「Overlay Method」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

OVERLAY VERNIER OF SEMICONDUCTOR ELEMENT AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

半導体素子のオーバーレイバーニアとその製造方法 - 特許庁

OVERLAY MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

重ね合わせ測定方法及び重ね合わせ測定装置 - 特許庁

METHOD FOR DISTRIBUTING CIPHER KEY THROUGH OVERLAY DATA NETWORK例文帳に追加

オーバレイデータネットワークで暗号化キーを配布する方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR SELECTING OVERLAY NETWORK PATH, AND PROGRAM例文帳に追加

オーバーレイネットワーク経路選択システムと方法およびプログラム - 特許庁

WELDING METHOD FOR GROOVE FOR EXISTING OVERLAY-WELDED PART例文帳に追加

既設肉盛溶接部に対する開先溶接方法 - 特許庁

FREQUENCY OVERLAY COMMUNICATION SYSTEM AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

周波数オーバーレイ通信システム及びその制御方法 - 特許庁

OVERLAY VERNIER MASK PATTERN, METHOD OF FORMING THE SAME, SEMICONDUCTOR ELEMENT CONTAINING OVERLAY VERNIER PATTERN, AND METHOD OF FORMING THE SAME例文帳に追加

オーバーレイバーニアマスクパターンとその形成方法、並びにオーバーレイバーニアパターンを含む半導体素子とその形成方法 - 特許庁

PORTABLE TERMINAL AND METHOD AND PROGRAM FOR OUTPUTTING OVERLAY例文帳に追加

携帯端末、オーバーレイ出力方法、及びそのプログラム - 特許庁

OVERLAY ACCURACY MEASUREMENT METHOD, EXPOSURE DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF DEVICE例文帳に追加

重ね合わせ精度計測方法、露光装置、及びデバイス製造方法 - 特許庁

PRINTER PROVIDED WITH FORM OVERLAY FUNCTION, FORM OVERLAY CONTROLLING AND MANAGING METHOD AND RECORDING MEDIUM WITH FORM OVERLAY CONTROLLING AND MANAGING PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加

フォームオーバレイ機能を備えた印刷装置およびフォームオーバレイ制御・管理方法並びにフォームオーバレイ制御・管理プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

POWER OVERLAY STRUCTURE FOR MEM DEVICE, AND METHOD FOR PRODUCING POWER OVERLAY STRUCTURE FOR MEM DEVICE例文帳に追加

ＭＥＭ装置用パワーオーバーレイ構造およびＭＥＭ装置用パワーオーバーレイ構造を作製するための方法。 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING TOPOLOGY OF OVERLAY NETWORK, SYSTEM, AND PROGRAM例文帳に追加

オーバーレイネットワークのトポロジー制御方法とシステムおよびプログラム - 特許庁

TRAFFIC CONTROL SYSTEM AND METHOD FOR OVERLAY NETWORK, AND PROGRAM例文帳に追加

オーバーレイネットワークのトラヒック制御システムと方法およびプログラム - 特許庁

METHOD OF MEASURING OVERLAY ERROR, INSPECTION APPARATUS, AND LITHOGRAPHIC APPARATUS例文帳に追加

オーバレイエラーの測定方法、検査装置及びリソグラフィ装置 - 特許庁

METHOD FOR PROVIDING PERIPHERAL DEVICE VIRTUAL FUNCTIONALITY OVERLAY SYSTEM例文帳に追加

周辺機器仮想機能性オーバレイシステムを提供する方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DYNAMIC LINKING PROGRAM OVERLAY例文帳に追加

動的にリンクするプログラムのオーバーレイのための方法及び装置 - 特許庁

OVERLAY ERROR MEASURING METHOD AND SYSTEM FOR HIGH ELECTRON ENERGY BASE例文帳に追加

高電子エネルギベースのオーバーレイ誤差測定方法及びシステム - 特許庁

To provide a cylinder block for an engine subjected to overlay welding which has high heat conductivity and weld overlay property, a method for manufacturing the same, and a weld overlay material.例文帳に追加

高い熱伝導性と肉盛り性とを兼備した、肉盛り溶接したエンジン用シリンダブロック、その製造方法および肉盛り材を提供する。 - 特許庁

OVERLAY CONTROL METHOD, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING METHOD, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

オーバーレイ制御方法、半導体製造方法および半導体製造装置 - 特許庁

METHOD, SYSTEM, AND PROGRAM FOR DETERMINING OVERLAY NETWORK COMMUNICATION PATH例文帳に追加

オーバーレイネットワーク通信経路決定方法とシステムおよびプログラム - 特許庁

SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM FOR COMPUTING OVERLAY NETWORK COMMUNICATION PATH例文帳に追加

オーバーレイネットワーク通信経路計算システムと方法およびプログラム - 特許庁

OVERLAY FILM FORMING COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING PHOTORESIST PATTERN例文帳に追加

上層膜形成組成物およびフォトレジストパターン形成方法 - 特許庁

To provide a multiple exposure method wherein overlay accuracy is improved.例文帳に追加

オーバレイ正確度の向上した多重露光法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE FOR MEASURING OVERLAY ERROR, METHOD FOR MEASURING OVERLAY ERROR, LITHOGRAPHIC APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

オーバーレイエラーを測定するための半導体デバイス、オーバーレイエラーを測定するための方法、リソグラフィ装置、およびデバイス製造方法 - 特許庁

METHOD FOR DESIGNING UNDERLAY-OVERLAY NETWORK FOR MOBILE RADIO COMMUNICATION例文帳に追加

移動無線通信用のアンダ—レイ—オ—バレイ・ネットワ—クの設計方法 - 特許庁

METHOD, SYSTEM, AND PROGRAM FOR CONTROLLING OVERLAY NETWORK COMMUNICATION PATH例文帳に追加

オーバーレイネットワーク通信経路制御方法とシステムおよびプログラム - 特許庁

ULTRAVIOLET LIGHT CURING OVERLAY FILM DECORATIVE BOARD FOR WALL, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

紫外線硬化被膜壁面化粧板及びその製造方法 - 特許庁

OVERLAY VERNIER AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THIS例文帳に追加

オーバーレイバーニア及びこれを用いた半導体素子の製造方法 - 特許庁

OVERLAY MULTICAST DISTRIBUTION NETWORK CONFIGURATION METHOD, SYSTEM AND PROGRAM例文帳に追加

オーバーレイマルチキャスト配信ネットワーク構成方法とシステムおよびプログラム - 特許庁

COMPUTER CONTROL SYSTEM TO GIVE LABEL AND METHOD TO OVERLAY LABEL例文帳に追加

ラベルを付与するコンピュータ制御システムおよびラベルをオーバレイする方法 - 特許庁

METHOD OF ESTIMATING DELAY TIME IN OVERLAY NETWORK, PEER NODE, AND PROGRAM例文帳に追加

オーバレイネットワークにおける遅延時間推定方法、ピアノード及びプログラム - 特許庁

OVERLAY NETWORK SYSTEM, AND METHOD OF OBJECT REGISTRATION IN THE SYSTEM例文帳に追加

オーバーレイネットワークシステム及び同システムにおけるオブジェクト登録方法 - 特許庁

LITHOGRAPHY DEVICE USING OVERLAY MEASUREMENT AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

オーバーレイ測定を使用するリソグラフィ装置およびデバイス製造方法 - 特許庁

METHOD OF DECIDING LATENCY IN OVERLAY NETWORK, PEER NODE AND PROGRAM例文帳に追加

オーバレイネットワークにおける遅延時間判定方法、ピアノード及びプログラム - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING OVERLAY ERROR USING SCATTERING MEASUREMENT例文帳に追加

散乱計測を用いてオーバレイ誤差を検出する装置および方法 - 特許庁

To provide an overlay construction method, a cutting overlay construction method, and a paving construction method, which solves problems of noises and vibration, minimizes a cutting range, and offer superior workability.例文帳に追加

騒音及び振動問題をクリアし、切断範囲を最小限とし、作業性の優れたオーバーレイ工法、切削オーバーレイ工法及び舗装工法の提供。 - 特許庁

To provide an alternative method of calculating an overlay error which reduces the effect of noise and results in a more accurate overlay error calculation.例文帳に追加

ノイズの効果を低下させ、オーバレイエラーの計算がさらに正確になるオーバレイエラーの代替計算方法を提供する。 - 特許庁

PHOTOMASK, METHOD FOR MEASURING SHOT OVERLAY ACCURACY, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

フォトマスク、ショット重ね合わせ精度測定方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

POSITIONING METHOD, OVERLAY OPTIMIZATION METHOD, DEVICE MANUFACTURING METHOD, AND LITHOGRAPHIC PROJECTION APPARATUS例文帳に追加

位置決定方法、重ね合わせの最適化方法、デバイスの製造方法、及びリソグラフィ投影装置 - 特許庁

MULTI-SECTION MATTRESS OR MATTRESS OVERLAY AND METHOD OF MAKING THE SAME例文帳に追加

複合部分体マットレス又はマットレス上敷き及びその製造方法 - 特許庁

INFORMATION COMMUNICATIONS SYSTEM, NODE APPARATUS, AND OVERLAY NETWORK FORMING METHOD OR THE LIKE例文帳に追加

情報通信システム、ノード装置、及びオーバーレイネットワーク形成方法等 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SPECIFYING OVERLAY NETWORK GENERATION APPLICATION STARTING NODE例文帳に追加

オーバレイネットワーク生成アプリケーション起動ノード特定装置およびその方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING OF MULTILAYER METAL FOIL OVERLAY LAMINATE BOARD AND ADHESIVE RESIN SHEET例文帳に追加

多層金属箔張り積層板の製造法及び接着樹脂シート - 特許庁

PRODUCTION SUPPORT SYSTEM, INSPECTION METHOD OF OVERLAY ACCURACY, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

生産支援システム、重ね合わせ精度の検査方法および記録媒体 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING PROCESS ERROR, AND METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING OVERLAY UTILIZING THE SAME例文帳に追加

工程エラー測定方法及び装置とこれを利用したオーバーレー測定方法及び装置 - 特許庁