「electron microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ELECTRON MICROSCOPE CONTROLLER, ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND CONTROL METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡制御装置、電子顕微鏡システムおよび電子顕微鏡の制御方法 - 特許庁

METHOD FOR REGULATING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び検査方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND PHOTOGRAPHING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON IMAGE IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡および電子顕微鏡における透過電子像撮影方法 - 特許庁

METHOD OF PREVENTING CHARGE UP OF ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡のチャージアップ防止方法および電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び観察方法 - 特許庁

FOCUSING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における焦点合わせ方法および電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE ALIGNMENT METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

ANALYZING METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における分析方法 - 特許庁

RETRIEVAL METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

電子顕微鏡画像の検索方法 - 特許庁

SAMPLE COATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料コーティング方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE IMAGE RECONSTRUCTION SYSTEM, AND ELECTRON MICROSCOPE IMAGE RECONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡，電子顕微鏡用画像再構成システム、および電子顕微鏡用画像再構成方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM HOLOGRAM, METHOD OF PRODUCING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGING METHOD USING ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子顕微鏡及び電子線を用いた撮像方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM ADJUSTMENT METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビーム調整方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR IRRADIATING ELECTRON BEAM AND ELECTRON SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE DISPLAY METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡、および走査電子顕微鏡における像表示方法 - 特許庁

DIFFERENTIAL CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF DATA PROCESSING OF ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

差分コントラスト電子顕微鏡および電子顕微鏡像のデータ処理方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DRIFT CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡のドリフト補正方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁

DEFOCUSING AMOUNT MEASURING METHOD OF TEM (TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)例文帳に追加

ＴＥＭのデフォーカス量測定方法 - 特許庁

IMAGE DISPLAY METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の像表示方法 - 特許庁

ANALYTICAL METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡による分析方法 - 特許庁

PATTERN MEASUREMENT METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

パターン測定方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁

CALIBRATION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の校正方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡、及び試料管理方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DISPLAYING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡および画像表示方法 - 特許庁

IMAGE FORMING METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

画像形成方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND SOLID OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び立体観察方法 - 特許庁

RESOLUTION EVALUATION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND ADJUSTING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の分解能評価方法および電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, MICRO VESSEL FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料作製方法、電子顕微鏡観察用微小容器及び電子顕微鏡観察方法。 - 特許庁

BEDDING SPECIMEN FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE MEASURING METHOD, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡観測用下地試料、透過電子顕微鏡測定方法、および透過電子顕微鏡装置 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡試料作製方法 - 特許庁

TEST PIECE OBSERVATION METHOD, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料観察方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR MANIPULATING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の操作方法及びプログラム - 特許庁

AUTOMATIC DISTORTION-MEASURING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の自動歪み測定方法 - 特許庁

OBJECT OBSERVATION METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡による物体観察方法 - 特許庁

IMAGE RECORDING METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における画像記録方法 - 特許庁

SAMPLE TRANSFER METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の試料移動方法。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROLLING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡およびその制御方法 - 特許庁

ABERRATION COMPENSATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の収差補正方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE HEATING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡および試料の加熱方法 - 特許庁

SAMPLE OBSERVATION METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡による試料観察方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡及び撮影方法 - 特許庁

METHOD OF OBSERVING TESTPIECE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料観察方法及び電子顕微鏡 - 特許庁