a glow discharge emission spectroscopic analysis process is performed. - 特許庁