「electron microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection method of a test piece in an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡における試料の検査方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR AUTOMATICALLY DETERMINING ARRANGEMENT OF TILT SERIES IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡におけるチルト系列の自動配置決定方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD OF FIB-PROCESSED SAMPLE BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ＦＩＢによる加工試料の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡システムおよびそれを用いた検査方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF THIN FILM BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による薄膜の厚みの測定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND ITS FOCUSING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置およびその焦点あわせ方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

走査電子顕微鏡システムおよび集積回路の製造方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH GRAPHICAL USER INTERFACE AND ITS NOISE ELIMINATION METHOD例文帳に追加

ＧＵＩを備えた電子顕微鏡及びそのノイズ除去方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

透過型電子顕微鏡およびそれを用いた像観察方法 - 特許庁

COMPACT COLUMN ELECTRON MICROSCOPE COMBINED DEVICE, AND DEFECT OBSERVATION METHOD例文帳に追加

小型カラム電子顕微鏡複合装置及び欠陥観察方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置の評価方法及び評価装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD OF THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND IMAGING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置およびそれを用いた撮像方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

走査電子顕微鏡及びそれを用いた試料観察方法 - 特許庁

FIXING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE TABLE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の固定方法および試料台 - 特許庁

SAMPLE HEATING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡用試料加熱ホルダ及び試料観察方法 - 特許庁

REMOTE CONTROL METHOD AND REMOTE CONTROL SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の遠隔制御方法及び遠隔制御システム - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING THICKNESS OF AMORPHOUS LAYER OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料のアモルファス層の厚さ評価方法および透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

SPACER FOR NANO-IMPRINTING, PREPARATION METHOD OF SPECIMEN FOR CONDITIONING ELECTRON-MICROSCOPE USING IT, SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE CONDITIONING AND ELECTRON-MICROSCOPE PROVIDED WITH IT例文帳に追加

ナノインプリント用スペーサ、及びこれを用いた電子顕微鏡調整用試料の製造方法、並びに電子顕微鏡調整用試料、及びこれを備えた電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON BEAM ADJUSTING METHOD, CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM CONTROL DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの調整方法，荷電粒子光学系制御装置、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

To provide an electron gun capable of aiming at higher quality of electron beams in a simple way and provide an electron microscope and an electron generation method.例文帳に追加

簡便に電子ビームの高品質化を図ることができる電子銃、電子顕微鏡、及び電子発生方法を提供する。 - 特許庁

REFERENCE SAMPLE FOR ELEMENT MAPPING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT MAPPING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法 - 特許庁

ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH, AND ELECTRON ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD例文帳に追加

電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法 - 特許庁

IRIS DEVICE TO BE USED FOR ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING IRIS DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡に用いる絞り装置及びその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR CROSS-SECTIONAL OBSERVATION BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING THIN-FILM SAMPLE FOR OBSERVING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製方法 - 特許庁

MAGNETIC DOMAIN STRUCTURAL IMAGE ACQUISITION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

磁区構造画像取得方法および走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

PRELIMINARY EXHAUST METHOD AND PRELIMINARY EXHAUST ROOM IN ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

分析電子顕微鏡における予備排気方法及び予備排気室 - 特許庁

LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE例文帳に追加

低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR OBSERVING IMAGE THEREOF例文帳に追加

透過形電子顕微鏡及び透過電子顕微鏡像観察方法 - 特許庁

IMAGE ADJUSTING METHOD AND DEVICE OF A PLURALITY OF SIGNALS IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における複数信号の画像調整法と装置 - 特許庁

SCAN ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND IMAGE OBTAINING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡装置及びそれを用いた画像取得方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING MEASUREMENT TARGET PATTERN USING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡装置を用いた計測対象パターンの計測方法 - 特許庁

MAGNETIC MATERIAL SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法 - 特許庁

PHASE PLATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE STAND FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS ANGLE ADJUSTING METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡用試料台およびその角度調整方法 - 特許庁

METHOD OF SETTING EXPOSURE TIME AND IRRADIATION CONDITION OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の露光時間及び照射条件の設定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECTIVE POSITION ANALYSIS METHOD USING IT例文帳に追加

走査型電子顕微鏡およびそれによる欠陥部位解析方法 - 特許庁

IMAGE LUMINANCE ADJUSTMENT METHOD AND SYSTEM IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法及びシステム - 特許庁

SAMPLE FOR TUNING OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡調整用試料及びその製造方法 - 特許庁

SPECIMEN FREEZING METHOD, COOLING HOLDER AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料凍結方法および冷却ホルダ並びに走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

電子顕微鏡システム及びそれを用いたパターン寸法計測方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR LINE-AND-SPACE PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いたライン・アンド・スペースパターンの測定方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR AND PROCESSING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

画像処理装置、画像処理方法および走査型電子顕微鏡 - 特許庁