「electron microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

ELECTRON MICROSCOPE, CONTROL METHOD OF THE SAME, AND METHOD FOR OBTAINING DIFFRACTION PATTERN例文帳に追加

電子顕微鏡及び電子顕微鏡の制御方法並びに回折パターン取得方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF DISPLAYING OBSERVED IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE, PROGRAM FOR DISPLAYING THE SAME, AND RECORDING MEDIUM READABLE BY COMPUTER例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像表示方法、電子顕微鏡の観察像表示プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of accurate measurement without using any standard samples, and to provide a measurement method using the scanning electron microscope.例文帳に追加

標準試料を使用することなく正確に測定可能な走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法を提供すること。 - 特許庁

SAMPLE PREPARING DEVICE FOR OBSERVING THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE, ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD THEREOF例文帳に追加

３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PRETREATING SAMPLE FOR OBSERVATION THROUGH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡観察用試料の前処理装置及び前処理方法 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE OBSERVATION SAMPLE FORMATION DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS METHOD例文帳に追加

３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD AND PREPARATION DEVICE FOR SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法および作製装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE DISPLAY METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置およびこれを用いた三次元画像表示方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING AUTOMATIC OPTIMUM FOCUSING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整方法及び装置 - 特許庁

DISTRIBUTION CONDITION ANALYSIS METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE FOR MATERIAL INSIDE CAPSULE例文帳に追加

カプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING LASER DEFECT DETECTION FUNCTION例文帳に追加

レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡のオートフォーカス方式 - 特許庁

ABERRATION CORRECTION METHOD AND ABERRATION CORRECTION DEVICE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING MEMBRANE SAMPLE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡用薄膜状試料の作製方法および薄膜試料の観察方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS HAVING ELECTRON SPECTROSCOPE, SAMPLE HOLDER, SAMPLE STAGE, AND METHOD FOR ACQUIRING SPECTRAL IMAGE例文帳に追加

電子分光器を有する透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample for electron microscope observation capable of readily performing observation, using an electron microscope with a relatively simple work.例文帳に追加

比較的簡易な作業にて、電子顕微鏡で容易に観察することができる電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供することにある。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, METHOD AND PROGRAM FOR DETERMINING OBJECTIVE LENS APERTURE OF ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の対物レンズ絞り判別方法、電子顕微鏡の対物レンズ絞り判別プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a phase plate and a method of manufacturing the same, and a phase difference electron microscope capable of acquiring a stable, high-resolution phase difference electron microscope image.例文帳に追加

安定で、かつ高分解能の位相差電子顕微鏡像の取得が可能な位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

DEVICE FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR OBSERVING THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE, ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD USING THE DEVICE例文帳に追加

３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁

PROCESSING METHOD USING FOCUSED ION BEAM, NANOTUBE PROBE, MICROSCOPE DEVICE, AND ELECTRON GUN例文帳に追加

集束イオンビームを用いた加工方法、ナノチューブプローブ、顕微鏡装置、及び電子銃 - 特許庁

To provide a method of preparing a rubber particle sample for electron microscope observation.例文帳に追加

電子顕微鏡観察のためのゴム粒子試料を調製する方法の提供。 - 特許庁

MEASURING METHOD BY TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE-ENERGY DISPERSION TYPE X-RAY SPECTROGRAPH例文帳に追加

透過型電子顕微鏡−エネルギー分散型Ｘ線分光装置の測定方法 - 特許庁

MOON GRID SPECIALIZED FOR THREE-DIMENSIONAL OBSERVATION BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE , AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

透過電子顕微鏡３次元観察専用ムーングリッドおよびその製造方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, DIAPHRAGM PLATE USED IN IT, AND MANUFACTURING METHOD OF DIAPHRAGM PLATE例文帳に追加

電子顕微鏡及びそれに用いられる絞り板並びに絞り板の製造方法 - 特許庁

CHROMATIC ABERRATION COEFFICIENT MEASURING METHOD IN ELECTROMAGNETIC LENS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電磁レンズにおける色収差係数測定方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF IMPROVING IMAGE THEREFORE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡における画像の改良方法 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR DIRECT OBSERVATION OF IRON OXIDE REDUCTION IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

酸化鉄還元透過電子顕微鏡内直接観察用試料の作製方法 - 特許庁

DYEING AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND DYEING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡観察用染色剤および該染色剤を用いた染色方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE STORAGE FORMAT AND IMAGE RE-EDITING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査形電子顕微鏡及びその画像保存フォーマットと画像再編集方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR SWITCHING OBJECTIVE LENS USAGE OF THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法 - 特許庁

METHOD FOR FORMING IMAGE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OF SAMPLE HAVING LAMINATED STRUCTURE例文帳に追加

積層構造を有する試料の透過型電子顕微鏡による画像形成方法 - 特許庁

ELEMENT ANALYZING APPARATUS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD例文帳に追加

元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM PROCESSING METHOD, AND PREPARATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE USING IT例文帳に追加

集束イオンビーム加工方法およびそれを用いた透過型電子顕微鏡試料の作製方法 - 特許庁

To provide a calibration method of a scanning electron microscope and the scanning electron microscope capable of being precisely calibrated by making an irradiation position of an electron beam set by a user coincident with an actual irradiation position of the electron beam.例文帳に追加

ユーザが設定した電子ビームの照射位置と実際の電子ビームの照射位置を正確に一致させ、高精度な校正可能な走査型電子顕微鏡の校正方法及び走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

PROBER DEVICE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND PROBE CLEANING METHOD OF PROBER DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を備えたプローバ装置及びプローバ装置の探針クリーニング方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND POSITIONING CONTROL METHOD FOR TEST PIECE STAGE IN THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡装置および同装置における試料ステージの位置決め制御方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPOUND INSPECTION METHOD OF PATTERN BY USING IT例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡を用いたパターンの複合検査方法 - 特許庁

To provide a common sample holder, and a sample preparation method for a transmission electron microscope.例文帳に追加

共用試料ホルダーと透過型電子顕微鏡用の試料作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a sample sensitive to heat or a solvent for electron microscope observation.例文帳に追加

熱や溶剤に弱い電子顕微鏡観察用の試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTANCE MEASUREMENT FUNCTION AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

測長機能を備えた走査形電子顕微鏡およびそれを使用した測長方法 - 特許庁

MICRO-GRID FOR HOLDING SPECIMEN OF ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SPECIMEN例文帳に追加

電子顕微鏡試料支持用マイクログリッド及び電子顕微鏡試料の作製方法 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL TOMOGRAPHIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SLICED SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE STAND USED THEREFOR例文帳に追加

透過電子顕微鏡用薄片試料の作製方法、及びそれに用いる試料台 - 特許庁

The electron microscope and the processing system constituted for executing this method are provided.例文帳に追加

並びに、この方法を実施するように構成された電子顕微鏡及び加工システム。 - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR FINE THREE-DIMENSIONAL SHAPE ON SURFACE OF SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料表面の微細立体形状の観察法 - 特許庁