「electron microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法 - 特許庁

CUTTING MACHINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の切り込み加工法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具 - 特許庁

ANALYSIS METHOD BY OPTICAL MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY例文帳に追加

光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS FOCUS DETECTION METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその焦点検出方法 - 特許庁

SAMPLE DIMENSION LENGTH MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料寸法測長方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁

SAMPLE STATIC CHARGE CONTROL METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料帯電制御方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡および画像信号処理方法 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD OF SAMPLE SIZE USING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND DEVICE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置 - 特許庁

DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法 - 特許庁

SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料及びその作製方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO-PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び微細パターン測定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡およびその画像表示方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE GRID AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

透過型電子顕微鏡グリッド及びその製造方法 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING AND MEASURING SAMPLE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料の検査，測定方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

VISUAL INSPECTION DEVICE WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE FORMING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像生成方法 - 特許庁

IDENTIFIER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, HOLDER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用試料の識別子、走査型電子顕微鏡用試料のホルダーおよび走査型電子顕微鏡用試料の観察方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND TRANSMITTED ELECTRON EXAMINATION DEVICE AND EXAMINATION METHOD例文帳に追加

透過電子顕微鏡装置および透過電子検査装置並びに検査方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM AXIS ADJUSTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子ビーム軸調整方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置 - 特許庁

SPECIMEN OBSERVATION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE FOR USE IN THE SAME例文帳に追加

試料像観察方法とそれに用いる電子顕微鏡 - 特許庁

SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR MAPPING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO DEVICE例文帳に追加

写像型電子顕微鏡及びマイクロデバイスの製造方法 - 特許庁

INFORMATION TRANSMISSION LIMIT MEASURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH THE MEASURING METHOD APPLIED例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の情報伝達限界測定法およびこの測定法が適用された透過型電子顕微鏡 - 特許庁

DETECTION METHOD OF IMAGE INTEGRATION TIMES OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の画像積算回数検出方法 - 特許庁

INSPECTING DEVICE AND METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYZING METHOD USING IT例文帳に追加

電子顕微鏡及びこれを用いた試料の解析方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF OBSERVING IMAGE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における像観察方法及び装置 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN AND METHOD FOR PREPARING THE SAME例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料及びその作製方法 - 特許庁

LINEWIDTH MEASUREMENT REGULATION METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の軸調整方法およびその装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法 - 特許庁

SCANNING IMAGE SIGNAL ACQUIRING METHOD AND SCAN TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE, TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

温度測定装置、温度測定方法および電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE SETTING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダー及び試料装着方法 - 特許庁

DRAWING PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

電子顕微鏡用絞りプレート板及びその製造方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD AND KIT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用サンプルの作製方法及びキット - 特許庁

To provide an electron beam hologram, a method of producing a transmission electron microscope image and an electron transmission microscope, capable of preventing the positional misalignment of the transmission electron microscope image from the electron beam hologram.例文帳に追加

電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像との位置ずれを防止することができる電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁

SPECTRUM DATA PROCESSING METHOD OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE USING ENERGY FILTER AND ITS TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

エネルギーフィルタを用いた透過型電子顕微鏡の分光データ処理方法、及びその透過型電子顕微鏡 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法 - 特許庁

THIN FILM PHASE PLATE FOR PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, THE PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, AND AN ANTISTATIC METHOD FOR THE PHASE PLATE例文帳に追加

位相差電子顕微鏡用薄膜位相板並びに位相差電子顕微鏡及び位相板帯電防止法 - 特許庁