「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(43ページ目) - Weblio英語例文検索

An observer turns the objective lens part 134 of a remote controller 130 for a test pattern (color patch) and a reference white board 114 displayed on a video display surface 112, adjusts a viewing angle and a focus and measures the illumination light characteristics of the observation environment and monitor display characteristics.例文帳に追加

観察者がリモートコントローラ１３０の対物レンズ部１３４を、映像表示面１１２に表示されるテストパターン（カラーパッチ）や基準白色板１１４に向けて画角の調整および焦点調節を行い、観察環境の照明光特性とモニタ表示特性とを計測する。 - 特許庁

The correction method includes the steps of recording a predetermined gradation image as a test pattern on an object recording medium for the image to be printed and on a recording medium for correction of the nonuniformities in density respectively; producing data reflecting the correlation from the results of read images on both of the mediums; and producing a correction table for the nonuniformities in density based on the data.例文帳に追加

画像印字対象の記録媒体と、濃度むら補正用の記録媒体の夫々に対して、テストパターンである所定の階調画像を記録し、それぞれを読み取った結果から、相関関係を考慮したデータ類を作成し、これを用いて濃度むら補正用テーブルを作成する。 - 特許庁

A high frequency module 10 comprises: a layered body including a plurality of dielectric layers having an electrode pattern thereon; and a switching element 11 integrally mounted on the surface of the layered body and having a test terminal PT for outputting a negative voltage applied to the switching element 11.例文帳に追加

高周波モジュール１０は、電極パターンが形成された複数の誘電体層を有する積層体と、スイッチ素子１１に印加された負電圧を出力するテスト端子ＰＴを有し、積層体の表面に実装されたスイッチ素子１１とが一体成型されている。 - 特許庁

In this image forming method, a two-component developer consisting of toner and a carrier is used, a test pattern is developed after it is optically written on a photoreceptor, and the reflectance of the pattern is detected by a photosensor and then the toner replenishment of a developing device is performed based on the detected value.例文帳に追加

トナーとキャリアからなる２成分現像剤を用い、感光体上にテストパターンを光書き込みした後現像し、光センサによりパターンの反射率を検知し、その検知した値に基づいて現像器へのトナー補給を行う画像形成方法において、機器の再動作開始後、現像剤および感光体の電気特性が安定するまでの所定時間経過後、光センサによる検知を実行することを特徴とする。 - 特許庁

When a test pattern for confirming the recording characteristics of each recording element is recorded in a serial recorder having a recording head arranged with a plurality of recording elements, a plurality of straight line patterns (patterns 1-10) having a specified length in the scanning direction are recorded by driving three adjacent recording elements in parallel such that all recording elements are used for recording at least one straight line pattern.例文帳に追加

複数の記録素子が配列された記録ヘッドを有するシリアル型の記録装置において、各記録素子の記録特性を確認するためのテストパターンを記録する際に、隣接する３つの記録素子を並列に駆動して走査方向に所定の長さを有する直線パターン（パターン１〜パターン１０）を、全ての記録素子が少なくとも１つの直線パターンの記録に使用されるように、複数記録する。 - 特許庁

A back panel 13 or a front panel 7 constituting this PDP has a structure wherein a dimension checking pattern 16 is formed in an outside region B being a region outside an image display region A of the PDP for displaying an image; and test pattern parts 11a of barrier ribs are formed by extending the barrier ribs 11 constituting discharge cells 14 on the back panel 13 to the region B as well.例文帳に追加

ＰＤＰを構成するバックパネル１３、またはフロントパネル７において、ＰＤＰの画像を表示する画像表示領域Ａの外側の領域である表示領域外Ｂにディメンジョンチェック用パターン１６を形成し、更に、バックパネル１３における放電セル１４を構成する隔壁１１を表示領域外Ｂにも延長して隔壁のテストパターン部１１ａを形成した構成を有する。 - 特許庁

In the printed wiring board (TAB tape 1) wherein a plurality of wiring regions 3 forming a wiring pattern are disconnected and disposed at intervals mutually on one continuous rectangular insulating substrate 2, a reliability test circuit 5 which is disconnected to a wiring pattern inside the wiring region 3 is provided along a plurality of wiring region 3 in a void region outside the wiring region 3.例文帳に追加

１つの連続した矩形状の絶縁性基板２上に、配線パターンを形成してなる配線領域３が互いに間隔を置いて非接続に複数配置されたプリント配線板（ＴＡＢテープ１）であって、その配線領域３の外側の空き領域に、配線領域３内の配線パターンとは非接続な信頼性試験回路５を、複数の配線領域３に亘って沿うように設けた。 - 特許庁

This circuit is provided with a normal circuit for performing a scan test, a BIST control circuit having a mode 1 in which operation is automatically stopped after writing a pattern in the memory and a mode 2 in which a value written from the memory is read and compared with the prescribed expected value, and a memory write prohibiting circuit fixing an input signal to the memory while the normal circuit is in a scan test.例文帳に追加

スキャンテスト可能な通常回路と、前記通常回路に接続されるメモリとを有する半導体回路において、前記メモリにパターンを書き込みして自動に停止するモード１と前記メモリから書き込んだ値を読み出して所定の期待値と比較するモード２とを有するＢＩＳＴ制御回路と、通常回路がスキャンテストにある間、前記メモリへの入力信号を固定するメモリ書込禁止回路と、を備える構成とした。 - 特許庁

Multiple memory cells are sequentially tested and error pattern information is updated based on a relative arrangement relation of multiple defective memory cells each time a defective memory cell is detected by the test, and error address information is updated based on at least a part of the addresses of the multiple defective memory cells.例文帳に追加

複数のメモリセルに対して順番にテストを行い、テストによって不良メモリセルを検出するたびに、複数の不良メモリセルの相対的な配置関係に基づいてエラーパターン情報を更新するとともに、複数の不良メモリセルの少なくとも一部のアドレスに基づいてエラーアドレス情報を更新する。 - 特許庁

The timing when the plurality of operation clocks inside the semiconductor integrated circuit have a prescribed phase relation is detected by a phase relation detection circuit, and a trigger signal is outputted, and an input timing of a test pattern, a start timing of the verification program and a comparison timing with the expectation data are used as a relative timing based on a trigger timing.例文帳に追加

半導体集積回路内部の複数の動作クロック１、２が所定の位相関係になるタイミングを位相関係検出回路により検出し、トリガー信号を出力して、試験パターンの入力タイミング、検証プログラムの開始タイミング、期待値データとの比較タイミングを、前記トリガータイミングを基準とした相対タイミングとする。 - 特許庁

The ITO wiring 2 in a thin film multilayer wiring electrode pattern has a narrow part 2p between a terminal part 2c to be electrically connected to the wiring conductor of a film substrate and the substrate end face 1e of a TFT substrate 101, so as to connect a test probe for the display inspection of a liquid crystal panel single body.例文帳に追加

薄膜多層配線電極パターンのＩＴＯ配線２は、フィルム基板の配線導体に電気的に接続される端子部２ｃとＴＦＴ基板１０１の基板端面１ｅとの間に、液晶パネル単体の表示検査の際にテスト用プローブを接続するための狭小部２ｐを有している。 - 特許庁

A pattern program creation support device includes an inputting and outputting part for displaying a cell corresponding to an address range for performing address operation in a semiconductor test to receive designation of an address order, and a program converting part for converting the designated address order into an address computing instruction defined in a predetermined program language.例文帳に追加

半導体試験におけるアドレス動作を行なうアドレス範囲に対応したセルを表示し、アドレス順番の指定を受け付ける入出力部と、指定されたアドレス順番を、所定のプログラム言語で定義されたアドレス演算命令に変換するプログラム変換部とを備えたパターンプログラム作成支援装置。 - 特許庁

Since direct inputs to the RAM section from the outside are carried out in addition to operation from the LOGIC section of inputs to the RAM section, a test pattern is input easily from the outside, and the data write, etc., of initial data to the RAM section can also be conducted at high speed from the outside.例文帳に追加

ＲＡＭ部への入力をＬＯＧＩＣ部から行うという動作に加えて，外部から直接ＲＡＭ部への入力を行うことが可能となるため，外部からのテストパターンの入力等が容易となり，また，ＲＡＭ部への初期データのデータ書き込み等も外部から高速に行うことが可能となる。 - 特許庁

By providing an operation plan correction means 102 for calculating an operation pattern with a low energy saving characteristic assumed by characteristics of the cogeneration device by simple operations, the number of test operation patterns being operation patterns carrying out detailed operations of operation patterns feasible in a predetermined operation plan period is reduced.例文帳に追加

コージェネレーション装置の特性により想定される、省エネルギー性の低い運転パターンを簡易な演算により算出する運転計画補正手段１０２を備えることにより、所定の運転計画期間で取り得る運転パターンのうち詳細な演算を行う運転パターンである試験運転パターンの数が減少される。 - 特許庁

Each of a plurality of the lenses 12-1 to 12-4 is located side by side between the screen 30 and the imaging element 11, and forms the test pattern image in each of a plurality of photographing regions 32-1 to 32-4 on the screen 30 to each of a plurality of divided faces of the imaging element 11.例文帳に追加

複数レンズ１２−１、〜、１２−４の各々は、スクリーン３０と撮像素子１１と間に、並列に配置され、スクリーン３０上の複数分割された撮影領域３２−１、〜、３２−４の各々内のテストパターン画像を、撮像素子１１面が複数に分割された分割面の各々に結像する。 - 特許庁

The specified pattern of the test image T has such a pixel value as color difference from the surroundings can be recognized when it is displayed on a monitor having a display color resolution of 24 bits, but color difference from the surroundings can not be recognized when it is displayed on a monitor having a display color resolution of 16 bits or less.例文帳に追加

テスト画像Ｔの所定パターンは、２４ビットの表示色分解能を有するモニタに表示した場合には周囲との色の差異を確認できるが、１６ビット以下の表示色分解能を有するモニタに表示した場合には周囲との色の差異を確認できなくなる画素値を有する。 - 特許庁

If, in the case of insertion of the divider between a plurality of sets, the non-image region exists in the divider in a job where the sets exist, a test pattern relating to image quality correction, such as image adjustment and alignment, is generated/outputted by using the non-image region (S30), but the transfer to the output paper is prohibited (S32).例文帳に追加

複数のセットが存在するジョブにおいて、セット間に仕切紙を挿入する場合において、その仕切紙に無画像領域が存在する場合には、無画像領域を利用して、画像調整や位置合せなどの画質補正に関わるテストパターンを生成・出力する（Ｓ３０）が、出力用紙への転写を禁止する（Ｓ３２）。 - 特許庁

The primary differential value of a gradation value at the corresponding position of the test pattern and a neighbor reading pixel position are calculated from reading image data (S84) and the corresponding position of the unit less than one pixel of the reading pixel pitch can be obtained by referring to a multi dimensional table by making the primary differential value as an input value (S86).例文帳に追加

また読取画像データから、テストパターンの対応位置及び隣接読取画素位置における階調値の一次微分値を算出し（Ｓ８４）、この一次微分値を入力値として多次元テーブルを参照することにより読取画素ピッチの１画素未満単位の対応位置が求められる（Ｓ８６）。 - 特許庁

The short-circuit part formed between the wiring 6 and the adjacent wiring 8 in the wiring test pattern having this configuration can easily be specified from a change in resistance between the terminals 7a and 7b by applying a prescribed voltage between the terminals 7a and 7b to apply an arbitrary potential to the adjacent wiring 8.例文帳に追加

このような構成を有する配線テストパターンに対し、端子７ａ，７ｂ間に所定の電圧を印加し、隣接配線８に任意の電位を印加する事で、配線６と隣接配線８との間で発生したショート箇所を、端子７ａ，７ｂ間の抵抗値変化から容易に特定することができる。 - 特許庁

To provide an image forming method in which toner concentration is made stable by controlling toner replenishment according to previous detection data without optically detecting a test pattern only at the time of restarting the operation of equipment after stopping or controlling it according to data on image amount in addition to the previous detection data.例文帳に追加

本発明は、休止後の機器動作再開時のみテストパターンを光学的に検知をせず、先回の検知データにより、トナー補給制御を行うかまたは先回の検知データに加え画像量のデータによりトナー補給制御を行うことで、トナー濃度の安定を図る画像形成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a vertical magnetic recording disk which improves recording characteristic of the magnetic disk and quality of a read out signal by writing a certify test or servo pattern in a good state, and a magnetic disk manufactured by the same method.例文帳に追加

磁気ディスクの記録特性を向上し、良好な状態でサーティファイテストまたはサーボパターンの書き込みを行ない、また読み出し信号品質を改善することが可能な垂直磁気記録方式の磁気ディスクの製造方法、およびかかる方法で製造した磁気ディスクを提供することを目的としている。 - 特許庁

A failure simulation part 108 performs the failure simulation through the use of the failure list 106, the net list 101, and the test pattern 102, and then, outputs a non-detection failure list, which is generated with the use of the fault which is not detected in the failure list 106 and the fault which is excluded in the generation, as a failure detection report 109.例文帳に追加

故障シミュレーション部１０８は、その故障リスト１０６、ネットリスト１０１及びテストパターン１０２を用いて故障シミュレーションを行い、故障リスト１０６で検出されなかった故障、及びその生成時に除外した故障から生成した未検出故障リストは故障検出レポート１０９として出力する。 - 特許庁

To make checkable the connection state of each input/output terminal of a semiconductor integrated circuit loaded on a substrate without using a dedicated testing device, and to make testable the operation of the semiconductor integrated circuit by inputting a prescribed test pattern into each input/output terminal of the semiconductor integrated circuit loaded on the substrate.例文帳に追加

専用のテスト装置を用いずに、基板上に搭載された半導体集積回路の各入出力端子の接続状態をチェックすることができ、基板上に搭載された半導体集積回路の各入力端子に所定のテストパターンを入力し、半導体集積回路の動作をテストすることができるようにする。 - 特許庁

Then, after the cable conductor is grounded, a prescribed voltage application pattern is applied in a plurality of times in the order from a low voltage side to a high voltage side as AC voltage application by a transformer 2 for a test, and the highest AC application voltage or field intensity by which the residual charge is measured and a residual charge total amount Q_E* are determined.例文帳に追加

ついで、ケーブル導体を接地した後に、試験用変圧器２により交流電圧課電として所定の課電パターンを低電圧側から高電圧側の順に複数回行い、残留電荷が測定される最高交流課電電圧あるいは電界強度と残留電荷総量Ｑ_E ^* を求める。 - 特許庁

To provide a recording apparatus which can exactly correct the gap of a relative recording position between nozzle arrays in the nozzle arrangement direction (carrying direction) even if a carrying error in conveying a recording medium arises when a test pattern is recorded for correcting the gap of the recording position between a plurality of arrays while carrying the recording medium.例文帳に追加

記録媒体を搬送させて複数列間の記録位置のずれを補正するためのテストパターンを記録する際に、記録媒体を搬送するときの搬送誤差が生じても、ノズル配列方向（搬送方向）におけるノズル列間の相対的な記録位置のずれを正確に補正することができる記録装置の提供。 - 特許庁

A region A corresponding to the output from the first OSD plane 23A and a region B corresponding to the output from the second OSD plane 23B are set as a region for performing a CRC arithmetic operation in an image of one frame formed by a plurality of image processing circuits according to an input test pattern.例文帳に追加

入力されるテストパターンに応じて複数の画像処理回路が形成する１フレームの画像において、第１ＯＳＤプレーン２３Ａからの出力に対応する領域Ａと、第２ＯＳＤプレーン２３Ｂからの出力に対応する領域ＢとをＣＲＣ演算する領域として設定する。 - 特許庁

A bump 53 is formed on the electrode pad 52 of a semiconductor device 50 and brought into contact with a measuring land 56 at the forward end part of the wiring pattern 55 of a flexible sheet 54 placed on the lower surface of a probe card 53 fixed to the lower surface of a test board 53 on the measuring equipment side thus measuring the characteristics.例文帳に追加

半導体装置５０の電極パッド５２上に突起５３を形成し、測定装置側のテストボード５３の下面に取付けられているプローブカード５３の下面のフレキシブルシート５４の配線パターン５５の先端部の測定用ランド５６に上記突起５３を接触させて特性の測定を行なう。 - 特許庁

That is, a first temporary correction value corresponding to a first portion of a test pattern is determined based on a density measurement value of each row region in the first portion, and then, a first correction value corresponding to a first printing mode is set by each row region based on a value obtained by multiplying an attenuation coefficient to the first temporary correction value.例文帳に追加

すなわち、テストパターンの第１部分における列領域毎の濃度測定値に基づいて、第１部分に対応する第１仮補正値を列領域毎に定め、第１仮補正値に減衰係数を乗じた値に基づいて、第１印刷方式に対応する第１補正値を前記列領域毎に設定する。 - 特許庁

The insulating resin film 3 comprises a circuit pattern on which a plurality of conductive contact pads are formed corresponding to a plurality of bumps 21 of an IC 10, and which electrically connects the contact pads with an external electrical test circuit, and is made of a material capable of elastically deforming at a temperature of 150°C for a long period.例文帳に追加

絶縁性樹脂フィルム３は、ＩＣ１０の複数のバンプ２１に対応するように導電性の接触パッドが複数形成されると共に、該接触パッドと外部電気的テスト回路とを電気的に接続する回路パターンが形成され、１５０℃の温度環境下でも長期間弾性変形が可能な材料が使用される。 - 特許庁

An image of a test chart consisting of a dot pattern is formed on the CCD 29 to monitor a change in an output of the CCD 29 due to a fog or the like in the case of forming the reflected optical image from the original onto a light receiving face of the CCD 29, and the resolution of the image is evaluated by obtaining an output state of each dot.例文帳に追加

結像レンズ２８により、原稿からの反射光像をＣＣＤ２９の受光面に結像させる時に、ボケ等による出力変化を監視するために、網点パターンからなるテストチャートをＣＣＤ２９に結像させ、その網点部分での出力状態を求めれ解像度評価を行う。 - 特許庁

Analysis areas for analyzing shading characteristic are set at a plurality of positions in the read image area of the test pattern (S15), histogram of an image signal in each analysis area is generated, and a gradation value corresponding to the predetermined percentage point of the histogram is obtained, and then distribution information showing the shading characteristics is generated (S44).例文帳に追加

テストパターンの読取画像領域内における複数の位置に、シェーディング特性を解析するための解析領域を設定する（S15）、各解析領域内の画像信号のヒストグラムを生成し、そのヒストグラムの所定パーセント点に対応する階調値を求め、シェーディング特性を示す分布情報を生成する（S44）。 - 特許庁

A control part 90 forms a test pattern on a sheet of recording paper 3 by performing image forming operation for transferring a toner image on the recording paper 3, and then at least in an area for a portion worth a single period of a photoreceptor drum 62, forms a non-plotting area, on which the toner image is not formed on the recording paper 3.例文帳に追加

制御部９０は、記録用紙３上にトナー像を転写する画像形成動作を行うことにより、記録用紙３上にテストパターンを形成し、次いで、少なくとも感光体ドラム６２の１周分の領域で、記録用紙３上に、トナー像が形成されない非描画領域を形成する。 - 特許庁

An operation evaluation value which takes additional information evaluation value into account by an operation result calculation means is calculated by providing an additional information judgment means calculating additional information evaluation value indicating possibility of generation of energy load operating the breaker for each test operation pattern which can be taken by a means for preparing an operation plan.例文帳に追加

運転計画作成手段で取り得る試験運転パターンごとに、ブレーカーが落ちるようなエネルギー負荷が発生する可能性示す付加情報評価値を算出する付加情報判定手段を供えることにより、運転結果算出手段で付加情報評価値を加味した運転評価値が算出される。 - 特許庁

Based on the results obtained by driving the light source of the reader by a plurality of different driving electric currents and by detecting the amounts of reflected light on respective electric current values respectively in a test pattern for calibration printed on a medium and the blank region of the medium, a correction factor for correcting the detection by the reader is obtained.例文帳に追加

メディアにプリントされたキャリブレーション用のテストパターンとメディアのブランク領域のそれぞれにおいて、読取器の光源を複数の異なる駆動電流により駆動して電流値毎に反射光量を検出した結果に基づいて、前記読取器による検出を補正するための補正係数を求める。 - 特許庁

In the controlling device for the carrying amount of material to be recorded for controlling the carrying amount of the printing paper, a test pattern printing is performed in a recording density of 60% as an index for representing the ink discharging amount per a predetermined area so as to obtain the number of correction steps (a correction factor) for appropriately correcting the carrying amount in the recording density of 60%.例文帳に追加

印刷用紙の搬送量を制御する被記録材搬送量制御装置は、所定面積あたりのインク吐出量を表す指標としての記録密度６０％でテストパターン印刷を行い、記録密度６０％において搬送量を適切に補正する為の補正段数（補正係数）を得る。 - 特許庁

Interpolation operation is carried out for an image data D3 of a color test pattern expressed by coordinate values in a three dimensional coordinate space (namely, three components) using anyone of a plurality of three dimensional lookup tables b1 and b2, and the image data are transformed into an image data of four components of C, M, Y, and K to output a print.例文帳に追加

３次元座標空間における座標値によって表現された（すなわち３成分の）カラーテストパターンの画像データＤ３を、複数個の３次元ルックアップテーブルｂ１，ｂ２のいずれかを用いて補間演算することによって、Ｃ，Ｍ，Ｙ，Ｋの４成分の画像データに変換し、プリント出力する。 - 特許庁

A method comprises subjecting a substance 32 made from a transparent glass or a quartz on which surface a metal thin film 33 is formed, and about half surface of which is covered with a mask 34 for etching, and comprises judging a degree of etching by observing an judgment pattern 37 on a test piece 15 after removing the mask 34.例文帳に追加

透明なガラスまたは石英の基体３２の表面に金属薄膜３３を形成するとともに、マスク３４によって基体３２の表面の約半分の領域を覆った状態でエッチングに供し、この後にマスク３４を除去して判定パターン３７を透して見ることによって、テストピース１５でエッチングの度合を知る。 - 特許庁

When there are a plurality of specific normalized transient operation modes, a transient test is conducted for a transient operation mode having commonly a change pattern of control value of control factor included in a plurality of transient operation modes, and data are fetched with a limitation of data within distribution in a remarkable data region to form a transient engine model.例文帳に追加

所定の規格化された過渡運転モードが複数有るときには、これら複数の過渡運転モードに含まれる制御因子の制御値の変更パターンを共通に有する一つの過渡運転モードにより過渡試験を行い、着目すべきデータ領域の分布内のデータに限定してデータを取り込み過渡エンジンモデルを作成する。 - 特許庁

In a test method for checking whether operation of a gas supply electromagnetic valve of each cylinder in a multiple cylinder engine is appropriately performed in a prescribed order or not, operation of the gas supply electromagnetic valve of the cylinder of first ignition order is performed by using the pattern distinguishable from others, such as two continuous operation (operation commands S1 + S1').例文帳に追加

多気筒ガスエンジンにおける各気筒のガス供給電磁弁の作動が所定の順番で適正に行われるか否かをチェックする試験方法において、着火順位１番目の気筒のガス供給電磁弁の作動を、２回の連続作動（作動指令Ｓ１＋Ｓ１’）等の他と区別し得るパターンで行わせる。 - 特許庁

The leaked electromagnetic field information evaluation system comprises an antenna which measures electromagnetic waves leaking from an instrument to be evaluated on which a test pattern is displayed and receives the electromagnetic waves leaking from the instrument to be evaluated, a band-pass filter circuit, and a processor which quantifies information obtained from the band-pass filter circuit by controlling the central frequency of the band-pass filter circuit.例文帳に追加

テストパターンが表示されている評価対象機器から漏洩する電磁波を計測し、評価対象機器から漏洩する電磁波を受信するアンテナと、帯域フィルタ回路と、帯域フィルタ回路の中心周波数を制御して、この帯域フィルタ回路から得られる情報量を定量化する処理装置とを備え。 - 特許庁

To correctly detect a test pattern formed on each image carrier in an image forming apparatus having a color image carrier and a black image carrier forming a yellow toner image, a magenta toner image, a cyan toner image, and a black toner image respectively and having a transfer belt opposed to the image carriers.例文帳に追加

イエロートナー像、マゼンタトナー像、シアントナー像及び黒トナー像がそれぞれ形成されるカラー用の像担持体と黒用の像担持体を有していると共に、これらの像担持体に対置された転写ベルトとを有する画像形成装置において、各像担持体に形成したテストパターンを正しく検知できるようにする。 - 特許庁

It is inspected whether an image processing block 11 as an internal circuit of an image processing means 3 has errors or not by a test pattern generation block 10 provided in the first stage of a data path block of an image signal in the image processing means 3 and a CRC determination processing block 12 provided in the last stage of the data path block.例文帳に追加

映像処理手段３における映像信号のデータパスブロックの最初に備えられたテストパターン発生ブロック１０と、データパスブロックの最終段に備えられたＣＲＣ判定処理ブロック１２とにより、映像処理手段３の内部回路である画像処理ブロック１１の誤りの有無が検査される。 - 特許庁

The skew amount of the paper conveyed to the secondary transfer part, the deviation of a lead registration and the deviation of a side registration are obtained from the read result of the test pattern, and the attaching position, the driving timing and the driving speed or the like of various component members in the posture correction part 60 and the resist roll 61 are adjusted in accordance with the obtained deviation.例文帳に追加

また、テストパターンの読み取り結果から二次転写部に搬送されてくる用紙のスキュー量、リードレジのずれ量、サイドレジのずれ量を求め、これらのずれに応じて姿勢補正部６０やレジストロール６１における各種構成部材の取付位置、駆動タイミング、駆動速度等を調整する。 - 特許庁

The failure simulation execution means reads out a net list of semiconductor integrated circuits to be tested from a net list storage section and forms a failure list, performs failure setting on the basis of this failure list, executes failure simulation through the use of a predetermined test pattern, and forms an undetected failure list composed of a list of failures undetected by the failure simulation.例文帳に追加

故障シミュレーション実行手段は、テストする半導体集積回路のネットリストをネットリスト記憶部から読出して故障リストを生成し、この故障リストに基づいて故障設定を行い、所定のテストパターンを用いて故障シミュレーションを実行し、故障シミュレーションで未検出の故障のリストからなる未検出故障リストを生成する。 - 特許庁

This device includes a DC restoring logical circuit 10 for receiving AC combining signals 6, 36 corresponding to an EXTEST test and pattern outputted from transmission integrated circuit (IC) 1, 31 meeting JTAG, and converting the same into DC signals suitable for utilizing JTAG logical circuits 4, 34 of receiving integrated circuits IC 2, 32 meeting JTAG.例文帳に追加

ＪＴＡＧに準拠した送信集積回路（ＩＣ）（１、３１）から出力されるＥＸＴＥＳＴテスト・パターンに対応するＡＣ結合信号（６、３６）を受信して、ＪＴＡＧに準拠した受信ＩＣ（２、３２）のＪＴＡＧ論理回路（４、３４）による利用に適したＤＣ信号に変換する直流（ＤＣ）復元論理回路（１０）を含む。 - 特許庁