「electron microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSING METHOD例文帳に追加

透過電子顕微鏡および焦点合わせ方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYSIS OF ELECTRON BEAM DIFFRACTION IMAGE AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE CONTROL DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE CONTROL METHOD, CONTROL PROGRAM, RECORDING MEDIUM HAVING CONTROL PROGRAM RECORDED THEREON, ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡制御装置、電子顕微鏡制御方法、制御プログラム、制御プログラムを記録した記録媒体、電子顕微鏡システム、および電子線照射装置 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING MEASURING CONDITION BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡による測定条件決定方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND FLAW SHAPE CONFIRMING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡および欠陥形状確認方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATING THE SAME例文帳に追加

透過形電子顕微鏡及びその動作方法 - 特許庁

SPECIMEN OBSERVING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料観察方法および走査型電子顕微鏡 - 特許庁

OBSERVATION IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

観察画像取得方法、走査型電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用の試料製造方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置とその制御方法 - 特許庁

SAMPLE IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料像取得方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF SETTING DIFFERENT MAGNIFICATION FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の異種倍率設定方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUS POSITION CONTROL METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及びその焦点位置制御方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用の試料の作製方法 - 特許庁

CHARGE-UP DETECTION METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のチャージアップ検出方法 - 特許庁

DISTORTION MEASURING METHOD AND LUMINANCE CORRECTION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の歪み測定方法及び輝度補正方法 - 特許庁

METHOD FOR OBTAINING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USER FOR THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡画像を得る方法及びこれに用いられる走査電子顕微鏡装置 - 特許庁

PHASE PLATE FOR PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD THEREOF AND PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

位相差電子顕微鏡用位相板及びその製造方法並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁

DYEING AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND DYEING METHOD OF SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 - 特許庁

METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING METHOD AND SAMPLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダおよび観察方法ならびに電子顕微鏡用試料作製装置 - 特許庁

POSITIVE ELECTRON ANALYSIS MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING POSITIVE ELECTRON BEAM例文帳に追加

陽電子分析顕微鏡および陽電子ビームを用いた測定方法 - 特許庁

SAMPLE FOR ELECTRON BEAM DIFFRACTION AND METHOD FOR PRODUCING ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE例文帳に追加

電子線回折用試料および電子顕微鏡試料の製造方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND ANALYTICAL METHOD例文帳に追加

電子線分光器、それを備えた電子顕微鏡及び分析方法 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

透過電子顕微鏡観察用試料作製方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

走査型電子顕微鏡および該装置の制御方法 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の調製方法 - 特許庁

PATTERN SIZE MEASURING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

パターン寸法計測方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法 - 特許庁

SAMPLE SUPPORT DEVICE AND METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料支持装置およびその方法 - 特許庁

PHASE PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡用位相板及びその製造方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON BEAM HOLOGRAM FORMING METHOD, AND PHASE REPRODUCED IMAGE FORMING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡、電子線ホログラム作成方法及び位相再生画像作成方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF OPERATING ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATING PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM AND RECORDED APPARATUS例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND RECORD MEDIUM READABLE WITH COMPUTER例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像記憶方法、電子顕微鏡の観察像記憶プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

METHOD FOR MAKING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SPECIMEN例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察試料の作製方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用観察試料作製方法 - 特許庁

3-DIMENSIONAL IMAGE BUILDING METHOD AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

３次元像構築方法および透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING TILTING STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置 - 特許庁