「electron microscope method」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

SAMPLE TREATMENT APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE, SAMPLE HOLDER FOR THE SAME, AND METHOD OF MAKING OBSERVATIONS UNDER THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡用試料処理装置および電子顕微鏡用試料ホルダ、並びに、電子顕微鏡観察方法 - 特許庁

METHOD FOR ADJUSTING SCALE BAR OF ELECTRON MICROSCOPE USING PERIODICAL WAVEFORM ON VERTICAL SIDE WALL OF PHOTO RESIST LAYER例文帳に追加

フォトレジスト層の垂直側壁上の周期的な波形を用いた電子顕微鏡のスケールバー調整をする方法 - 特許庁

To provide an electron microscope and its operation method capable of providing additional information on an inspected object.例文帳に追加

検査された物体上の付加情報を得ることが可能な、電子顕微鏡及びその操作方法を提供する。 - 特許庁

STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION例文帳に追加

校正用標準部材およびその作製方法、並びに校正用標準部材を用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning method for a scanning electron microscope improving degradation of length measuring precision by shrink of a sample.例文帳に追加

試料のシュリンクによる測長精度の低下を改善する走査電子顕微鏡の走査法を提供する。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE FOR INSPECTING AND PROCESSING OBJECT HAVING MICROSTRUCTURE, AND MANUFACTURING METHOD OF THE OBJECT例文帳に追加

微小化構造を有する物体を検査及び加工するための電子顕微鏡、並びに、当該物体の製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND REPRODUCIBILITY EVALUATION METHOD AS DEVICE IN THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置及び走査型電子顕微鏡装置における装置としての再現性能評価方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ITS SYSTEM, AND DIMENSION MEASURING METHOD USING THEM例文帳に追加

電子顕微鏡装置およびそのシステム並びに電子顕微鏡装置およびそのシステムを用いた寸法計測方法 - 特許庁

To provide a measuring method of a regist pattern with high accuracy by controlling the volume shrinkage of a scanning electron microscope which is caused by electron irradiation.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の電子線照射によるレジストパータンの体積収縮を抑制して、測定精度を向上し得る方法を提供する - 特許庁

TEST PIECE CARRIER FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, OBSERVATION AND CRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS METHODS USING THE SAME, AND TEST PIECE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法 - 特許庁

To provide an image luminance adjustment method in a transmission electron microscope that enables the acquisition of image data at the optimum luminance with the same optical conditions as those of transmission electron microscopes, regarding an image luminance adjustment method and system in a transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法及びシステムに関し、透過電子顕微鏡の光学条件は同一のまま、最適な輝度で画像データを取得することができる透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a simpler and easy-to-use method for adjustment of an aberration correction apparatus in a scanning transmission electron microscope with built-in aberration correction apparatus, and to provide a scanning transmission electron microscope with such a functionality.例文帳に追加

収差補正器を搭載した走査透過電子顕微鏡において、従来よりも簡便で取り扱いやすい収差補正器の調整方法、および当該機能を備えた走査透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To establish a method for analyzing materials in a microcapsule by a transmission electron microscope by manufacturing a sample for observation capable of observation by a transmission electron microscope from a sample containing the microcapsule.例文帳に追加

マイクロカプセルを含む試料から、透過型電子顕微鏡による観察が可能な観察用試料を作製することにより、マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法を確立すること。 - 特許庁

To provide a sample observation method using an electron microscope capable of obtaining the sharper observation image of a sample.例文帳に追加

より鮮明な試料の観察像を得ることができる電子顕微鏡を用いた試料の観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample surface treating method useful for observation of high performance intrinsic to a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡本来の高性能の観察を行うために有用な試料表面の処理方法を提供する。 - 特許庁

APPARATUS WITH COAXIAL BARREL OF FOCUSED-ION BEAM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR IMAGE FORMING AND PROCESSING例文帳に追加

集束イオンビームと走査型電子顕微鏡との同軸鏡筒を備えた装置並びに像形成及び処理方法 - 特許庁

To provide a method for creating a sample for electron microscope observation for making precise observation by TEM.例文帳に追加

ＴＥＭによる観察を正確に行うことが可能な電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TRANSFERRING SAMPLE IN CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置における試料移設方法及び荷電粒子ビーム装置並びに透過電子顕微鏡用試料 - 特許庁

FORMATION DEVICE OF IMAGING RECIPE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS METHOD, AND SHAPE EVALUATION DEVICE OF SEMICONDUCTOR PATTERN例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用撮像レシピ作成装置及びその方法並びに半導体パターンの形状評価装置 - 特許庁

To realize a control method of an electron beam in a transmission type electron microscope which enables such a control that an electron beam can be focused in the optimal range irrespective of a photographing position.例文帳に追加

写真撮影位置にかかわらず、最適な領域で電子ビームの焦点合わせ等の調整動作を行うことができる透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法を実現する。 - 特許庁

FOCUSING STATE-DETECTING MEMBER, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, FOCUSING CONDITION ADJUSTMENT METHOD, FOCUS ADJUSTMENT METHOD, AND FOCUS DEPTH MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

集束状態検出用部材、走査型電子顕微鏡、ならびに電子ビームの集束条件調整方法、焦点調整方法及び焦点深度測定方法 - 特許庁

To provide an aberration compensation method of a transmission electron microscope capable of providing a high-definition image by eliminating influence of hysteresis of a lens by lens relaxation, in relation to an aberration compensation method of a transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡の収差補正方法に関し、レンズ緩和によりレンズのヒステリシスの影響を無くして高精度の画像を得ることができるようにした透過電子顕微鏡の収差補正方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a method and a device for correcting a tilting stage of an electron microscope capable of correctly correcting when a sample is tilted with respect to the method and the device for correcting the tilting stage of the electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置に関し、試料傾斜時における補正を正しく行なうことができる透過電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a sample preparation method for electron microscope observation and a sample preparation kit, by which a sample present in a liquid and having floating property can be efficiently prepared by an optimal method to be observed with an optical microscope while suppressing the floating property, a sample to be an object for electron microscope observation is specified in the sample, and the specified sample can be precisely observed with an electron microscope.例文帳に追加

最適な方法で効率良く、液体中に存在し浮遊性を有するサンプルの浮遊性を抑止して光学顕微鏡で観察できるようにし、また、そのサンプルの中から電子顕微鏡観察の対象とすべきサンプルを光学顕微鏡で特定し、特定したサンプルを電子顕微鏡で詳細に観察することを可能にする電子顕微鏡観察用サンプル作製方法と、そのサンプル作製キットを提供すること。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope observation sample preparing method for a solid phase reactive sample and a charged particle beam device.例文帳に追加

固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING DEVICE, AND METHOD FOR MAKING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE PLANE-OBSERVED SEMICONDUCTOR THIN SAMPLE例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置の試料ステージと透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法 - 特許庁

MASK FOR MANUFACTURING OBSERVATION SAMPLE OF ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD AND MANUFACTURING APPARATUS OF OBSERVATION SAMPLE USING MASK例文帳に追加

電子顕微鏡の観察用試料作製用マスク並びにこのマスクを用いた観察用試料の作製方法および作製装置 - 特許庁

To provide a sample-manufacturing method of a transmission electron microscope, capable of suppressing the deformation of a sample caused by the shrinkage of the low dielectric constant interlaminar insulating film of a semiconductor device, at observation due to the transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による観察時における、半導体デバイスの低誘電率層間絶縁膜の収縮による試料の変形を抑制することが可能な透過型電子顕微鏡の試料作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a data measuring method and a device of a tomograph, reducing an electron beam irradiation quantity to a sample, in the data measuring method and the device of the tomograph in a transmission type electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関し、試料への電子線照射量を減らすことができるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関する。 - 特許庁

This method has a step for allowing focused electron beams to enter a sample and acquiring a convergent electron diffraction image on the sample by using a scanning transmission electron microscope 12, a step for calculating the lattice strain quantity in the sample based on the acquired convergent electron diffraction image, and a step for displaying the calculated lattice strain quantity corresponding to an electron microscope image of the sample.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡１２を用い、収束した電子線を試料に入射させ、試料についての収束電子回折像を取得するステップと、取得された収束電子回折像に基づいて、試料における格子歪み量を算出するステップと、算出された格子歪み量を、試料の電子顕微鏡像に対応させて表示するステップとを有している。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a sample for a transmission electron microscope which easily fabricates the thin film sample with a desired cross section.例文帳に追加

所望の断面を持つ薄膜試料を容易に作製することができる透過電子顕微鏡用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technology of enabling to control charge of a testpiece in an electron microscope application device and a testpiece inspecting method.例文帳に追加

電子顕微鏡応用装置および試料検査方法において、試料の帯電を制御することができる技術を提供する。 - 特許庁

This application provides a method and device for acquiring a scanning electron microscope image without distortion by measuring and calibrating scanning distortion.例文帳に追加

走査歪みを計測し、校正することで歪みの無い走査電子顕微鏡像を取得するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To allow various defects on a wafer to be quickly observed with high sensitivity in a defect observation method and a device for the same of a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加

ＳＥＭの欠陥観察方法及びその装置において、ウェハ上の多様な欠陥を高速、高感度に欠陥を観察する。 - 特許庁

The known method includes using a scanning transmission electron microscope, and also using a scanned diffraction beam of the STEM.例文帳に追加

知られた方法は、走査透過電子顕微鏡を使用することを伴うと共に、ＳＴＥＭの回折の走査されたビームを使用する。 - 特許庁

To actualize a method for preventing contamination and breakage in a contrast enhancing element in centering an optical element in a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡おいて、光学素子をセンタリングする際にコントラスト向上素子の汚染や損傷を防止する方法の実現。 - 特許庁

To realize an image display method of a scanning electron microscope capable of quantitatively observing the state of unevenness of the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面の凹凸の状態を定量的に観察することができる走査電子顕微鏡の像表示方法を実現する。 - 特許庁

The method is especially suitable for use in a particle optical device including a scanning electron microscope column (20) and a converging ion beam column (10).例文帳に追加

本方法は、とりわけ、走査電子顕微鏡カラム(20)と集束イオンビームカラム(10)とを備えた、粒子光学装置での使用に最適である。 - 特許庁

ENERGY SPECTRUM MEASURING DEVICE, ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE HAVING THIS DEVICE AND ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD例文帳に追加

エネルギースペクトル測定装置，電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法 - 特許庁

To provide a sample preparing device for electron microscopes for observing a three-dimensional structure at a desired place in a finely machined semiconductor device, and to provide an electron microscope and its method.例文帳に追加

微細に加工された半導体デバイス内の所望の箇所の３次元的構造を観察するための電子顕微鏡用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of determining an optimum scanning method which reduces deflection amounts of primary electron beams and secondary electrons, and obtaining a stable image.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡において、一次電子線や二次電子の偏向量が少なくなる最適な走査方法を決定して安定した画像を取得できるようにするものである。 - 特許庁

To provide a diamond electron source and its manufacturing method wherein one sharp-pointed section as an electron emission point for use in an electron beam device such as an electron microscope is formed at one end of a columnar diamond single crystal having a size where resist coating is difficult in a microfabrication process.例文帳に追加

電子顕微鏡などの電子線機器に用いられる電子放射点として、微細加工プロセスにおいてレジスト塗布が困難なサイズの柱状ダイヤモンド単結晶の片端に、一ヶ所の先鋭部を形成したダイヤモンド電子源及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide an operating method at a high temperature, of an electron microscope, and the electron microscope, capable of stably setting a sample and efficiently heating the same with respect to high temperature properties such as phase transformation and phase transition required in the development of a heat-proof material.例文帳に追加

耐熱材料の開発において要求される相変態および相転移などの高温物性について、試料を安定に設定でき、効率よく加熱できる電子顕微鏡の高温での運転方法とその電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Especially at the time of evaluation by a transmission electron microscope, a target material is frozen in a state including solvent such as water by quick-freezing and introduced to a cryo-type transmission electron microscope as it is with a cryo-transfer method and observed.例文帳に追加

特に透過電子顕微鏡による評価の際、急速凍結法により、対象となる物質を水分などの溶媒を含んだ状態で凍結し、クライオトランスファー法によりそのままの状態でクライオ型透過電子顕微鏡に導入し観察する。 - 特許庁

To provide a sample preparation method and a sample preparation device, capable of performing sample observation in a short time in a transmission electron microscope, a scanning electron microscope or the like, and a sample observation device capable of observing the prepared sample in a short time.例文帳に追加

透過電子顕微鏡や走査電子顕微鏡などにおける試料観察を短時間に行える試料作製方法および試料作製装置、ならびにその作製された試料を短時間に観察できる試料観察装置を提供する。 - 特許庁