「electron microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

ELECTRON BEAM INTERFERENCE DEVICE AND ELECTRON BEAM INTERFERENCE MICROSCOPE METHOD例文帳に追加

電子線干渉装置、および電子線干渉顕微方法 - 特許庁

ADJUSTMENT METHOD OF ELECTRON BEAM IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法 - 特許庁

ELECTRON STAINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

透過電子顕微鏡観察用試料の電子染色法。 - 特許庁

TEST SAMPLE EXAMINING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料検査方法及び走査型顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及びその撮像方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD UNDER ELECTRON MICROSCOPE OF RESIN SAMPLE例文帳に追加

樹脂試料の電子顕微鏡観察方法 - 特許庁

SAMPLE CREATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料作成方法 - 特許庁

IMAGE OBSERVATION METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

像観察方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR SCANNING SECONDARY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型２次電子顕微鏡の観察方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATION PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND COMPUTER READABLE RECORD MEDIUM例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

SAMPLE FOR RESOLUTION EVALUATION OF ELECTRON MICROSCOPE, RESOLUTION EVALUATION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND THE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の分解能評価用試料及び電子顕微鏡の分解能評価方法並びに電子顕微鏡 - 特許庁

MOVABLE PROBE APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND SPECIMEN OBSERVING METHOD WITH ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用可動プローブ装置および電子顕微鏡の試料観察方法 - 特許庁

EMITTED ELECTRON ACCELERATING METHOD IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

複合放出電子顕微鏡における放出電子加速方法 - 特許庁

ELECTRODE RING, ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD OF ELECTRODE RING, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電極リング、電子顕微鏡、電極リングの製造方法及び電子顕微鏡の製造方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND STEREOSCOPIC OBSERVING METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡及び立体観察法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, AND DIFFRACTION IMAGE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡、および回折像観察方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び試料撮影方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料作製方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR EVALUATING ASTIGMATISM例文帳に追加

電子顕微鏡、及び非点収差評価方法 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡による測長方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PREPARATION METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び試料作成方法 - 特許庁

SAMPLE OBSERVATION METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた試料の観察方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡およびその観察方法 - 特許庁

DEFECT REVIEW METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DEFECT REVIEW APPARATUS USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE REVIEW APPARATUS例文帳に追加

ＳＥＭ式レビュー装置を用いた欠陥レビュー方法及びＳＥＭ式欠陥レビュー装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND MANUFACTURING APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料の製造方法および電子顕微鏡用試料の製造装置 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料作製方法及び電子顕微鏡観察用の試料 - 特許庁

METHOD OF PREPARING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND SAMPLE PIECE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料作製方法及び透過電子顕微鏡用試料片 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の作製方法及び透過電子顕微鏡用試料 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ACCELERATION VOLTAGE OPTIMIZATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡における加速電圧最適化方法 - 特許庁

POSITION DETERMINATION METHOD OF MEASURING OBJECT IN ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における測定対象物の位置決定方法および電子顕微鏡 - 特許庁

TEST PIECE OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡による試料観察方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE CONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡および３次元像構築方法 - 特許庁

TEMPLATE MATCHING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

テンプレートマッチング方法、および走査電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の制御装置及び制御方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びパターン測定方法 - 特許庁

SAMPLE POSITION CORRECTION METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における試料位置補正方式 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料の作製方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその制御方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE CONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び三次元像構築方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡及びその制御方法 - 特許庁

MESH FOR ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

電子顕微鏡用メッシュ及びその製造方法 - 特許庁