「electron microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND FILM THICKNESS REDUCTION AMOUNT EVALUATION METHOD OF RESIST PATTERN USING IT例文帳に追加

電子顕微鏡システム及びそれを用いたレジストパターンの膜厚減少量評価方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN MEASURING METHOD USING THE SAME, AND APPARATUS FOR CORRECTING DIFFERENCE BETWEEN SCANNING ELECTRON MICROSCOPES例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査型電子顕微鏡の機差補正装置 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD AND CORRECTION METHOD OF THE DEVIATION OF ELECTRON BEAM SCANNING AXIS WITH STAGE MOVING AXIS AND STAGE MOVING ERROR IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における電子ビーム走査軸とステージ移動軸のずれ及びステージの移動誤差の測定方法及び補正方法。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD, CHARGED PARTICLE BEAM INSPECTION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

荷電粒子線顕微鏡装置、荷電粒子線応用装置、荷電粒子線顕微方法、荷電粒子線検査方法、及び電子顕微鏡装置 - 特許庁

FREEZE-DRYING DEVICE, FREEZE-DRYING METHOD FOR SAMPLE, DEVICE FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE INCLUDING FREEZE-DRYING DEVICE AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

凍結乾燥装置および試料の凍結乾燥方法、ならびに凍結乾燥装置を有する電子顕微鏡用試料作製装置および電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a transmission electron microscope grid, and a method of manufacturing a graphene sheet-carbon nanotube film composite structure to be used for the transmission electron microscope grid.例文帳に追加

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法、及び該透過型電子顕微鏡グリッドに用いられるグラフェンシート−カーボンナノチューブフィルム複合構造体の製造方法。 - 特許庁

To provide a constitution method as a composite charged particle beam device capable of preparing a TEM (Transmission Electron Microscope) sample efficiently by using a gas ion beam device, an FIB (Focused Ion Beam) and a SEM (Scanning Electron Microscope).例文帳に追加

気体イオンビーム装置とＦＩＢとＳＥＭを用いて、効率よくTEM試料作製ができる複合荷電粒子ビーム装置としての構成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of minimizing image deviation caused by defocusing in an electron microscope utilizing an active modulation image formation method and hollow cone irradiation.例文帳に追加

能動変調結像方式及びホローコーン照射を利用した電子顕微鏡において、デフォーカスに起因する画像ずれを最小に抑制できる電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of preventing the degradation of image quality and resolution of an acquired image, and to provide a method of improving a scanning electron microscope image.例文帳に追加

取得画像の像質や分解能の劣化を防ぐことができる走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡の画像の改良方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF FORMING TENSIONED AERIAL WIRING, CHARGED PARTICLE BEAM PRISM AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, OBSERVING METHOD USING INTERFERENCE FRINGE OF CHARGED PARTICLE BEAM, AND ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF FORMING INTERFERENCE FRINGE IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

緊張化した空中配線の形成方法、荷電粒子線プリズムとその製造方法、荷電粒子線の干渉縞を用いた観察方法、電子顕微鏡および電子顕微鏡における干渉縞の形成方法 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope capable of accurately focusing even a crystalline sample by an electron ray tilting method.例文帳に追加

結晶性の試料に対しても、電子線傾斜法による焦点合わせを正確に行える透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

INCIDENT AXIS ADJUSTING METHOD OF SCATTERED ELECTRON BEAM AGAINST ANNULAR DARK FIELD SCANNING IMAGE DETECTOR, AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

ABERRATION EVALUATION PATTERN, ABERRATION EVALUATION METHOD, ABERRATION CORRECTION METHOD, ELECTRON BEAM DRAWING APPARATUS, ELECTRON MICROSCOPE, MASTER, STAMPER, RECORDING MEDIUM AND STRUCTURE例文帳に追加

収差評価用パターン、収差評価方法、収差補正方法、電子線描画装置、電子顕微鏡、原盤、スタンパ、記録媒体、及び構造物 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a non-deteriorated good observation sample for a transmission electron microscope.例文帳に追加

変質のない良好な透過電子顕微鏡用観察試料の作成方法を提供すること。 - 特許庁

This substrate inspecting method uses a scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明に係る基板検査方法は、走査型電子顕微鏡装置を用いた基板検査方法である。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method, which evaluate a test piece exactly and quantitatively with an electron beam microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡により試料を正確に定量評価する装置および方法を提供する。 - 特許庁

STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

校正用標準部材およびその作製方法並びにそれを用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR EXAMINATION OF SAMPLE IN NON-VACUUM ENVIRONMENT USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた非真空環境内のサンプルの検査のための装置および方法 - 特許庁

MICROPROCESSING METHOD AND APPARATUS OF CARBONACEOUS MATERIAL USING LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

低真空走査型電子顕微鏡を用いた炭素系材料の微細加工方法とその装置 - 特許庁

SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

STAGE MECHANISM, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND POSITIONING CONTROL METHOD FOR STAGE MECHANISM例文帳に追加

ステージ機構、及びそれを備えた電子顕微鏡、並びにステージ機構の位置決め制御方法 - 特許庁

ELECTROLYTIC GRINDING METHOD IN PREPARATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND APPARATUS UTILIZING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡試料作製における電解研磨方法およびこれを利用する装置 - 特許庁

COMPOSITE CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SAMPLE PROCESSING METHOD USING IT AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

複合荷電粒子ビーム装置、それを用いた試料加工方法及び透過電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁

To provide a compact scanning electron microscope and a method for switching the objective lens usage of the scanning electron microscope, enabling a usage change of the objective lens in a short time.例文帳に追加

小型で、短時間で対物レンズの用途切替ができる走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

In this position determination method of the measuring object, when performing same-field observation of the measuring object on a substrate by the first microscope and the electron microscope, the coordinate of the measuring object in the electron microscope is determined based on the coordinates of two points on the measuring object and the substrate in the first microscope and the coordinates of two points on the substrate in the electron microscope.例文帳に追加

基板上の測定対象物を第１の顕微鏡と電子顕微鏡とで同視野観察するに際して、第１の顕微鏡における測定対象物および基板の２つの点の座標と、電子顕微鏡における基板の２つの点の座標とに基づいて電子顕微鏡における測定対象物の座標を決定する方法。 - 特許庁

To provide a mask for rapidly searching and observing the specific region of a sample, which is observed by an optical microscope, by an existing electron microscope even if a device which incorporates the optical microscope in the electron microscope is not used, and also to provide a sample analyzing method using it.例文帳に追加

電子顕微鏡内部に光学顕微鏡を組み込んだ装置を用いなくても既存の電子顕微鏡で、光学顕微鏡で観察した試料の特定部位を迅速に探索・観察することが可能なマスク及びそれを用いた方法を提供すること。 - 特許庁

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography.例文帳に追加

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。 - 特許庁

To provide a test piece carrier for a transmission type electron microscope and its manufacturing method, a test piece for the transmission type electron microscope and its manufacturing method, as well as observation and crystal structure analysis methods using the test piece for the transmission type electron microscope, wherein observation using the transmission type electron microscope can obtain observation data of an object to be observed in various directions.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡を用いた観測により、種々の方向における観測対象物の観測データを取得することが可能な、透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD OF CATALYST CONTAINED IN FUEL CELL CATALYST LAYER BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による燃料電池触媒層に含まれる触媒の定量的解析方法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF ENERGY LOSS SPECTROSCOPIC DEVICE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE ENERGY LOSS SPECTROSCOPIC DEVICE例文帳に追加

エネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡 - 特許庁

To provide a length measuring method using a scanning electron microscope capable of highly accurate measurement.例文帳に追加

精度の高い測定を行うことができる走査型電子顕微鏡を用いた測長方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR PHOTOMASK DEFECT CORRECTION USING COMPOSITE APPARATUS OF CONVERGENCE ELECTRON BEAM DEVICE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

集束電子ビーム装置と原子間力顕微鏡との複合装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM FOR DIMENSION MEASUREMENT, AND EVALUATION SYSTEM OF CIRCUIT PATTERN FEATURE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

寸法計測走査型電子顕微鏡システム並びに回路パターン形状の評価システム及びその方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE PREPARING METHOD FOR SOLID PHASE REACTIVE SAMPLE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

A substrate including a plurality of defects is inspected by using an electron microscope device in the substrate inspection method.例文帳に追加

電子顕微鏡装置を用い複数の欠陥を含む基板を検査する基板検査方法である。 - 特許庁

PEDESTAL BASE PLATE, MEASURING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, MEASURING SAMPLE ASSEMBLY, METHOD FOR PRODUCING MEASURING SAMPLE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

ペデスタル基板、電子顕微鏡用測定治具、測定試料組み立て体、測定試料の作製方法及び測定方法 - 特許庁

To provide a method of enabling simple and reliable focusing like a wobblier device in a transmission electron microscope method.例文帳に追加

透過形電子顕微鏡法におけるワブラー装置のように簡単、確実に焦点合わせできる方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR FORMING AUTOMATIC SEQUENCE FILE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF AUTOMATIC MEASURING SEQUENCE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の自動検出シーケンスファイル作成方法及び走査電子顕微鏡の自動測長シーケンス方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS DYNAMIC FOCUS CONTROL METHOD AND SHAPE IDENTIFYING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE SURFACE AND CROSS SECTION例文帳に追加

走査電子顕微鏡、そのダイナミックフォーカス制御方法および半導体デバイスの表面および断面形状の把握方法 - 特許庁

To provide a means which is a method for replacing a filament of an electron gun of an electron microscope or the like with extremely more favorable workability than a screw type one.例文帳に追加

電子顕微鏡等の電子銃のフィラメントを交換する方法でネジ式より作業性が非常に良い手段を提供すること。 - 特許庁

To realize an analyzing method in an electron microscope capable of accurately irradiating a set analyzing point with electron beam to perform analysis.例文帳に追加

設定した分析点に正確に電子ビームを照射して分析を行うことができる電子顕微鏡における分析方法を実現する。 - 特許庁

To provide a sample coating method of an electron microscope capable of performing the conductive treatment of an insulating sample by a simple constitution, concerning the sample coating method of the electron microscope.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の試料コーティング方法に関し、絶縁試料の導電性処理を簡易な構成で行なうことができる電子顕微鏡の試料コーティング方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a method of preparing a sample for direct observation of an iron oxide reduction in a transmission electron microscope capable of analyzing on the spot a reduction process of an iron oxide simply in the transmission electron microscope.例文帳に追加

透過電子顕微鏡内で簡便に酸化鉄の還元過程をその場解析できるような酸化鉄還元透過電子顕微鏡内直接観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample fixing table allowing the location of a foreign substance to be rapidly and efficiently identified within an electron microscope image; an electron microscope equipped with it; and a position identifying method of the foreign substance.例文帳に追加

異物の場所を電子顕微鏡画像の中で素早く、効率的に特定できる試料固定台及びそれを備えた電子顕微鏡、並びに、その異物の位置特定方法を提供する。 - 特許庁