「sample stage」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SAMPLE HOLDER AND SAMPLE STAGE例文帳に追加

試料ホルダおよび試料ステージ - 特許庁

SAMPLE STAGE DRIVING MECHANISM例文帳に追加

試料ステージ駆動機構 - 特許庁

HIGH-RESOLUTION SAMPLE STAGE例文帳に追加

高分解能試料ステージ - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加

電子線装置用試料台 - 特許庁

SAMPLE STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料ステージ - 特許庁

SAMPLE STAGE OF ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加

電子ビーム装置の試料ステージ - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁

SAMPLE STAGE, AND MEASUREMENT, INSPECTION AND OBSERVATION APPARATUS INCLUDING SAMPLE STAGE例文帳に追加

試料ステージ及び試料ステージを備えた測定，検査，観察装置 - 特許庁

A sample stage 15 for mounting a sample 14 is disposed slidably on the sample stage rail 12.例文帳に追加

試料台レール１２には試料１４を載せる試料台１５を摺動自在に配置する。 - 特許庁

A sample stage 2 is housed in a sample chamber 1, while a sample 3 is placed on the sample stage 2.例文帳に追加

試料室１には試料ステージ２が収納され、試料ステージ２上には試料３が載置されている。 - 特許庁

The sample stage 6 is connected to the X-axis stage 3 by a sample stage connecting member 5.例文帳に追加

また、試料台6は試料台連結材5によってＸ軸ステージ3に連結される。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE STAGE例文帳に追加

電子顕微鏡および試料ステージ - 特許庁

SAMPLE STAGE AND PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料支持台及び粒子線装置 - 特許庁

A sample 4 is placed on a sample stage 5 within a chamber 2.例文帳に追加

チャンバ２内の試料台５に試料４が載置される。 - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁

PLASMA TREATMENT APPARATUS AND SAMPLE STAGE THEREFOR例文帳に追加

プラズマ処理装置及びその試料台 - 特許庁

STAGE, AND DEVICE FOR PREPARING FIB SAMPLE例文帳に追加

ステージ及びＦＩＢ試料作成装置 - 特許庁

SAMPLE STAGE DEVICE, AND ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加

試料ステージ装置、及び電子線装置 - 特許庁

TOP ENTRY TYPE SAMPLE STAGE TILTING DEVICE例文帳に追加

トップエントリ式試料ステージ傾斜装置 - 特許庁

FIXING METHOD AND DEVICE OF SAMPLE STAGE例文帳に追加

サンプルステージの固定方法および装置 - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR ELECTRON BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

電子ビーム露光装置用試料ステージ - 特許庁

SAMPLE MEASURING APPARATUS AND SAMPLE STAGE ADJUSTING METHOD OF SAMPLE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

試料測定装置および試料測定装置の試料台調節方法 - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR ESCA AND SAMPLE HOLDER FOR ESCA例文帳に追加

ＥＳＣＡ用試料ステージおよびＥＳＣＡ用試料ホルダ - 特許庁

SAMPLE STAGE AND CHARGED PARTICLE RAY APPARATUS例文帳に追加

試料ステージ及び荷電粒子線装置 - 特許庁

SAMPLE STAGE DEVICE HAVING TEMPERATURE GRADIENT例文帳に追加

温度勾配の形成された試料載置装置 - 特許庁

SAMPLE STAGE DEVICE AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

試料ステージ装置及びその制御方法 - 特許庁

The sample stage face has an inclined groove for holding a mesh on the sample stage face.例文帳に追加

試料ステージ面は、該試料ステージ面に対してメッシュ挟持用の傾斜溝を有する。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER AND STAGE FOR X-RAY MICROSCOPE例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡試料ホルダーおよびステージ - 特許庁

The sample scanner 5 is mounted in a sample driving mechanism 3 via a sample stage 4.例文帳に追加

試料スキャナ５は試料ステージ４を介して試料ステージ駆動機構３に載値されている。 - 特許庁

STAGE FOR MOUNTING SAMPLE THEREON, XY STAGE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料載置用のステージ、ＸＹステージおよび荷電粒子線装置 - 特許庁

SAMPLE STAGE DEVICE AND CHARGED PARTICLE RADIATION DEVICE例文帳に追加

試料ステージ装置、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER HOLDING MECHANISM OF SAMPLE STAGE例文帳に追加

試料ステージにおける半導体ウエハ保持機構 - 特許庁

To provide a sample stage which stabilizes a sample position during sample observation and can smoothly move a sample and a microscope or measuring instrument using this sample stage.例文帳に追加

試料観察時には試料位置が安定し、かつ試料をスムーズに移動できる試料ステージ及びその試料ステージを用いた顕微鏡又は測定器を提供すること。 - 特許庁

The sample 6 is mounted on a sample base 7 by being provided with electrical continuity; and the sample base 7 is mounted on a sample stage 8 by being electrically insulated from the sample stage 8.例文帳に追加

試料６は試料台７に電気的導通を持たせて取り付けられ、試料台７は試料ステージ８と電気的に絶縁されて試料ステージ８に載置される。 - 特許庁

The microscope body 3 has a sample stage 2.例文帳に追加

顕微鏡本体３は試料ステージ２を有する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SAMPLE STAGE THEREFOR例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその試料ステージ - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR FOCUSED ION BEAM DEVICE AND METHOD FOR FORMING LAMINA SAMPLE例文帳に追加

集束イオンビーム装置用試料ステージ及び薄片試料の形成方法 - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR PLASMA PROCESSING SYSTEM AND ITS MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加

プラズマ処理装置用試料台及びその製法 - 特許庁

BREAKING MECHANISM AND SAMPLE STAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

制動機構および電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁

A sample stage device 1 comprises the sample stage surface 31 where a sample is placed and a heating means for heating the sample stage surface 31.例文帳に追加

そのため、従来の顕微鏡用加温装置とは異なり、試料載置面に温度勾配が形成され、しかもその温度勾配を意図的に制御できる試料載置装置が求められている。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH TILTED SAMPLE STAGE例文帳に追加

傾斜試料ステージを備える走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING TEMPERATURE OF SAMPLE STAGE, AND METHOD AND APPARATUS FOR PROCESSING SAMPLE例文帳に追加

試料台の温度制御方法及び装置と試料処理方法及び装置 - 特許庁

The sample-holding heating apparatus consists of a sample stage 11 with a heating heater, and a sample-holding member 21.例文帳に追加

電熱ヒータを有する試料台１１と、試料保持部材２１とで試料保持加熱装置を構成する。 - 特許庁

The sample support device has a mounting stage 8 superimposed on a base stage 7, and supports a sample S with the mounting stage 8.例文帳に追加

ベースステージ７に重ねて配置される搭載ステージ８を有し、この搭載ステージ８によって試料Ｓを支持する試料支持装置である。 - 特許庁

A sample 5002 is mounted on a stage 5003.例文帳に追加

試料５００２はステージ５００３上に載置されている。 - 特許庁