意味 | 例文 (999件) |
PATTERN DEFECTの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1125件
PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
パターン欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加
パタ—ン欠陥修正装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT CLASSIFICATION DEVICE例文帳に追加
パタ—ン欠陥分類装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT ANALYSIS EQUIPMENT, PATTERN DEFECT ANALYSIS METHOD, AND PATTERN DEFECT ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加
パターン欠陥解析装置、パターン欠陥解析方法およびパターン欠陥解析プログラム - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF CIRCUIT PATTERN例文帳に追加
回路パターンの欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥修正装置 - 特許庁
WIRING PATTERN DEFECT CONFIRMING APPARATUS例文帳に追加
配線パターン欠陥確認装置 - 特許庁
DEFECT CORRECTING METHOD FOR PATTERN例文帳に追加
パターンの欠陥修正方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT ANALYSIS SUPPORT APPARATUS AND PATTERN DEFECT ANALYSIS SUPPORT PROGRAM例文帳に追加
パターン欠陥解析支援装置およびパターン欠陥解析支援プログラム - 特許庁
PATTERN DEFECT CORRECTION METHOD AND PATTERN DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥修正方法およびパターン欠陥修正装置 - 特許庁
DEFECT CORRECTION DEVICE, DEFECT CORRECTION METHOD, AND PATTERN SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法 - 特許庁
To evaluate defect detection sensitivity in inspection of a defect of a mask pattern.例文帳に追加
マスクパターンの欠陥検査における欠陥検出感度の評価を行う。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN EXTRACTION METHOD例文帳に追加
欠陥検査方法、欠陥検査装置、及びパターン抽出方法 - 特許庁
INK FOR CORRECTING MINUTE DEFECT IN COLORED PATTERN AND METHOD FOR CORRECTING MINUTE DEFECT IN COLORED PATTERN例文帳に追加
微小着色パターン欠陥修正用インキ、及び微小着色パターン欠陥修正方法 - 特許庁
LASER-ASSISTED CVD SYSTEM, LASER-ASSISTED CVD METHOD, PATTERN DEFECT CORRECTING SYSTEM, AND PATTERN DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加
レーザCVD装置、レーザCVD法、パターン欠陥修正装置及びパターン欠陥修正方法 - 特許庁
DEFECT CORRECTION DEVICE FOR PATTERN SUBSTRATE, DEFECT CORRECTION METHOD THEREFOR, AND METHOD OF MANUFACTURING PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加
パターン基板の欠陥修正装置及び欠陥修正方法並びにパターン基板製造方法 - 特許庁
The defect inspection of the design pattern 3 and the defect inspection of the monitor pattern 5 are performed by using the defect inspection apparatus and after the defect of the monitor pattern 5 is confirmed to be detectable by the defect inspection apparatus, the defect of the design pattern 3 detected in the defect inspection is corrected.例文帳に追加
そして、欠陥検査装置を用いて設計パタン3の欠陥検査およびモニタパタン5の欠陥検査を行い、欠陥検査装置によってモニタパタン5の欠陥が検出可能であることを確認した後、欠陥検査において検出された設計パタン3の欠陥を修正する。 - 特許庁
FINE PATTERN CORRECTION DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF FINE PATTERN例文帳に追加
微細パターン修正装置および微細パターンの欠陥修正方法 - 特許庁
REPEAT PATTERN ERASING METHOD AND PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加
繰り返しパターン消去方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND INSPECTING DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT CORRECTING METHOD OF ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
電子回路パターンの欠陥修正方法およびその装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加
パターン欠陥検査方法およびパターン欠陥検査装置 - 特許庁
UNEVENNESS DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE OF PATTERN例文帳に追加
パターンのムラ欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE OF PERIODIC PATTERN例文帳に追加
周期性パターンの欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
パターン欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加
パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD FOR PATTERN AND ITS DEVICE例文帳に追加
パターンの欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR PATTERN DEFECT INSPECTION例文帳に追加
パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 - 特許庁
INSPECTING METHOD OF PATTERN DEFECT AND INSPECTING DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁
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