「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST PATTERN GENERATOR例文帳に追加

テストパターン発生装置 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION DEVICE例文帳に追加

テストパターン生成装置 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING DEVICE例文帳に追加

テストパターン発生装置 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION APPARATUS例文帳に追加

テストパターン生成装置 - 特許庁

TEST PATTERN PHOTOGRAPHING APPARATUS例文帳に追加

テストパターン撮影装置 - 特許庁

TEST PATTERN PREPARATION DEVICE例文帳に追加

テストパターン作成装置 - 特許庁

TEST PATTERN FORMING APPARATUS例文帳に追加

テストパターン作成装置 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, AND TEST PATTERN GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストパタン生成システム、テストパタン生成方法、およびテストパタン生成プログラム - 特許庁

TEST PATTERN EDITING DEVICE例文帳に追加

テストパターン編集装置 - 特許庁

TEST PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加

テストパターン生成方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING MEANS例文帳に追加

テストパターン発生手段 - 特許庁

METHOD FOR PRINTING TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターン印刷方法 - 特許庁

PATTERN TEST APPARATUS, PATTERN TEST METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

パターン検査装置、パターン検査方法及びプログラム - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, TEST PATTERN ANALYZING SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN ANALYTICAL METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST PATTERN ANALYTICAL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成システム、テストパターン解析システム、テストパターン生成方法、テストパターン解析方法、テストパターン生成プログラム、テストパターン解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁

TEST PATTERN SELECTION APPARATUS, TEST PATTERN SELECTION MEANS, AND TEST PATTERN SELECTING PROGRAM例文帳に追加

テストパターン選択装置、テストパターン選択方法、及びテストパターン選択プログラム - 特許庁

TEST PATTERN SELECTION DEVICE AND TEST PATTERN SELECTION METHOD例文帳に追加

テストパターン選別装置及びテストパターン選別方法 - 特許庁

PRINTER, TEST PATTERN, AND METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN例文帳に追加

印刷装置、テストパターン及びテストパターン製造方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR, AND TEST PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加

テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法 - 特許庁

TEST PATTERN PRINTING METHOD, PRINTING APPARATUS, AND TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターン印刷方法、印刷装置、及びテストパターン - 特許庁

TEST PATTERN EDITING SYSTEM, TEST PATTERN EDITING PROGRAM, AND TEST PATTERN EDITING METHOD例文帳に追加

テストパターン編集装置、テストパターン編集プログラム及びテストパターン編集方法 - 特許庁

PRINTER, TEST PATTERN PRINTING METHOD, TEST PATTERN PRINTING PROGRAM, AND TEST PATTERN DATA例文帳に追加

印刷装置、テストパターン印刷方法、テストパターン印刷プログラムおよびテストパターンデータ - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING CIRCUIT AND TEST CIRCUIT例文帳に追加

テストパターン生成回路及びテスト回路 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING METHOD, AND TEST PATTERN GENERATING PROGRAM例文帳に追加

テストパターン生成方法およびテストパターン生成プログラム - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, AND TEST PATTERN GENERATION DEVICE例文帳に追加

テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置 - 特許庁

The test pattern is read by a test pattern imaging section 6.例文帳に追加

このテストパターンをテストパターン撮像部６により読み取る。 - 特許庁

TEST EJECTION METHOD AND TEST EJECTION PATTERN例文帳に追加

テスト吐出方法及びテスト吐出パターン - 特許庁

TEST PATTERN CREATING METHOD, TEST PATTERN CREATING SYSTEM, TEST METHOD AND TEST CIRCUIT FOR SYSTEM LSI例文帳に追加

システムＬＳＩのテストパターン作成方法，テストパターン作成装置，テスト方法及びテスト回路 - 特許庁

TEST-PATTERN FORMING METHOD, PRINTER AND TEST-PATTERN FORMING PROGRAM例文帳に追加

テストパターン形成方法、プリンタ、及びテストパターン形成プログラム - 特許庁

TEST PATTERN MANAGEMENT DEVICE, TEST PATTERN MANAGEMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

テストパターン管理装置及びテストパターン管理方法及びプログラム - 特許庁

TEST RECORDING PATTERN DEPLOYMENT METHOD例文帳に追加

テスト記録パターン展開方法 - 特許庁

PARALLEL GENERATION METHOD FOR TEST PATTERN AND GENERATION APPARATUS FOR TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターンの並列生成方法およびテストパターン生成装置 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION MANAGING SYSTEM AND TEST PATTERN GENERATION MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

テストパターン生成管理システム及びテストパターン生成管理方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION DEVICE, TEST PATTERN CORRECTION DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成装置、テストパターン修正装置、テストパターン生成方法、プログラム、及び、記録媒体 - 特許庁

TEST DEVICE, PATTERN GENERATING DEVICE, TEST METHOD, AND PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加

テスト装置、パタン生成装置、テスト方法、及びパタン生成方法 - 特許庁

IMAGE RECORDER, TEST PATTERN AND TEST PATTERN FOR IMAGE RECORDER例文帳に追加

画像記録装置、テストパターン及び画像記録装置用テストパターン - 特許庁

TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION PROGRAM AND TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD例文帳に追加

テストパタン自動生成プログラムおよびテストパタン自動生成方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR FOR SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加

半導体試験装置の試験パターン発生装置 - 特許庁

LSI SCAN TEST APPARATUS, TEST SYSTEM, TEST METHOD, AND TEST PATTERN CREATING METHOD例文帳に追加

ＬＳＩスキャンテスト装置、テストシステム、テスト方法、及びテストパターン作成方法 - 特許庁

A test pattern generator 24 reads a test pattern out of a test pattern storage 25 and prints out the pattern by using an output device.例文帳に追加

テストパターン発生装置２４がテストパターン記憶装置２５からパターンを読み出し、出力装置に印刷する。 - 特許庁

TEST PATTERN, TEST PATTERNING METHOD, AND PRINTER例文帳に追加

テストパターン、テストパターン作成方法及び印刷装置 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁

PRINTING DEVICE AND TEST PATTERN THEREOF例文帳に追加

印刷装置、及びそのテストパターン - 特許庁

A test pattern is output.例文帳に追加

テストパターン出力が行なわれる。 - 特許庁

QUALITY ASSESSMENT METHOD FOR TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターンの品質評価方法 - 特許庁

TEST PATTERN FORMING SYSTEM AND FORMING METHOD FOR TEST PATTERN USED THEREFOR例文帳に追加

テストパターン作成システム及びそれに用いるテストパターン作成方法 - 特許庁