Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14405件
TESTING DEVICE, QUALITY DETERMINATION REFERENCE SETTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加
試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラム - 特許庁
TESTING DEVICE FOR SDH TRANSMISSION DEVICE例文帳に追加
SDH伝送装置の試験装置 - 特許庁
ENDURANCE TESTING MACHINE FOR SEAT-USE SKIN AND ENDURANCE TESTING METHOD USING SAME例文帳に追加
シート用表皮の耐久試験装置とそれを用いた耐久試験方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
試験装置、及びデバイス製造方法 - 特許庁
AVIATION ENGINE ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE例文帳に追加
航空機用エンジン環境試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD FOR FACSIMILE MACHINE, THE FACSIMILE MACHINE AND FACSIMILE TESTING DEVICE例文帳に追加
ファクシミリ装置の試験方法およびファクシミリ装置およびファクシミリ試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR ROTARY SHAFT AXIAL LOAD MEASURING DEVICE例文帳に追加
回転軸用アキシアル荷重測定装置の検定方法及び検定装置 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
集積回路及びその試験方法 - 特許庁
SUITABILITY TESTING APPARATUS AND SUITABILITY TESTING METHOD OF TIRE SLIP PREVENTING MEMBER例文帳に追加
タイヤ滑り止め部材の適合性試験装置および適合性試験方法 - 特許庁
ERECTING DEVICE OF TESTING POLE IN DEVICE FOR TESTING MOUNTING POLE OF ASSEMBLING METAL FITTING例文帳に追加
装柱金具の実装柱試験装置における試験柱の立設装置 - 特許庁
SYSTEM OR TESTING IC, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
IC試験システム、及び記憶媒体 - 特許庁
This testing device 2 is employed for testing a DUT 1 which performs source synchronous transmission.例文帳に追加
試験装置2は、ソースシンクロナス伝送を行うDUT1を試験する。 - 特許庁
TELEVISION TUNER AUTOMATIC PRESET MEASUREMENT TESTING DEVICE例文帳に追加
テレビチューナオートプリセット測定テスト装置 - 特許庁
HANDLER, AND TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
ハンドラおよび電子部品試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD FOR REAR-END COLLISION OF RUNNING VEHICLE AND TESTING APPARATUS FOR COLLISION OF VEHICLE例文帳に追加
走行車両の追突試験方法、及び車両衝突試験装置 - 特許庁
OPTICAL MODULATION DEVICE AND TESTING DEVICE例文帳に追加
光変調装置および試験装置 - 特許庁
To shorten total testing time, in the testing of a circuit to be tested.例文帳に追加
被試験回路をテストする場合の総合的なテスト時間を短縮する。 - 特許庁
POWER LINE ARTIFICIAL GROUND FAULT TESTING SYSTEM AND POWER LINE ARTIFICIAL GROUND FAULT TESTING METHOD例文帳に追加
配電線人工地絡試験装置および配電線人工地絡試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加
半導体記憶装置の試験方法及び半導体記憶装置の試験装置 - 特許庁
METHOD OF CONTROLLING TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイス試験装置の制御方法・半導体デバイス試験装置 - 特許庁
MATERIAL TESTING MACHINE AND MEASURED TEMPERATURE DISPLAY METHOD IN MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
材料試験機および材料試験機における測定温度表示方法 - 特許庁
TEST OBJECT FOR TESTING ADHESIVENESS AND ADHESIVENESS TESTING METHOD USING IT例文帳に追加
接着性試験用試験体およびそれを用いた接着性試験方法 - 特許庁
PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
プローブカード及び半導体試験装置 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND WRITE CONTROL CIRCUIT例文帳に追加
試験装置及び書込制御回路 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR SHOCK ABSORBING DEVICE例文帳に追加
衝撃吸収装置の試験装置 - 特許庁
DAMAGE EVALUATION TESTING METHOD AND DAMAGE EVALUATION TESTING APPARATUS IN IRONING例文帳に追加
しごき加工時の損傷評価試験方法および損傷評価試験装置 - 特許庁
CAPILLARY TYPE LEAKAGE TESTING PIECE, TESTING METHOD THEREFOR, AND METHOD OF DETECTING BLINDING例文帳に追加
キャピラリー型漏れ試験片とその試験方法及び目詰まり検出方法 - 特許庁
CONTINUOUS REGENERATION TESTING DEVICE FOR FILTER, AND CONTINUOUS REGENERATION TESTING METHOD OF FILTER例文帳に追加
フィルタ用連続再生試験装置及びフィルタの連続再生試験方法 - 特許庁
COMMUNICATION RECOVERING METHOD FOR MATERIAL TESTING DEVICE AND MATERIAL TESTING DEVICE例文帳に追加
材料試験装置における通信復帰方法および材料試験装置 - 特許庁
TESTING SYSTEM AND BACK ANNOTATION METHOD例文帳に追加
試験システム及びバックアノテーション方法 - 特許庁
Material testing machine, gas concentration measuring instrument, air-flow resistance testing device, dust capturing rate measuring device, dead space testing device, and exhaust air valve airtightness testing device 例文帳に追加
材料試験機、ガス濃度計測器、通気抵抗試験装置、粉じん捕集効率測定装置、死積試験装置及び排気弁気密試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
MATCH PLATE FOR ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加
電子部品試験装置用マッチプレ—ト - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING WEATHER AND LIGHT RESISTANCE例文帳に追加
耐候光試験装置及び方法 - 特許庁
TESTING SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
試験装置、プログラム、及び記録媒体 - 特許庁
CONTROL UNIT AND TESTING METHOD FOR IT例文帳に追加
制御ユニット及びその検査方法 - 特許庁
| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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