| 例文 (6件) |
ion‐optical deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6件
The collision cell (24) contains a second ion optical device (25).例文帳に追加
衝突セル（２４）は第二イオン光学装置（２５）を内蔵する。 - 特許庁
The first evacuated chamber (6) includes a first ion optical device (17).例文帳に追加
第一真空チャンバ（６）は第一イオン光学装置（１７）を有する。 - 特許庁
To provide a FIB(focusing ion beam) device compact with excellent performance by reducing aberration of an ion optical system.例文帳に追加
イオン光学系の収差を軽減して、コンパクトで性能のよいＦＩＢ装置を提供すること。 - 特許庁
The focused ion beam device is provided with a plasma type gas ion source to generate ion beams and an ion optical system to concentrate ion beams generated from the plasma gas ion source on a test piece.例文帳に追加
イオンビームを発生させるプラズマ型ガスイオン源と、プラズマ型ガスイオン源から発生したイオンビームを試料上に集結させるイオン光学系を備えた集束イオンビーム装置である。 - 特許庁
A microscope system 200 comprises: a He ion source; a first lens 216; axis adjusting deflectors 220 and 222; a diaphragm 224; scanning deflectors 219 and 221; an ion optical device 130 including a second lens 226; and a sample chamber.例文帳に追加
顕微鏡システム２００は、Ｈｅイオン源、第一レンズ２１６、軸合せ偏向器２２０及び２２２、絞り２２４、走査偏向器２１９及び２２１、第二レンズ２２６を含むイオン光学機器１３０、並びに試料室を有する。 - 特許庁
When the measured electrical resistance value reaches a reference value after alternately repeating the ion beam machining step and electrical resistance measuring step, a controller 20 discriminates that the wiring 4 of the sample 3 has been disconnected and terminates the focused ion beam machining, by continuously causing the ion beam 2 to be deflected to a Faraday cup 8 side by controlling the ion optical device 1.例文帳に追加
イオンビーム加工工程と電気抵抗測定工程とを交互に繰り返し、測定した電気抵抗値が基準値に到達したら試料が断線したと判断し、制御装置２０がイオン光学装置１を制御して、イオンビーム２をファラデーカップ８側に偏向させ続け集束イオンビーム加工を終了する。 - 特許庁
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