「Scanning method」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

CONFOCAL SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL TOMOGRAPHIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法 - 特許庁

SKEW ADJUSTMENT METHOD AND TOOL FOR LASER SCANNING UNIT IN IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

画像形成装置におけるレーザ走査ユニットのスキュー調整方法及びスキュー調整用治具 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS, SCANNING BEAM PITCH DEVIATION CORRECTION METHOD, COMPUTER PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

画像形成装置、走査ビームのピッチずれ補正方法、コンピュータプログラム、及び記録媒体 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ENCODING/DECODING INTERLACED SCANNING IMAGE BY USING MOTION VECTOR CONVERSION例文帳に追加

動きベクトル変換を用いた飛越し走査映像符号化／復号化方法および装置 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR CONVERTING SEQUENTIAL SCANNING, SETTOP BOX AND TELEVISION RECEIVER例文帳に追加

順次走査変換回路、セットトップボックス、テレビジョン受像機、及び順次走査変換方法 - 特許庁

To provide a method for simplifying astigmatism correcting work of a scanning type charged particle microscope.例文帳に追加

走査形荷電粒子顕微鏡の非点収差補正作業の簡易化方法に関する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, NANO TWEEZERS DEVICE, AND SAMPLE SURFACE SHAPE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置、ナノピンセット装置および試料表面形状観察方法 - 特許庁

To provide a reconstitution method for helical scanning for providing an improved slice interpolation.例文帳に追加

改良したスライス補間を提供するヘリカルスキャン用の再構成技法を提供すること。 - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR FINE THREE-DIMENSIONAL SHAPE ON SURFACE OF SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料表面の微細立体形状の観察法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ELIMINATING SHOOT THROUGH EVENT DURING MASTER SLAVE FLIP FLOP SCANNING例文帳に追加

マスタ・スレーブ・フリップ・フロップ走査動作中のシュート・スルー事象を除去する方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING RESIST PATTERN, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DIMENSION MEASURING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

レジストパターン測定方法、走査電子顕微鏡型測長装置及び半導体装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING DIMENSION OF CIRCUIT PATTERN BY USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた回路パターンの寸法計測装置およびその方法 - 特許庁

METHOD FOR SCANNING PHOTOGRAPHIC FILM PICTURE USING SELECTIVELY DETERMINED SYSTEM RESPONDING GAIN CALIBRATION例文帳に追加

選択的に決定されるシステム応答ゲイン較正を用いた写真フィルム画像の走査方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR WORKFLOW CONTROL OF ELECTRONIC DOCUMENT DATA GENERATED BY IMAGE SCANNING例文帳に追加

画像走査によって生成された電子ドキュメント・データのワークフロー制御システムおよび方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DYNAMIC STEP IN SELF REFERENCE AND LENS DISTORTION IN SCANNING FIELD例文帳に追加

自己参照の動的ステップおよび走査フィールド内レンズ歪みのための方法および装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR QUANTITATIVE THREE DIMENSIONAL RECONSTRUCTION IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における定量的３次元再構成のための方法および装置 - 特許庁

MAGNETIC RESONANCE IMAGING APPARATUS AND METHOD, SCANNING DEVICE, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

磁気共鳴イメージング装置，磁気共鳴イメージング方法，スキャン装置，プログラム，および、記憶媒体 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING SURFACE LAYER THICKNESS USING CONTINUOUS MULTI-WAVELENGTH SURFACE SCANNING例文帳に追加

連続多波長表面スキャンを用いて表面レイヤ厚さを決定する方法および装置 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING CARBON NANO-STRUCTURAL MATERIAL, FIELD EMISSION DISPLAY AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

カーボンナノ構造材の製造方法、フィールドエミッションディスプレイおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ION IMPLANTATION SYSTEM HAVING HYBRID JUNCTION AND DOUBLE MECHANICAL SCANNING STRUCTURE AND IMPLANTATION METHOD例文帳に追加

ハイブリッド結合及び二重機械式走査構造を有するイオン注入システム及び方法 - 特許庁

MULTI-BEAM SCANNING METHOD, MULTI-BEAM SCANNER AND ITS LIGHT SOURCE DEVICE AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加

マルチビーム走査方法・マルチビーム走査装置およびその光源装置・画像形成装置 - 特許庁

DOCUMENT PRINTING AND SCANNING METHOD USING LOW RESOLUTION BARCODE TO ENCODE RESOLUTION DATA例文帳に追加

解像度データを符号化する低解像度バーコードを用いた文書の印刷及びスキャン方法 - 特許庁

To provide a method for raster scanning charged particle beam exposure by which a substrate can be exposed to a desired pattern.例文帳に追加

所望パターンを露光できるラスタースキャン荷電粒子線描画方法を提供する。 - 特許庁

MICROSTRUCTURE, MICRO-OPTICAL DEFLECTOR, OPTICAL SCANNING DISPLAY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

マイクロ構造体、マイクロ光偏向器、光走査型表示装置、及びそれらの製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR OPTICAL SCANNING AND DISPLACEMENT MEASURING INSTRUMENT USING THE DEVICE例文帳に追加

光走査方法および光走査装置並びに該光走査装置を用いた変位測定装置 - 特許庁

OPTICAL CHARACTERISTICS MEASURING APPARATUS AND OPTICAL CHARACTERISTICS MEASURING METHOD FOR LASER SCANNING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

レーザ走査光学系の光学特性測定装置及びその光学特性測定方法 - 特許庁

To provide a method and apparatus for scanning for an idle channel in a frequency environment.例文帳に追加

周波数環境での遊休チャンネル検索方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plasma display device and a driving method that can decrease the number of scanning circuits.例文帳に追加

走査回路の数を減らせるプラズマ表示装置及びその駆動方法を提供する。 - 特許庁

PROBE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, BIOMOLECULE CHIP, BIOMOLECULE OBSERVATION METHOD, AND METHOD FOR IMMOBILIZING BIOMOLECULE例文帳に追加

プローブ、走査型プローブ顕微鏡及び生体分子チップ並びに生体分子観察方法及び生体分子固定方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, CONTROL METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND METHOD FOR FORMING SCANNING DIGITAL SIGNAL例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置の制御方法並びに走査用デジタル信号の形成方法 - 特許庁

CORRECTION METHOD, LIGHT SOURCE APPARATUS, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, OPTICAL SCANNING APPARATUS, IMAGE FORMING DEVICE, TESTING DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

補正方法、光源装置、プログラム、記録媒体、光走査装置、画像形成装置、試験装置及び試験方法 - 特許庁

SCANNING START POINT DETECTING METHOD, SCANNER AND METHOD AND DEVICE FOR READING IMAGE INFORMATION例文帳に追加

走査開始点検出方法および走査装置、並びに画像情報読取方法および画像情報読取装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MANUFACTURED BY THE SAME METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針の作製方法、該作製方法によって作製された探針及び作製装置 - 特許庁

SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM APPLYING APPARATUS AND MICROSCOPING METHOD AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING METHOD USING THE DEVICE例文帳に追加

走査型荷電粒子線応用装置ならびにそれを用いた顕微方法および半導体装置製造方法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF GROOVE SHAPE BY SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EVALUATION METHOD OF DISK SUBSTRATE OR LIGHT GUIDE PLATE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による溝形状の解析方法およびディスク基板または導光板の評価方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR OPTICAL SCANNING OF THREE-DIMENSIONAL OBJECT BY MEANS OF DENTAL 3D CAMERA USING TRIANGULATION METHOD例文帳に追加

三角測量法を用いた歯科用３Ｄカメラによる３次元物体の光学的走査方法および装置 - 特許庁

To provide a semiconductor test circuit for remarkably reducing an amount of a scanning test pattern and shortening a full scanning test time by modifying the constitution of an inside scanning chain at any time without increasing a test terminal and remarkably shortening a once-scanning shift action period in an LSI full scanning design, and to provide its test method.例文帳に追加

ＬＳＩのフルスキャン設計において、テスト端子を増加させずに、内部スキャンチェーンの構成を随時変更し、１回のスキャンシフト動作期間の大幅な短縮を行うことで、スキャンテストパターン量の大幅な削減とフルスキャンテスト時間の短縮を可能とする半導体テスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

In the charged particle beam scanning method scanning charged particle beams in the prescribed scanning pattern and the charged particle beam device, in accordance with a replacement of a frame, a scanning starting point in the vertical direction of a scanning line is changed by the prescribed amount in the prescribed direction.例文帳に追加

上記目的を達成するための一態様として、所定の走査パターンにて荷電粒子ビームを走査する荷電粒子ビーム走査方法、及び装置において、フレーム更新に従って、走査線の垂直方向における走査始点を、所定の方向に、所定量ずつ変化させる方法、及び装置を提案する。 - 特許庁

A scanning order decision unit 5 reads the quantized coefficients out of the quantized coefficient storage unit 4 with a plurality of different scanning methods, calculates summations of weighted values of continued numbers of significant quantized coefficients read out with the respective scanning methods, and, according to the summation result, selects a suitable scanning method among the plurality of scanning methods.例文帳に追加

スキャン順序判定部５は、異なる複数の走査方法により量子化係数格納部４から量子化係数を読み出し、走査方法ごとに有意の量子化係数の連続数を重み付けした値の総和を計算し、その総和に基づいて、複数の走査方法のうち、適した走査方法を選択する。 - 特許庁

METHOD FOR USING CHIP OF SCANNING PROBE MICROSCOPE, PRODUCT FOR PERFORMING THE METHOD OR PRODUCT MANUFACTURED BY THE METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡チップの使用方法及び該使用方法を実施するための製品又は該使用方法によって製造される製品 - 特許庁

OPTICAL SCANNING OPTICAL APPARATUS, IMAGE FORMING APPARATUS USING THE SAME AND METHOD OF CORRECTING CHANGE IN POSITION OF FOCAL POINT IN SUB-SCANNING DIRECTION DUE TO TEMPERATURE CHANGE例文帳に追加

光走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置と温度変動に伴う副走査方向の焦点位置変化を補正する方法 - 特許庁

To provide a light scanning system, a laser radar system, and a light scanning method, wherein the sensitivity is kept constant in a full range of a wide-angle visual field region.例文帳に追加

広角度の視野領域の全範囲において感度を一定に保持することができる光走査装置、レーザレーダ装置、及び光走査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laser beam heating method by which an object can be uniformly heated to its inner side by laser beam scanning when the object is heated by the laser beam scanning.例文帳に追加

レーザ光の走査によって対象物を加熱する場合において、対象物の内部まで均一な加熱を可能にするレーザ加熱方法を提供する。 - 特許庁

To provide a CT scanning system and a CT scanning method for analyzing unreconstructed scan data for specifying objects having potential threats.例文帳に追加

恐れのある物を特定するために、再構成されていないスキャンデータの解析を行うＣＴスキャンシステム及びＣＴスキャン方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a phased scanning method and a phased scan eddy current array probe suitable for an in-situ eddy current inspection of a structure without scanning mechanically.例文帳に追加

機械的に走査することなく、構造体の現場での渦電流検査に適する同期式走査方法及び同期式走査渦電流アレイプローブを提供する。 - 特許庁