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OF TESTの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
MEMORY PAUSE TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加
半導体集積回路のメモリポーズテスト回路及びテスト方法 - 特許庁
SELF-TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND SELF-TEST METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置の自己テスト回路及び自己テスト方法 - 特許庁
IMMUNO-CHROMATOGRAPH TEST PIECE AND DETECTION METHOD OF TEST SUBSTANCE例文帳に追加
免疫クロマトグラフ用試験片および被検物質の検出方法 - 特許庁
TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DATA TRANSMISSION TEST SYSTEM例文帳に追加
半導体集積回路のテスト回路及びデータ伝送テストシステム - 特許庁
A compression breaking strength test is performed by use of this test piece.例文帳に追加
このテストピースを用いて圧縮破壊強度試験を行う。 - 特許庁
When a sub-test in the test flow 200 is executed, the next test number in the present test number range is assigned to the result of the sub-test (106).例文帳に追加
テストフロー200内のサブテストが実行されると、サブテストの結果に、現在のテスト番号範囲内の次のテスト番号を割り当てる(106)。 - 特許庁
When a sub-test in the test flow is executed, the next test number in the present test number range is assigned to the result of the sub-test (106).例文帳に追加
テストフロー中のサブテストが実行されると、このサブテストの結果には、現在のテスト番号範囲中の次のテスト番号を割り当てる(106)。 - 特許庁
PROBING TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR CHIPS例文帳に追加
半導体チップのプロービングテスト方法 - 特許庁
TEST METHOD OF OPTICAL ANISOTROPIC FILM例文帳に追加
光学異方性膜の試験方法 - 特許庁
PRODUCTION OF FRAGILITY SIMULATION TEST MATERIAL例文帳に追加
脆化模擬試験材の製造方法 - 特許庁
TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS例文帳に追加
半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁
APPARATUS FOR SIMULATION TEST ON ABRASION OF CONTACT WIRE例文帳に追加
トロリ線の摩耗模擬試験装置 - 特許庁
Don't worry about the results of your test.例文帳に追加
テストの結果なんて気にすんなよ。 - Tatoeba例文
a psychometric test of intelligence 例文帳に追加
知能についての精神測定検査 - 日本語WordNet
a black siliceous stone formerly used to test the purity of gold and silver, called a Lydian stone 例文帳に追加
珪板岩という岩石 - EDR日英対訳辞書
HYDROSTATIC TEST APPARATUS OF WELDED STEEL TUBE例文帳に追加
溶接鋼管の水圧試験装置 - 特許庁
CLOCK SWITCHING DEVICE IN CASE OF LOOP TEST例文帳に追加
ループ試験時のクロック切替装置 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING ELONGATION OF TENSION TEST例文帳に追加
引張り試験の伸び計測方法 - 特許庁
CONTROL METHOD OF TEST FACILITY OF SMOKE DETECTOR例文帳に追加
煙感知器の試験設備の制御方法 - 特許庁
By performing a heating test, the performance of the toner is evaluated based on the ratio of the electrified amount of the toner obtained before the heating test to that obtained after the heating test.例文帳に追加
加熱試験を行って、加熱試験前後のトナー帯電量の比でトナーの性能を評価する。 - 特許庁
Upon the receipt of the test request, the test control section A12 transmits a test request frame to a test control section B22.例文帳に追加
試験制御部A12は試験要求を受けると、試験制御部B22に対して試験要求フレームを送信する。 - 特許庁
First, digital outputs of a device under test (DUT) clock are captured on an automated test equipment (ATE: Automated Test Equipment) digital channel.例文帳に追加
まず、自動試験装置(ATE:Automated Test Equipment)ディジタル・チャンネル上の被試験デバイス(DUT)クロックのディジタル出力を、キャプチャする。 - 特許庁
Then, the test instruction device 10 displays the test result of the test target software tested by the test execution device 20.例文帳に追加
そして、試験指示装置10が、試験実行装置20における試験対象ソフトウェアの試験結果を表示する。 - 特許庁
A test result of a test carried out based on the test plan is input by a test result input means 103.例文帳に追加
さらに、試験計画に基づいて実施された試験の試験結果を試験結果入力手段103にて入力する。 - 特許庁
METHOD FOR SEARCHING FOR TEST RESPONSE ERROR OF SELF-TEST CIRCUIT AND METHOD FOR EVALUATING DETECTION CAPABILITY OF TEST RESPONSE ERROR例文帳に追加
自己テスト回路のテスト応答エラー探索方法およびテスト応答エラー検出能力評価方法 - 特許庁
A test voltage V_T and a test current I_T to be applied at the time of a switching test of contact points are predetermined.例文帳に追加
接点の開閉試験時に印加する試験電圧V_Tと試験電流I_Tを予め規定する。 - 特許庁
To prevent generation of DUT (Device Under Test)destruction by output abnormality of a test signal generation part during a test.例文帳に追加
テスト中に、テスト信号発生部の出力異常によってDUT破壊を起こさないようにする。 - 特許庁
A plurality of test pattern groups (A-E) composed of a first test pattern 101 and a second test pattern 102 are formed.例文帳に追加
第1のテストパターン101と、第2のテストパターン102と、で構成された複数のテストパターン群(A〜E)を形成する。 - 特許庁
This test uses the JUnit assertTrue and assertFalse methods to test a variety of possible results.For the test of this method to pass, the assertTrue must all be true and assertFalse must all be false. 例文帳に追加
このメソッドのテストに合格するには、assertTrue がすべて true 、assertFalse がすべて false である必要があります。 - NetBeans
This test uses the JUnit assertTrue and assertFalse methods to test a variety of possilbe results.For the test of this method to pass, the assertTrue must all be true and assertFalse must all be false. 例文帳に追加
このメソッドのテストに合格するには、assertTrue がすべて true 、assertFalse がすべて false である必要があります。 - NetBeans
The product test device sets a test condition according to a product of a test target, and records lot information of the product performed with a test by use of the test condition associatively to the test condition.例文帳に追加
製品試験装置は、試験対象の製品に応じて試験条件を設定し、前記試験条件を用いて試験を行った製品のロット情報を前記試験条件と関連付けて記録していく。 - 特許庁
TEST FACILITATION DESIGN METHOD OF LSI例文帳に追加
LSIのテスト容易化設計方法 - 特許庁
TEST METHOD OF LARGE-SCALE SYSTEM LSI例文帳に追加
大規模システムLSIのテスト方法 - 特許庁
The signal of the boundary scan test of a circuit board or test result is transmitted.例文帳に追加
回路基板のバウンダリスキャンテストの信号またはテスト結果を送信する。 - 特許庁
COMPRESSION CREEP TEST APPARATUS OF REFRACTORY例文帳に追加
耐火物の圧縮クリープ試験装置 - 特許庁
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