「OF TEST」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST DEVICE OF MAGNET FOR MOTOR例文帳に追加

モータ用磁石の試験装置 - 特許庁

TEST METHOD OF D/A CONVERTER例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータのテスト方法 - 特許庁

It is time to test the mettle of man.例文帳に追加

男気を試す時が来た - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

For the test of dexterity and cleverness例文帳に追加

器用さと 利口さのテストだ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Don't worry about the result of your test. 例文帳に追加

テストの結果は気にするな。 - Tanaka Corpus

Don't worry about the result of your test.例文帳に追加

テストの結果は気にするな。 - Tatoeba例文

ENDURANCE TEST EQUIPMENT OF VEHICLE例文帳に追加

車両の耐久試験装置 - 特許庁

FORMING TEST METHOD OF FLANGE UP例文帳に追加

フランジアップ成形試験方法 - 特許庁

(6) Example of in vitro mutagenicity test例文帳に追加

(6) In vitro 変異原性試験の例 - 経済産業省

METHOD OF SUBJECTIVE TEST OF DEGREE OF MONOCULAR DIPLOPIA AND VISUAL TARGET FOR TEST例文帳に追加

自覚的単眼複視度検査方法及びその検査用視標 - 特許庁

To provide a test method, a test program, a test device and a test system, allowing improvement of test efficiency compared to a conventional test method.例文帳に追加

従来の試験方法に比べて、試験効率を向上することができる試験方法、試験プログラム、試験装置及び試験システムを提供する。 - 特許庁

METHOD OF PRESSURE RESISTANCE TEST OF AC ELEMENT例文帳に追加

交流素子の耐圧テスト方法 - 特許庁

To simultaneously test a plurality of devices under test without connecting test resources to all terminals of the plurality of devices under test.例文帳に追加

複数の被試験デバイスの全ての端子に試験リソースを接続することなく、複数の被試験デバイスを同時に試験する。 - 特許庁

TEST HOLE CONSTITUTIONAL MEMBER AND TEST HOLE STRUCTURE OF GAS PIPE例文帳に追加

ガス配管の試験孔構成具及び試験孔構造 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SOLDER TEST STRIP AND SOLDER TEST STRIP例文帳に追加

はんだ試験片の作製方法およびはんだ試験片 - 特許庁

TEST METHOD OF MEMORY, TEST DEVICE AND MEMORY MODULE FOR TESTING例文帳に追加

メモリのテスト方法、テスト装置及びテスト用メモリモジュール - 特許庁

ELECTRONIC PART TEST DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART例文帳に追加

電子部品試験装置および電子部品の試験方法 - 特許庁

To provide a test apparatus, a synchronization module and a synchronization method which can synchronize a plurality of test modules.例文帳に追加

複数の試験モジュールの試験を同期させる。 - 特許庁

TENSION BENDING TEST METHOD OF TUBULAR TEST SPECIMEN AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

管状試験体の引張曲げ試験方法及び装置 - 特許庁

To provide an endurance test equipment of vehicles which efficiently can test vehicles for endurance.例文帳に追加

車両の耐久試験を効率的に実施する。 - 特許庁

The test unit inputs the test result of the device to be tested.例文帳に追加

テスト装置は、被テストデバイスのテスト結果を入力する。 - 特許庁

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT OF MEMORY AND SELF TEST METHOD例文帳に追加

メモリの組み込み自己テスト回路および自己テスト方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TENSILE TEST OF FILMLIKE TEST PIECE例文帳に追加

フィルム状試験片の引張試験方法とその装置 - 特許庁

MANUFACTURING DEVICE FOR TEST PIECE, AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE例文帳に追加

試験片の製造装置及び試験片の製造方法 - 特許庁

TEMPERATURE MEASURING DEVICE OF LEAKAGE TEST DEVICE AND LEAKAGE TEST DEVICE例文帳に追加

洩れ検査装置の温度測定装置・洩れ検査装置 - 特許庁

CONTROL METHOD OF TEST BURN-IN APPARATUS AND TEST BURN- IN APPARATUS例文帳に追加

テストバーンイン装置の制御方法及びテストバーンイン装置 - 特許庁

CONNECTION CABLE FOR TEST PLUG, AND SHORT-CIRCUIT STRUCTURE OF TEST PLUG例文帳に追加

テストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造 - 特許庁

A W3CUTF-8 Test PageA UTF-8 test page provided by the University of FrankfurtInput Methods 例文帳に追加

フランクフルト大学によるUTF-8テストページ 入力方法 - Gentoo Linux

SCAN TEST CIRCUIT AND METHOD OF DESIGNING SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト回路およびスキャンテスト回路の設計方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF ERROR DETECTION CORRECTING CIRCUIT例文帳に追加

エラー検出訂正回路のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

半導体素子の試験方法及び半導体試験装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁

a test conducted to determine the strength of a material, called breaking strength test 例文帳に追加

破壊試験という,材料の強度などの検査 - EDR日英対訳辞書

a test for the detection of syphilis, called the Wassermann test 例文帳に追加

ワッセルマン反応という梅毒診断用の血清反応 - EDR日英対訳辞書

a test that is used for determining the presence of uterine cancer, called smear test 例文帳に追加

スメアテストという,子宮癌の有無の判定検査 - EDR日英対訳辞書

To speed up a test processing or generation of test data.例文帳に追加

試験処理や試験データの生成を高速化すること。 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF DATA PROCESSOR例文帳に追加

データ処理装置の試験方法 - 特許庁

PROBE FOR TEST OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路のテスト用プローブ - 特許庁

To obviate the need of a delay test controller or a plurality of DELAY TEST MODE signal lines to reduce a size of a circuit.例文帳に追加

ディレイテストコントローラや、複数本のDELAY TEST MODE信号線を不要にし、回路の規模を縮小する。 - 特許庁

LOAD TEST DEVICE OF DISCHARGE TUBE例文帳に追加

放電管の荷重検査装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST SYSTEM OF COMPUTER SYSTEM BY APPLICATION OF LOAD例文帳に追加

負荷の適用によるコンピュータシステムのテスト方法およびテストシステム - 特許庁

Whole of the subjects in the academic test 例文帳に追加

学科試験の科目の全部 - 日本法令外国語訳データベースシステム

METHOD FOR LEAK TEST OF HOLLOW FIBER MEMBRANE例文帳に追加

中空糸膜のリークテスト法 - 特許庁

TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置用試験装置 - 特許庁