「electron microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, CONTROL METHOD OF THE SAME, AND ELECTRON BEAM AXIS CONTROL METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING THIN SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF THE SAMPLE例文帳に追加

電子顕微鏡用薄片試料の作製方法とこの試料の観察方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVATION METHOD AND STRUCTURE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法、観察方法及び構造 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, ABERRATION MEASURING METHOD, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法、ならびに収差補正方法 - 特許庁

CRYSTAL ETCHING METHOD, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

結晶エッチング方法および透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

THIN FILM FORMING METHOD, SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加

薄膜形成方法、電子顕微鏡用試料ホルダおよびその形成方法。 - 特許庁

COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, SAMPLE SUPPORT STRUCTURE FOR THE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, SAMPLE HOLDER AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料作製方法、透過電子顕微鏡用試料支持構造、試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

To provide a method for remote controlling an electron microscope capable of accurately adjusting an electron microscope such as a scanning electron microscope even in bad environment of a network.例文帳に追加

ネットワーク回線の環境が悪い場合でも、より正確に走査電子顕微鏡などの電子顕微鏡の調整を行なうことができる電子顕微鏡の遠隔調整方法を実現する。 - 特許庁

The invention describes the method for electron diffraction tomography in a transmission electron microscope.例文帳に追加

当該発明は、透過電子顕微鏡における電子回折断層撮影のための方法を記載する。 - 特許庁

RADIATION ELECTRON MICROSCOPE FOR INSULATOR SAMPLE OBSERVATION USING DIAGONALLY IRRADIATING METHOD OF CHARGED NEUTRALIZATION ELECTRON例文帳に追加

帯電中和電子の斜め照射法を用いた絶縁物試料観察用放射電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE HOLDER例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料作製方法及び試料保持体 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a transmission electron microscope grid.例文帳に追加

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法に関する。 - 特許庁

To provide a method for labeling by which observation can be made with an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡で観察可能な標識法を提供すること。 - 特許庁

APPARATUS DIFFERENCE CONTROL SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡装置における機差管理システムおよびその方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAMPLE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用半導体試料およびその製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びこれを用いたパターン寸法計測方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE INSPECTION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置、走査電子顕微鏡、および試料検査方法 - 特許庁

ACCURATE AXIS ADJUSTMENT METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の高精度な軸調整方法及びその装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, ELEMENT ANALYZER, ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD例文帳に追加

試料ホルダ、元素分析装置、電子顕微鏡、及び、元素分析方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR OUTERMOST LAYER OF STEEL PLATE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による鋼板の最表層の評価方法 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR REMOVING LENS HYSTERESIS OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡のレンズヒステリシス除去方法及びレンズヒステリシス除去プログラム - 特許庁

DISTORTION COMPENSATING METHOD OF ELECTRON-RAY DEFLECTION, ELECTRON-RAY EXPOSURE DEVICE WHICH HAS DEFLECTION DISTORTION COMPENSATING MEANS, AND SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線の偏向歪補正方法、及び歪補正手段を有する電子線露光装置、走査型電子顕微鏡 - 特許庁

ABERRATION MEASURING METHOD USING RONCHIGRAM AND ABERRATION CORRECTION METHOD, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ロンチグラムを用いた収差測定方法及び収差補正方法及び電子顕微鏡 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE OPTICAL FIBER FOR ULTRA-HIGH VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

超高圧電子顕微鏡用耐圧光ファイバー及びその製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF CONTROLLING FOCUS THEREOF例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、及び走査型電子顕微鏡のフォーカス制御方法 - 特許庁

SAMPLE-FORMING APPARATUS AND SAMPLE FORMATION METHOD FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料作製装置及び試料作製方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE OR X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND METHOD FOR ANALYZING SAMPLE例文帳に追加

電子顕微鏡またはＸ線分析装置及び試料の分析方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡試料作製装置及び電子顕微鏡試料作製方法 - 特許庁

DEFECT EXTRACTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INSPECTION SYSTEM, AND EXTRACTION METHOD THEREOF例文帳に追加

欠陥抽出走査電子顕微鏡検査装置及びその抽出方法 - 特許庁

LEVEL DIFFERENCE MEASURING METHOD, LEVEL DIFFERENCE MEASURING DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

段差測定方法、段差測定装置及び走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING MATERIAL IN MICROCAPSULE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法 - 特許庁

ELEMENT MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ELEMENT MAPPING METHOD例文帳に追加

元素マッピング装置，走査透過型電子顕微鏡および元素マッピング方法 - 特許庁

DATA MEASURING METHOD AND DEVICE OF TOMOGRAPH IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND SAMPLING APPARATUS例文帳に追加

透過電子顕微鏡観察用試料作製方法およびサンプリング装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PREPARING MINUTE OBJECT IN ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡装置内における微小物作成方法及びその装置 - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR SAMPLE BY USE OF SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法及びその装置 - 特許庁

SAMPLE-MANUFACTURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND CONVERGENT ION BEAM DEVICE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料作製方法および集束イオンビーム装置 - 特許庁

ABERRATION CORRECTION DEVICE AND ABERRATION CORRECTION METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法 - 特許庁

ELECTRON LENS ADJUSTMENT STANDARD FOR PHOTOELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF PRODUCING THE SAME例文帳に追加

光電子顕微鏡の電子レンズ調整標準及びその製造方法 - 特許庁

METHOD OF OBSERVATION OF SAMPLE FLOATING ON LIQUID SURFACE UNDER SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

液体の表面を浮遊する試料の走査電子顕微鏡観察方法 - 特許庁

METAL THIN FILM FORMING METHOD FOR MICROSCOPIC OBSERVATION SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用検鏡試料の金属薄膜成膜方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置、走査型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR OBSERVING SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法およびそのシステム - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE-PROCESSING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査電子顕微鏡、および、走査電子顕微鏡における画像処理方法 - 特許庁